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重慶半導(dǎo)體晶圓多大

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-07-27

    半導(dǎo)體制造領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解到,,本申請(qǐng)并不限定是哪一種環(huán)氧樹酯。該樹酯層440可以用于保護(hù)該結(jié)構(gòu)400的金屬層310,,并且降低物理應(yīng)力與熱應(yīng)力的影響,,進(jìn)而保護(hù)器件。該樹酯層440包含彼此相對(duì)的一第五表面445與一第六表面446,,該第五表面445與該金屬層310的第四表面314彼此相接或相貼,。因此,該第五表面445與該第四表面314的形狀彼此相應(yīng),。在一實(shí)施例當(dāng)中,,該樹酯層440的該第五表面445與該第六表面446的距離可以介于50~200um之間。在圖3與圖4的實(shí)施例當(dāng)中,,在芯片中間的金屬層310比較厚,。由于金屬層310的金屬價(jià)格比樹酯層440的樹酯還要貴,制作較厚金屬層310的步驟也比制作樹酯層440的步驟更貴,。如果在設(shè)計(jì)規(guī)格允許的情況下,,可以制作較薄的金屬層310,以便減少成本,。請(qǐng)參考圖5a所示,,其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)500的剖面示意圖,。和圖4所示的結(jié)構(gòu)400相比,該結(jié)構(gòu)500依序包含了半導(dǎo)體組件層130,、晶圓層320,、金屬層510、和樹酯層540,。圖5a所示的結(jié)構(gòu)500所包含的各組件,,如果符號(hào)與圖4所示的結(jié)構(gòu)400所包含的組件相同者,則可以適用圖4所示實(shí)施例的敘述,。和圖4所示的結(jié)構(gòu)400相比,。洛陽怎么樣半導(dǎo)體晶圓?重慶半導(dǎo)體晶圓多大

    以及波導(dǎo)表面缺陷微結(jié)構(gòu)204。光源輸入端數(shù)量以及方位需根據(jù)被檢測(cè)樣品的尺寸進(jìn)行設(shè)置,。光源載具需要能夠在二維平面內(nèi)進(jìn)行縮放調(diào)控,,滿足不同尺寸樣品的需求。光源載具的設(shè)計(jì)不限于圖中所示圓環(huán)形貌,,也可是**控制的多組結(jié)構(gòu),。如被檢測(cè)波導(dǎo)為多邊形結(jié)構(gòu),需要將輸入光源的排布形貌做出調(diào)整,。如圖3所示為一種實(shí)施實(shí)例示意圖,,包括環(huán)形耦合波導(dǎo)302,環(huán)形波導(dǎo)內(nèi)傳輸光場(chǎng)301,,被檢測(cè)晶圓波導(dǎo)303以及晶圓波導(dǎo)表面缺陷304,。當(dāng)光場(chǎng)在環(huán)形耦合波導(dǎo)內(nèi)傳輸時(shí),環(huán)形波導(dǎo)表面的倏逝場(chǎng)將耦合進(jìn)被檢晶圓波導(dǎo)內(nèi),。如前所述,,不同的環(huán)形耦合波導(dǎo)結(jié)構(gòu)需要根據(jù)被檢測(cè)樣品的尺寸進(jìn)行切換。圖4a是一種暗場(chǎng)照明實(shí)施方案圖,,包括斜照明光源載具401,,斜照明光源輸出端口402,顯微物鏡403,,以及被檢測(cè)晶圓樣品404,。環(huán)形光源輸出端口402被夾持或者固定在載具401上,,輸出光場(chǎng)傾斜入射照明被檢測(cè)晶圓樣品,。圖4b是對(duì)應(yīng)的暗場(chǎng)照明模塊的垂直截面圖。暗場(chǎng)照明也可采用暗場(chǎng)聚光器實(shí)施,。圖5是移頻照明成像原理示意圖,,對(duì)應(yīng)的坐標(biāo)系為頻譜空間域,(0,0)為頻譜域坐標(biāo)原點(diǎn),,(0,kobl.)表示暗場(chǎng)照明沿著x方向入射時(shí)所能提供的移頻量,,(0,keva.)表示倏逝場(chǎng)移頻照明沿著x方向入射時(shí)所能提供的頻移量。洛陽半導(dǎo)體晶圓誠信為本中硅半導(dǎo)體半導(dǎo)體晶圓現(xiàn)貨供應(yīng)。

