通常測(cè)量眼圖很有效的一種方法就是使用示波器的眼圖測(cè)量功能,，即用時(shí)鐘做觸發(fā)對(duì)數(shù) 據(jù)信號(hào)進(jìn)行累積,，看累積結(jié)果的差情況是否在可以容許的范圍內(nèi)。但遺憾的是,，想用這種 方法直接測(cè)量DDR的信號(hào)質(zhì)量非常困難,，因?yàn)镈DR信號(hào)讀寫時(shí)序是不一樣的,。

可以看到，寫數(shù)據(jù)(DQ)的跳變位置對(duì)應(yīng)著鎖存信號(hào)(DQS)的中心,，而 讀數(shù)據(jù)的跳變位置卻對(duì)應(yīng)著鎖存信號(hào)的邊沿,，而且在總線上還有三態(tài)，因此如果直接用DQS 觸發(fā)對(duì)DQ累積進(jìn)行眼圖測(cè)量的話,，會(huì)得到的結(jié)果,。 DDR眼圖讀寫分離的傳統(tǒng)方法。江西DDR一致性測(cè)試一致性測(cè)試

在進(jìn)行接收容限測(cè)試時(shí),，需要用到多通道的誤碼儀產(chǎn)生帶壓力的DQ,、DQS等信號(hào)。測(cè) 試 中 被 測(cè) 件 工 作 在 環(huán) 回 模 式 ,， D Q 引 腳 接 收 的 數(shù) 據(jù) 經(jīng) 被 測(cè) 件 轉(zhuǎn) 發(fā) 并 通 過 L B D 引 腳 輸 出 到 誤碼儀的誤碼檢測(cè)端口,。在測(cè)試前需要用示波器對(duì)誤碼儀輸出的信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn)，如DQS與 DQ的時(shí)延校準(zhǔn),、信號(hào)幅度校準(zhǔn),、DCD與RJ抖動(dòng)校準(zhǔn)、壓力眼校準(zhǔn),、均衡校準(zhǔn)等,。圖5.21 展示了一整套DDR5接收端容限測(cè)試的環(huán)境。

DDR4/5的協(xié)議測(cè)試

除了信號(hào)質(zhì)量測(cè)試以外,，有些用戶還會(huì)關(guān)心DDR總線上真實(shí)讀/寫的數(shù)據(jù)是否正確,， 以及總線上是否有協(xié)議的違規(guī)等，這時(shí)就需要進(jìn)行相關(guān)的協(xié)議測(cè)試,。DDR的總線寬度很  寬,，即使數(shù)據(jù)線只有16位，加上地址,、時(shí)鐘,、控制信號(hào)等也有30多根線，更寬位數(shù)的總線甚  至?xí)玫缴习俑€,。為了能夠?qū)@么多根線上的數(shù)據(jù)進(jìn)行同時(shí)捕獲并進(jìn)行協(xié)議分析，適  合的工具就是邏輯分析儀,。DDR協(xié)議測(cè)試的基本方法是通過相應(yīng)的探頭把被測(cè)信號(hào)引到  邏輯分析儀,，在邏輯分析儀中運(yùn)行解碼軟件進(jìn)行協(xié)議驗(yàn)證和分析。 USB測(cè)試DDR一致性測(cè)試方案DDR4 和 LPDDR4 發(fā)射機(jī)一致性測(cè)試應(yīng)用軟件的技術(shù)指標(biāo),。

測(cè)試軟件運(yùn)行后,，示波器會(huì)自動(dòng)設(shè)置時(shí)基、垂直增益,、觸發(fā)等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量并匯總成一 個(gè)測(cè)試報(bào)告,，測(cè)試報(bào)告中列出了測(cè)試的項(xiàng)目,、是否通過、spec的要求,、實(shí)測(cè)值,、margin等。 自動(dòng)測(cè)試軟件進(jìn)行DDR4眼圖睜開度測(cè)量的一個(gè)例子,。信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試還可以  輔 助 用 戶 進(jìn) 行 內(nèi) 存 參 數(shù) 的 配 置 ,， 比 如 高 速 的 D D R 芯 片 都 提 供 有 O D T ( O n D i e Termination)的功能，用戶可以通過軟件配置改變內(nèi)存芯片中的匹配電阻,，并分析對(duì)信號(hào)質(zhì) 量的影響,。

