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成都12英寸大尺寸半導(dǎo)體晶圓

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-04-27

    術(shù)語(yǔ)“安裝”、“相連”,、“連接”,、“固定”等術(shù)語(yǔ)應(yīng)做廣義理解,例如,,可以是固定連接,,也可以是可拆卸連接,或一體地連接,;可以是機(jī)械連接,,也可以是電連接;可以是直接相連,,也可以通過(guò)中間媒介間接相連,,可以是兩個(gè)元件內(nèi)部的連通。對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言,,可以根據(jù)具體情況理解上述術(shù)語(yǔ)在本發(fā)明中的具體含義,。如圖1所示為一種半導(dǎo)體晶圓表面缺陷的快速檢測(cè)系統(tǒng)圖,,包括入射光源101,耦合物鏡102,,***透鏡103,,***104,第二透鏡105,,***濾光片106,,***偏振片107,柱面鏡108,,第三透鏡109,,***相機(jī)110,第四透鏡111,,第二偏振片112,,第二濾光片113,偏振分光棱鏡114,,平面單晶115,,二向色鏡116,,自聚焦控制系統(tǒng)117,,顯微物鏡118,暗場(chǎng)照明119,,移頻照明120,,樣品121,樣品臺(tái)122,,第二相機(jī)123,,第五透鏡124,第三濾光片125和反射鏡126,。自聚焦模塊通過(guò)閉環(huán)反饋能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品表面的實(shí)時(shí)鎖焦,,樣品臺(tái)通過(guò)機(jī)械控制部件能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)被檢測(cè)晶圓位置的精確掃描移動(dòng)。相機(jī)110用于共焦掃描像的采集,,相機(jī)123用于暗場(chǎng)照明,,pl模式照明和移頻照明遠(yuǎn)場(chǎng)像的采集。如圖2所示為一種實(shí)施實(shí)例示意圖,,包括光源輸入端201,,光源載具202,被檢測(cè)圓形波導(dǎo)203,。晶圓的基本工藝有哪些,?成都12英寸大尺寸半導(dǎo)體晶圓

    τ1是氣泡內(nèi)的溫度上升到高于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔,τ2是氣泡內(nèi)的溫度下降到遠(yuǎn)低于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔,。由于可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩在清洗過(guò)程中具有一定的氣泡內(nèi)爆,,因此,,可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency,顆粒去除效率),,而對(duì)圖案結(jié)構(gòu)造成**小的損傷,。臨界內(nèi)爆溫度是會(huì)導(dǎo)致***個(gè)氣泡內(nèi)爆的氣泡內(nèi)的**低溫度。為了進(jìn)一步提高pre,,需要進(jìn)一步提高氣泡的溫度,,因此需要更長(zhǎng)的時(shí)間τ1。通過(guò)縮短時(shí)間τ2來(lái)提高氣泡的溫度,。超或兆聲波的頻率是控制內(nèi)爆強(qiáng)度的另一個(gè)參數(shù),。可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩是通過(guò)設(shè)置聲波電源在時(shí)間間隔小于τ1內(nèi)頻率為f1,,設(shè)置聲波電源在時(shí)間間隔大于τ2內(nèi)頻率為f2,,重復(fù)上述步驟直到晶圓被清洗干凈,其中,,f2遠(yuǎn)大于f1,,**好是f1的2倍或4倍。通常,,頻率越高,,內(nèi)爆的強(qiáng)度越低。τ1是氣泡內(nèi)的溫度上升到高于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔,,τ2是氣泡內(nèi)的溫度下降到遠(yuǎn)低于臨界內(nèi)爆溫度的時(shí)間間隔,。可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩將提供更高的pre(particleremovalefficiency,,顆粒去除效率),,而對(duì)圖案結(jié)構(gòu)造成**小的損傷。臨界內(nèi)爆溫度是會(huì)導(dǎo)致***個(gè)氣泡內(nèi)爆的氣泡內(nèi)的**低溫度,。為了進(jìn)一步提高pre,,需要進(jìn)一步提高氣泡的溫度。江門(mén)半導(dǎo)體晶圓誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)半導(dǎo)體晶圓市場(chǎng)價(jià)格是多少,?

