10Gbase-T總線測(cè)量為例做簡單介紹,。

10Gbase-T總線的測(cè)量需要按照?qǐng)D7-128來連接各種儀器和測(cè)試夾具,。

10Gbase-T的輸岀跌落/定時(shí)抖動(dòng)/時(shí)鐘頻率要求用實(shí)時(shí)示波器測(cè)試；線性度/功率譜密度 PSD/功率電平要求用頻譜分析儀測(cè)試,；回波損耗要求用網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試,。

需要自動(dòng)化測(cè)試軟件進(jìn)行各種參數(shù)測(cè)試,，一般這個(gè)軟件直接裝在示波器內(nèi)置的計(jì)算機(jī)里。 沒有自動(dòng)測(cè)試軟件,，測(cè)試是異常困難和耗時(shí)的工作,。

測(cè)試夾具是測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分，測(cè)試儀器公司或一些專業(yè)的公司會(huì)提供工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 總線所用的測(cè)試夾具,。當(dāng)然也可以自己設(shè)計(jì),，自己設(shè)計(jì)時(shí)主要關(guān)注阻抗匹配,、損耗、串?dāng)_等 電氣參數(shù),，以及機(jī)械連接方面的連接可靠性和可重復(fù)性等可操作性功能,。 4代DDR之間有什么區(qū)別？陜西DDR一致性測(cè)試聯(lián)系人

DDR的信號(hào)仿真驗(yàn)證

由于DDR芯片都是采用BGA封裝,，密度很高,，且分叉、反射非常嚴(yán)重,，因此前期的仿 真是非常必要的,。借助仿真軟件中專門針對(duì)DDR的仿真模型庫仿真出的通道損 耗以及信號(hào)波形。

仿真出信號(hào)波形以后,，許多用戶需要快速驗(yàn)證仿真出來的波形是否符合DDR相關(guān)規(guī) 范要求。這時(shí),，可以把軟件仿真出的DDR的時(shí)域波形導(dǎo)入到示波器中的DDR測(cè)試軟件中 ,并生成相應(yīng)的一致性測(cè)試報(bào)告,，這樣可以保證仿真和測(cè)試分析方法的一致，并且 便于在仿真階段就發(fā)現(xiàn)可能的信號(hào)違規(guī) 河南DDR一致性測(cè)試檢查什么是DDR DDR2 DDR3 DDR4 DDR5;

為了針對(duì)復(fù)雜信號(hào)進(jìn)行更有效的讀/寫信號(hào)分離,，現(xiàn)代的示波器還提供了很多高級(jí)的信號(hào) 分離功能,，在DDR測(cè)試中常用的有圖形區(qū)域觸發(fā)的方法和基于建立/保持時(shí)間的觸發(fā)方法。

圖形區(qū)域觸發(fā)是指可以用屏幕上的特定區(qū)域(Zone)定義信號(hào)觸發(fā)條件,。用 區(qū)域觸發(fā)功能對(duì)DDR的讀/寫信號(hào)分離的 一 個(gè)例子,。用鎖存信號(hào)DQS信號(hào)觸發(fā)可以看到 兩種明顯不同的DQS波形， 一 種是讀時(shí)序的DQS波形,，另 一 種是寫信號(hào)的DQS波形,。打 開區(qū)域觸發(fā)功能后，通過在屏幕上的不同區(qū)域畫不同的方框,，就可以把感興趣區(qū)域的DQS 波形保留下來,，與之對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線DQ上的波形也就保留下來了。

DDR總線一致性測(cè)試

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線一致性測(cè)量概述

高速數(shù)字系統(tǒng)使用了各種工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線,，對(duì)這些工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線進(jìn)行規(guī)范一致性測(cè)量是確 保系統(tǒng)工作穩(wěn)定和可靠的關(guān)鍵點(diǎn)之一,。“一致性”是對(duì)英文單詞“Compliance”的中文解釋,， 美國把按工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范進(jìn)行的電氣參數(shù)測(cè)量叫作一致性測(cè)量,。

測(cè)試這些工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線，完整和可靠的測(cè)試方案是非常重要的,。完整的測(cè)試方案不僅保證測(cè)試準(zhǔn)確度,，還可以大量節(jié)省測(cè)試時(shí)間，提高工作效率,。

工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)總線完整的測(cè)試方案一般包括幾部分：測(cè)試夾具,；探頭和附件,；自動(dòng)測(cè)試軟件;測(cè)試儀器。 DDR5 一致性測(cè)試應(yīng)用軟件,。

在實(shí)際探測(cè)時(shí),，對(duì)于DDR的CLK和DQS,由于通常是差分的信號(hào)(DDR1和DDR2的 DQS還是單端信號(hào)，DDR3以后的DQS就是差分的了),所以 一般用差分探頭測(cè)試,。DQ信 號(hào)是單端信號(hào),，所以用差分或者單端探頭測(cè)試都可以。另外,，DQ信號(hào)的數(shù)量很多,，雖然逐 個(gè)測(cè)試是嚴(yán)格的方法，但花費(fèi)時(shí)間較多,，所以有時(shí)用戶會(huì)選擇一些有代表性的信號(hào)進(jìn)行測(cè) 試,，比如選擇走線長度長、短,、中間長度的DQ信號(hào)進(jìn)行測(cè)試,。

還有些用戶想在溫箱里對(duì)DDR信號(hào)質(zhì)量進(jìn)行測(cè)試，比如希望的環(huán)境溫度變化范圍為-40～85℃,這對(duì)于使用的示波器探頭也是個(gè)挑戰(zhàn),。 一般示波器的探頭都只能在室溫下工 作,，在極端的溫度條件下探頭可能會(huì)被損壞。如果要在溫箱里對(duì)信號(hào)進(jìn)行測(cè)試,，需要選擇一 些特殊的能承受高溫的探頭,。比如一些特殊的差分探頭通過延長電纜可以在-55～150℃ 的溫度范圍提供12GHz的測(cè)量帶寬；還有一些寬溫度范圍的單端有源探頭,，可以在-40~ 85℃的溫度范圍內(nèi)提供1.5GHz的測(cè)量帶寬,。 DDR測(cè)試信號(hào)問題排查；河南DDR一致性測(cè)試檢查

DDR 設(shè)計(jì)可分為四個(gè)方面：仿真,、互連設(shè)計(jì),、有源信號(hào)驗(yàn)證和功能測(cè)試。陜西DDR一致性測(cè)試聯(lián)系人

(2)根據(jù)讀/寫信號(hào)的幅度不同進(jìn)行分離,。如果PCB走線長度比較 長,，在不同位置測(cè)試時(shí)可能讀/寫信號(hào)的幅度不太一樣，可以基于幅度進(jìn)行觸發(fā)分離,。但是 這種方法對(duì)于走線長度不長或者讀/寫信號(hào)幅度差別不大的場(chǎng)合不太適用,。

(3)根據(jù)RAS、CAS,、CS,、WE等控制信號(hào)進(jìn)行分離。這種方法使用控制信號(hào)的讀/寫  來判決當(dāng)前的讀寫指令，是可靠的方法,。但是由于要同時(shí)連接多個(gè)控制信號(hào)以及Clk,、 DQS、DQ等信號(hào),，要求示波器的通道數(shù)多于4個(gè),，只有帶數(shù)字通道的混合信號(hào)示波器才能  滿足要求，而且數(shù)字通道的采樣率也要比較高,。圖5.11是用帶高速數(shù)字通道的示波器觸發(fā)  并采集到的DDR信號(hào)波形,。 陜西DDR一致性測(cè)試聯(lián)系人