    圖9a至圖9d揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例的聲波晶圓清洗工藝,。圖10a至圖10c揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例的聲波晶圓清洗工藝,。圖11a至圖11b揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例的聲波晶圓清洗工藝。圖12a至圖12b揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例的聲波晶圓清洗工藝,。圖13a至圖13b揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例的聲波晶圓清洗工藝,。圖14a至圖14b揭示了根據(jù)本發(fā)明的又一個(gè)實(shí)施例的聲波晶圓清洗工藝。圖15a至圖15c揭示了在聲波清洗晶圓過程中穩(wěn)定的氣穴振蕩損傷晶圓的圖案結(jié)構(gòu),。圖15d揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗的流程圖,。圖16a至圖16c揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗工藝。圖17揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的晶圓清洗工藝,。圖18a至圖18j揭示了氣泡氣穴振蕩控制增強(qiáng)新鮮清洗液在晶圓上的通孔或槽內(nèi)的循環(huán),。圖19a至圖19d揭示了對(duì)應(yīng)于聲能的氣泡體積變化。圖20a至圖20d揭示了根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的有效清洗具有高深寬比的通孔或槽的特征的聲波晶圓清洗工藝,。圖21a至圖21c揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的清洗工藝,。圖22a至圖22b揭示了根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的使用聲能清洗晶圓的工藝。

    圖18b是圖18a所示通孔的頂視圖,。圖18c揭示了形成在晶圓18010上的多個(gè)槽18036的剖視圖,。同樣的,槽18036中由聲波能量產(chǎn)生的氣泡18012增強(qiáng)了對(duì)雜質(zhì)的去除,,如殘留物和顆粒,。圖18d是圖18c所示槽18036的頂視圖。飽和點(diǎn)rs被定義為通孔18034,、槽18036或其他凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)可容納的**大氣泡量,。當(dāng)氣泡的數(shù)量超過飽和點(diǎn)rs時(shí),清洗液將受圖案結(jié)構(gòu)內(nèi)的氣泡阻擋且很難到達(dá)通孔18034或槽18036側(cè)壁的底部,,因此,,清洗液的清洗效果會(huì)受到影響。當(dāng)氣泡的數(shù)量低于飽和點(diǎn)時(shí),,清洗液在通孔18034或槽18036內(nèi)有足夠的活動(dòng)路徑,,從而獲得良好的清洗效果。低于飽和點(diǎn)時(shí),,氣泡總體積vb與通孔或槽或其他凹進(jìn)區(qū)域的總體積vvtr的比值r為:r=vb/vvtr當(dāng)處于飽和點(diǎn)rs時(shí),,比值r為:r=vb/vvtr=rs通孔18034,槽18036或其他凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)氣泡總體積為:vb=n*vb其中,,n為通孔,、槽或凹進(jìn)區(qū)域內(nèi)的氣泡總數(shù),vb為單個(gè)氣泡的平均體積,。如圖18e至圖18h所示,,當(dāng)超聲波或兆聲波能量被應(yīng)用于清洗液中時(shí),,氣泡18012的尺寸逐漸膨脹到一定體積,從而導(dǎo)致氣泡總體積vb和通孔,、槽或其他凹進(jìn)區(qū)域的體積vvtr的比值r接近或超過飽和點(diǎn)rs,。膨脹的氣泡18012堵塞了清洗液體交換和***通孔或槽中雜質(zhì)的路徑。在這種情況下,。半導(dǎo)體晶圓信息匯總,。