    并均勻地到達(dá)位于腔室c內(nèi)的半導(dǎo)體晶圓200,。在實(shí)際應(yīng)用中,,半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備100包含多個(gè)微波產(chǎn)生器130。一般而言,,微波產(chǎn)生器130平均地環(huán)繞腔室c分布,,如此一來(lái),微波w可均勻地進(jìn)入腔室c內(nèi),,并均勻地到達(dá)位于腔室c內(nèi)的半導(dǎo)體晶圓200,從而促進(jìn)半導(dǎo)體晶圓200的干燥過(guò)程。舉例而言,,如圖1所示,,至少兩個(gè)微波產(chǎn)生器130平均地分布于殼體120外側(cè),,使其平均地環(huán)繞腔室c分布,。另外,應(yīng)當(dāng)理解的是,,本發(fā)明的殼體120基本上可設(shè)置于產(chǎn)業(yè)中現(xiàn)有的單晶圓濕處理設(shè)備(圖未示)上,。一般而言,,單晶圓濕處理設(shè)備具有旋轉(zhuǎn)基座,其用以承載單一片半導(dǎo)體晶圓,,以于單晶圓濕處理設(shè)備內(nèi)對(duì)半導(dǎo)體晶圓進(jìn)行各種處理。經(jīng)單晶圓濕處理設(shè)備處理后,,半導(dǎo)體晶圓可被留在旋轉(zhuǎn)基座上,并且可將本發(fā)明的殼體120以及設(shè)置于其上的微波產(chǎn)生器130設(shè)置于單晶圓濕處理設(shè)備的旋轉(zhuǎn)基座上,,從而能執(zhí)行前文所述的半導(dǎo)體晶圓干燥過(guò)程,。請(qǐng)參照?qǐng)D2,其為依據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施方式的半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備100的剖視圖,。在本實(shí)施方式中,,如圖2所示,半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備100進(jìn)一步包含旋轉(zhuǎn)器140,。旋轉(zhuǎn)器140連接基座110,,并且被配置成旋轉(zhuǎn)基座110。于半導(dǎo)體晶圓干燥設(shè)備100對(duì)半導(dǎo)體晶圓200執(zhí)行干燥處理的期間。

    就能更快的解決流程中的問(wèn)題,,從而減少停機(jī)時(shí)間同時(shí)提高產(chǎn)量,。因此,,檢測(cè)行業(yè)**科磊不太可能被后來(lái)者趕上?,F(xiàn)在主流的檢測(cè)方法有兩種,一種是科磊選用的光學(xué)檢測(cè)(占市場(chǎng)90%),還有一種是阿斯麥的電子束檢測(cè)。兩種技術(shù)的主要差別在于速度,。電子檢測(cè)較為直觀,但電子束檢測(cè)比光學(xué)檢測(cè)慢100-1000倍以上,,現(xiàn)階段檢測(cè)效率決定了光學(xué)檢測(cè)方法的***使用,。考察一個(gè)行業(yè)的發(fā)展,,對(duì)其**企業(yè)的研究是必不可少的。晶圓檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域,,科磊是當(dāng)之無(wú)愧的**,,其生產(chǎn)的半導(dǎo)體前道晶圓檢測(cè)設(shè)備,,市場(chǎng)占有率52%,,遠(yuǎn)高于第二,、三名的應(yīng)用材料(12%)、日立(11%),形成壟斷局面。國(guó)內(nèi)國(guó)產(chǎn)替代率*有2%,,替代率之低*次于光刻機(jī),。那么是什么導(dǎo)致了這樣的壟斷局面呢?綜合分析,行業(yè)**企業(yè)(科磊)的壁壘主要有以下三個(gè):行業(yè)研發(fā)費(fèi)用大,,研發(fā)壁壘高,,跨賽道之間的技術(shù)難突破,**終形成了技術(shù)壟斷大幅**的市場(chǎng)占有率市場(chǎng)占有率高的企業(yè)憑借龐大的客戶(hù)群體得到了大量的缺陷數(shù)據(jù)庫(kù),,隨著數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)越多,,其檢測(cè)設(shè)備的檢測(cè)準(zhǔn)確率就越高,后來(lái)者就越不可能撼動(dòng)其市場(chǎng)地位,。進(jìn)而對(duì)于晶圓檢測(cè)領(lǐng)域的非**企業(yè),,在現(xiàn)有賽道上難以超車(chē)之時(shí),技術(shù)**才是***的出路,。國(guó)外哪個(gè)國(guó)家的半導(dǎo)體晶圓產(chǎn)品好,?