除了一致性測(cè)試以外，DDR測(cè)試軟件還可以支持調(diào)試功能,。比如在某個(gè)關(guān)鍵參數(shù)測(cè)試 失敗后,，可以針對(duì)這個(gè)參數(shù)進(jìn)行Debug。此時(shí),，測(cè)試軟件會(huì)捕獲,、存儲(chǔ)一段時(shí)間的波形并進(jìn) 行參數(shù)統(tǒng)計(jì)，根據(jù)統(tǒng)計(jì)結(jié)果可以查找到參數(shù)違規(guī)時(shí)對(duì)應(yīng)的波形位置,，

DDR地址,、命令總線的一致性測(cè)試

DDR的地址、命令總線的信號(hào)完整性測(cè)試主要測(cè)試其波形和時(shí)序參數(shù),。地址總線An,、 命令總線/RAS、/CAS,、/WE,、/CS需要測(cè)試的信號(hào)品質(zhì)主要包括：Vmax （最大電壓值）；Vmin （小電壓值）,；Overshoot （過沖）和Undershoot （下沖）的持續(xù)時(shí)間的大值,；Slew Rate （斜率）；Ringback （回溝）等,。還需要測(cè)試相對(duì)于時(shí)鐘邊沿的Setup Time （建立時(shí)間）和Hold Time （保持時(shí)間）,。建立時(shí)間和保持時(shí)間的定義如圖7.134所示，其中加為建立時(shí)間,，如為 保持時(shí)間,，針對(duì)DDR400,加和如為0.7ns。

82496 DDR信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法,、測(cè)試裝置與測(cè)試設(shè)備與流程,；

為了針對(duì)復(fù)雜信號(hào)進(jìn)行更有效的讀/寫信號(hào)分離，現(xiàn)代的示波器還提供了很多高級(jí)的信號(hào) 分離功能，在DDR測(cè)試中常用的有圖形區(qū)域觸發(fā)的方法和基于建立/保持時(shí)間的觸發(fā)方法,。

圖形區(qū)域觸發(fā)是指可以用屏幕上的特定區(qū)域(Zone)定義信號(hào)觸發(fā)條件,。用 區(qū)域觸發(fā)功能對(duì)DDR的讀/寫信號(hào)分離的 一 個(gè)例子。用鎖存信號(hào)DQS信號(hào)觸發(fā)可以看到 兩種明顯不同的DQS波形,， 一 種是讀時(shí)序的DQS波形,，另 一 種是寫信號(hào)的DQS波形。打 開區(qū)域觸發(fā)功能后,，通過在屏幕上的不同區(qū)域畫不同的方框,，就可以把感興趣區(qū)域的DQS 波形保留下來，與之對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線DQ上的波形也就保留下來了,。 DDR,、DDR2、DDR3 和 DDR4 設(shè)計(jì)與測(cè)試解決方案,；USB測(cè)試DDR一致性測(cè)試方案

DDR4 和 LPDDR4 合規(guī)性測(cè)試軟件,。江西DDR一致性測(cè)試一致性測(cè)試

以上只是 一 些進(jìn)行DDR讀/寫信號(hào)分離的常用方法，根據(jù)不同的信號(hào)情況可以做選 擇,。對(duì)于DDR信號(hào)的 一 致性測(cè)試來說,，用戶還可以選擇另外的方法，比如根據(jù)建立/保持 時(shí)間的不同進(jìn)行分離或者基于CA信號(hào)突發(fā)時(shí)延的方法(CA高接下來對(duì)應(yīng)讀操作,，CA低 接下來對(duì)應(yīng)寫操作)等,，甚至未來有可能采用一些機(jī)器學(xué)習(xí)(Machine Learning)的方法對(duì) 讀/寫信號(hào)進(jìn)行判別。讀時(shí)序和寫時(shí)序波形分離出來以后,，就可以方便地進(jìn)行波形參數(shù)或者 眼圖模板的測(cè)量,。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室 江西DDR一致性測(cè)試一致性測(cè)試