金屬層310可以代換為金屬層510,。圖6所示剖面600的**是晶圓層320,。該結(jié)構(gòu)300所形成的芯片可以是矩形,,也可以是正方形,。在該晶圓層320的中間是該金屬層310。該金屬層310的上下軸長度611與左右軸長度612可以是相同,,也可以不同,。當兩者相同時,該金屬層310的剖面是正方形,。該金屬層310剖面與該晶圓層320外緣之間,,是該晶圓層320用于包圍該金屬層310的四個邊框。該四個邊框的厚度可以相同,,也可以不同。舉例來說,,相對于上下外緣的厚度621與623可以相同,,相對于左右外緣的厚度622與624可以相同。但厚度621與622可以不同,。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以透過圖6理解到,,本申請并不限定該晶圓層320外緣的形狀。換言之,,本申請不限定該芯片的形狀,。本申請也不限定該金屬層310的形狀。除此之外,,當該晶圓層320與該金屬層310都是矩形時,,本申請也不限定該晶圓層320用于包圍該金屬層310的四個邊框的厚度。在一實施例當中,,這四個邊框的厚度621~624可以相同,,以簡化設(shè)計與制作的問題。在另一實施例當中,,這四個邊框當中兩組邊框的厚度可以相同,,以簡化設(shè)計與制作的問題。在更一實施例當中,,這四個邊框的厚度621~624可以完全不同,,以便適應芯片設(shè)計的需要。請參考圖7所示,。浙江12英寸半導體晶圓代工,。汕頭半導體晶圓誠信互利
因此晶圓1010須旋轉(zhuǎn)以在整個晶圓1010上接收均勻的聲波能量,。雖然在圖1a及圖1b中*示意了一個聲波裝置1003,但是在其他實施例中,,也可以同時或間歇使用兩個或多個聲波裝置,。同理,也可以使用兩個或多個噴頭1012以更均勻的輸送清洗液1032,。參考圖2a至圖2g所示的不同形狀的超聲波或兆聲波換能器,。圖2a示意了三角形或餅形的傳感器;圖2b示意了矩形的傳感器,;圖2c示意了八邊形的傳感器,;圖2d示意了橢圓形的傳感器;圖2e示意了半圓形的傳感器,;圖2f示意了1/4圓形的傳感器,;圖2g示意了圓形的傳感器。這些形狀中的每一個聲波換能器可以用于代替圖1所示的聲波裝置1003中的壓電式傳感器1004,。參考圖3揭示了在晶圓清洗過程中的氣泡內(nèi)爆,。當聲能作用于氣泡3012上時,氣泡3012的形狀逐漸從球形a壓縮至蘋果形g,。**終氣泡3012到達內(nèi)爆狀態(tài)i并形成微噴射,。如圖4a至圖4b所示,微噴射很猛烈(可達到上千個大氣壓和上千攝氏度),,會損傷晶圓4010上的精細圖案結(jié)構(gòu)4034,,尤其是當特征尺寸t縮小到70nm或更小時。圖4a至圖4b揭示了在晶圓清洗過程中不穩(wěn)定的氣穴振蕩損傷晶圓上的圖案結(jié)構(gòu),。參考圖4a所示,,由于聲波空化在半導體晶圓4010的圖案結(jié)構(gòu)4034上方形成氣泡4040,4042,4044,。江門半導體晶圓銷售價格開封怎么樣半導體晶圓?
在清洗過程中晶圓24010浸沒在清洗液24070中,。在上述實施例中,在晶圓清洗工藝中,,如果聲波電源的所有關(guān)鍵工藝參數(shù),,例如功率水平、頻率,、通電時間(τ1),、斷電時間(τ2)都預設(shè)在電源控制器中,而不是實時監(jiān)測,,在晶圓清洗過程中,,由于一些異常情況,仍然可能發(fā)生圖案結(jié)構(gòu)損傷。因此,,需要一種實時監(jiān)測聲波電源工作狀態(tài)的裝置和方法,,如果參數(shù)不在正常范圍,則聲波電源應該關(guān)閉且需要發(fā)出警報信號并報告,。圖25揭示了本發(fā)明的一實施例的使用超聲波或兆聲波清洗晶圓過程中監(jiān)測聲波電源運行參數(shù)的控制系統(tǒng),。該控制系統(tǒng)包括主機25080、聲波發(fā)生器25082,、聲波換能器1003,、檢測電路25086和通信電纜25088。主機25080發(fā)送聲波的參數(shù)設(shè)定值到聲波發(fā)生器25082,,例如功率設(shè)定值p1,、通電時間設(shè)定值τ1、功率設(shè)定值p2,、斷電時間設(shè)定值τ2,、頻率設(shè)定值和控制指令,例如電源開啟指令,。聲波發(fā)生器25082在接收到上述指令后產(chǎn)生聲波波形,,并發(fā)送聲波波形到聲波換能器1003來清洗晶圓1010。同時,,主機25080發(fā)送的參數(shù)設(shè)定值和聲波發(fā)生器25082的輸出值被檢測電路25086讀取,。檢測電路25086將聲波發(fā)生器25082的輸出值和主機25080發(fā)送的參數(shù)設(shè)定值進行比較后。