    圖7d揭示了根據(jù)本發(fā)明的***個(gè)實(shí)施例的避免氣泡內(nèi)爆的詳細(xì)工藝步驟。工藝步驟從步驟7010開(kāi)始,,在步驟7010中,,將超聲波或兆聲波裝置置于晶圓的上表面附近。在步驟7020中,,將清洗液,,可以是化學(xué)液或摻了氣體的水噴射到晶圓表面以填滿(mǎn)晶圓和聲波裝置之間的間隙。在步驟7030中,,卡盤(pán)攜帶晶圓開(kāi)始旋轉(zhuǎn)或振動(dòng),。在步驟7040中,頻率為f1,,功率水平為p1的電源被應(yīng)用于聲波裝置,。在步驟7050中,在氣泡內(nèi)的氣體或蒸汽的溫度達(dá)到內(nèi)爆溫度ti之前,,或在時(shí)間τ1達(dá)到通過(guò)方程式(11)所計(jì)算出的τi之前,,設(shè)置電源輸出為0,因此,,由于清洗液的溫度遠(yuǎn)低于氣體溫度,,氣泡內(nèi)的氣體和/或蒸汽溫度開(kāi)始冷卻。在步驟7060中,,當(dāng)氣泡內(nèi)氣體或蒸汽的溫度降低至室溫t0或時(shí)間達(dá)到τ2(在τ2時(shí)間段內(nèi),,設(shè)置電源輸出為0)后,電源輸出恢復(fù)到頻率為f1,,功率水平為p1,。在步驟7070中,檢查晶圓的清潔度,,如果晶圓尚未清潔到所需程度,,則重復(fù)步驟7010-7060,。或者,,可能不需要在每個(gè)周期內(nèi)檢查清潔度,,取而代之的是,使用的周期數(shù)可能是預(yù)先用樣品晶圓通過(guò)經(jīng)驗(yàn)確定,。參考圖7d所示,,在步驟7050中,為了避免氣泡內(nèi)爆,,時(shí)間段τ1必須比時(shí)間段τi短,,可以通過(guò)公式(11)計(jì)算出τi。在步驟7060中,。中硅半導(dǎo)體半導(dǎo)體晶圓現(xiàn)貨供應(yīng),。東莞半導(dǎo)體晶圓推薦咨詢(xún)

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    請(qǐng)參考圖10a所示,,其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)1000的剖面示意圖,。和圖9所示的實(shí)施例不同之處,在于該結(jié)構(gòu)1000包含了金屬層1010與樹(shù)酯層1040,。為了減薄在邊框結(jié)構(gòu)與內(nèi)框結(jié)構(gòu)之間的金屬層810,,可以在上述區(qū)域中使用較厚的樹(shù)酯層1040來(lái)替換掉金屬層1010的金屬。和圖9所示的結(jié)構(gòu)900相比,,該金屬層1010的第四表面1014與該晶圓層820的***表面821的**短距離,,要小于該金屬層810的第四表面與該晶圓層820的***表面的**短距離。由于該結(jié)構(gòu)1000的金屬層1010的大部分比該結(jié)構(gòu)900的金屬層810的大部分較薄,,因此可以節(jié)省金屬本身的成本,,也可以節(jié)省制作該金屬層810的步驟的成本。請(qǐng)參考圖10b所示,,其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)1000的剖面示意圖,。圖10b所示的實(shí)施例是圖10a所示實(shí)施例的一種變形。和圖10a的金屬層1010相比,,圖10b所示實(shí)施例的金屬層1010比較厚,。圖10b所示實(shí)施例的其余特征均與圖10a所示實(shí)施例相同。請(qǐng)參考圖11a所示,,其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)的剖面1100的一示意圖,。該結(jié)構(gòu)的剖面1100可以是圖8a所示結(jié)構(gòu)800的cc線剖面,也可以是圖9所示結(jié)構(gòu)900的cc線剖面,,還可以是圖10b所示結(jié)構(gòu)1000的dd線剖面,。為了方便說(shuō)明起見(jiàn)。成都12英寸大尺寸半導(dǎo)體晶圓

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