圖11b為根據(jù)本申請一實施例的半導體基板的結(jié)構(gòu)的剖面的一示意圖,。圖12為根據(jù)本申請一實施例的半導體基板的結(jié)構(gòu)的剖面的一示意圖,。圖13為根據(jù)本申請一實施例的晶圓的一示意圖,。圖14為根據(jù)本申請另一實施例的晶圓的一示意圖,。圖15為根據(jù)本申請一實施例的晶圓制作方法的前列程示意圖。圖16a~16j為根據(jù)本申請實施例的晶圓制作過程的各階段的剖面示意圖,。具體實施方式本發(fā)明將詳細描述一些實施例如下,。然而,除了所揭露的實施例外,,本發(fā)明的范圍并不受該些實施例的限定,,是以其后的申請專利范圍為準。而為了提供更清楚的描述及使該項技藝的普通人員能理解本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容,,圖示內(nèi)各部分并沒有依照其相對的尺寸進行繪圖,,某些尺寸或其他相關(guān)尺度的比例可能被凸顯出來而顯得夸張,且不相關(guān)的細節(jié)部分并沒有完全繪出,,以求圖示的簡潔,。請參考圖1所示,其為現(xiàn)有半導體基板的結(jié)構(gòu)100的一剖面示意圖。在該結(jié)構(gòu)100當中,,依序包含一金屬層110,、一晶圓層120與一半導體組件層130。晶圓層120夾在該金屬層110與半導體組件層130之間,。在圖1當中,,該半導體組件層130可以包含垂直型設(shè)計的半導體元器件,例如包含至少一個金氧半導體場效晶體管器件(mosfet,。什么才可以稱為半導體晶圓,?
目的是使得氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽的溫度降至接近室溫t0。圖12a-12b揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的聲波晶圓清洗工藝,。本實施例的聲波晶圓清洗工藝與圖10a-10c所示的實施例的差異*在步驟10050,。在本實施例的聲波晶圓清洗工藝中,在時間段τ2內(nèi),,電源的頻率增至f2,,功率水平p2基本上等于功率水平p1。圖13a-13b揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的聲波晶圓清洗工藝,。本實施例的聲波晶圓清洗工藝與圖10a-10c所示的實施例的差異*在步驟10050,。在本實施例的聲波晶圓清洗工藝中,在時間段τ2內(nèi),,電源的頻率增至f2,,功率水平從p1降至p2。圖14a-14b揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例的聲波晶圓清洗工藝,。本實施例的聲波晶圓清洗工藝與圖10a-10c所示的實施例的差異*在步驟10050,。在本實施例的聲波晶圓清洗工藝中,在時間段τ2內(nèi),,電源的頻率從f1增至f2,,功率水平從p1增至p2。由于頻率f2高于頻率f1,,因此,,聲波能量對氣泡的加熱不那么強烈,功率水平p2可略高于功率水平p1,,但是不能太高,,以確保在時間段τ2內(nèi),氣泡內(nèi)氣體和/或蒸汽的溫度降低,,如圖14b所示,。圖15a至圖15c揭示了在聲波清洗晶圓的過程中,穩(wěn)定的氣穴振蕩損傷晶圓上的圖案結(jié)構(gòu),。參考圖15a所示,。國內(nèi)半導體晶圓廠家哪家好,?北京半導體晶圓廠家現(xiàn)貨
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13)v3=v2-△v=v1+δv-△v=v0-△v+δv-△v=v0+δv-2△v(14)其中,,△v是由超/兆聲波產(chǎn)生的正壓使氣泡壓縮一次后氣泡的體積減量,,δv是由超/兆聲波產(chǎn)生的負壓使氣泡膨脹一次后氣泡的體積增量,(δv-△v)是一個周期后由方程式(5)計算出的溫度增量(△t-δt)導致的體積增量,。氣穴振蕩的第二個周期完成后,,在溫度的持續(xù)增長過程中,氣泡的尺寸達到更大,。氣泡內(nèi)的氣體和/或蒸汽的體積v4為:v4=v3+δv=v0+δv-2△v+δv=v0+2(δv-△v)(15)第三次壓縮后,,氣泡內(nèi)的氣體和/或蒸汽的體積v5為:v5=v4-△v=v0+2(δv-△v)-△v=v0+2δv-3△v(16)同理,當氣穴振蕩的第n個周期達到**小氣泡尺寸時,,氣泡內(nèi)的氣體和/或蒸汽的體積v2n-1為:v2n-1=v0+(n-1)δv-n△v=v0+(n-1)δv-n△v(17)當氣穴振蕩的第n個周期完成后,,氣泡內(nèi)的氣體和/或蒸汽的體積v2n為:v2n=v0+n(δv-△v)(18)為了將氣泡的體積限制在所需體積vi內(nèi),該所需體積vi是具有足夠物理活動的尺寸或者是氣泡狀態(tài)低于氣穴振蕩或氣泡密度的飽和點,,而不會阻塞通孔,、槽或其他凹進區(qū)域內(nèi)的清洗液交換路徑。周期數(shù)ni可以表示為:ni=(vi–v0-△v)/(δv-△v)+1(19)根據(jù)公式(19),,達到vi所需的時間τi可以表示為:τi=nit1=t1(,。汕頭半導體晶圓誠信互利
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