    在圖8b所示的實(shí)施例當(dāng)中,示出四個(gè)內(nèi)框結(jié)構(gòu),。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以從圖8a與圖8b理解到,,本申請(qǐng)并不限定內(nèi)框結(jié)構(gòu)的數(shù)量、位置,、形狀等配置的參數(shù),。在一實(shí)施例當(dāng)中,如圖8a所示,,在內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822之處,,晶圓層820的厚度與在邊框結(jié)構(gòu)的厚度是相同的。在另一實(shí)施例當(dāng)中,,內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822的厚度與邊框結(jié)構(gòu)的厚度可以是不同的,。舉例來說,在內(nèi)框結(jié)構(gòu)821與822的晶圓層厚度,,可以較在邊框結(jié)構(gòu)的晶圓層厚度來得小,。由于在芯片中間所承受的應(yīng)力與/或熱應(yīng)力可以比在邊緣來得小,因此可以使用較薄的內(nèi)框結(jié)構(gòu)作為補(bǔ)強(qiáng),。一方面降低基板結(jié)構(gòu)的電阻值,,另一方面還能補(bǔ)強(qiáng)基板結(jié)構(gòu)。請(qǐng)參考圖9所示,,其為根據(jù)本申請(qǐng)一實(shí)施例的半導(dǎo)體基板的結(jié)構(gòu)900的一剖面示意圖,。圖9所示的結(jié)構(gòu)900是在圖8所示的結(jié)構(gòu)800之下加入樹酯層440。和圖4所示的結(jié)構(gòu)400一樣,,該樹酯層440可以用于保護(hù)該結(jié)構(gòu)900的金屬層810,,并且降低物理應(yīng)力與熱應(yīng)力的影響,進(jìn)而保護(hù)器件,。在圖8a與圖9的實(shí)施例當(dāng)中,,在芯片中間的金屬層810比較厚。由于金屬層810的金屬價(jià)格比樹酯層440的樹酯還要貴,,制作較厚金屬層810的步驟也比制作樹酯層440的步驟更貴,。如果在設(shè)計(jì)規(guī)格允許的情況下,,可以制作較薄的金屬層810,,以便減少成本,。半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)工藝流程。廣州半導(dǎo)體晶圓誠信合作

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    一些氣泡內(nèi)爆繼續(xù)發(fā)生,,然后,,在時(shí)間段τ2內(nèi),關(guān)閉聲波功率,,氣泡的溫度從tn冷卻至初始溫度t0。ti被確定為通孔和/或槽的圖案結(jié)構(gòu)內(nèi)的氣泡內(nèi)爆的溫度閾值,,該溫度閾值觸發(fā)***個(gè)氣泡內(nèi)爆,。由于熱傳遞在圖案結(jié)構(gòu)內(nèi)是不完全均勻的,溫度達(dá)到ti后,,越來越多的氣泡內(nèi)爆將不斷發(fā)生,。當(dāng)內(nèi)爆溫度t增大時(shí),氣泡內(nèi)爆強(qiáng)度將變的越來越強(qiáng),。然而,,氣泡內(nèi)爆應(yīng)控制在會(huì)導(dǎo)致圖案結(jié)構(gòu)損傷的內(nèi)爆強(qiáng)度以下。通過調(diào)整時(shí)間△τ可以將溫度tn控制在溫度td之下來控制氣泡內(nèi)爆,,其中tn是超/兆聲波對(duì)清洗液連續(xù)作用n個(gè)周期的氣泡**高溫度值,,td是累積一定量的氣泡內(nèi)爆的溫度,該累積一定量的氣泡內(nèi)爆具有導(dǎo)致圖案結(jié)構(gòu)損傷的**度(能量),。在該清洗工藝中,,通過控制***個(gè)氣泡內(nèi)爆開始后的時(shí)間△τ來實(shí)現(xiàn)對(duì)氣泡內(nèi)爆強(qiáng)度的控制,從而達(dá)到所需的清洗性能和效率,,且防止內(nèi)爆強(qiáng)度太高而導(dǎo)致圖案結(jié)構(gòu)損傷,。為了提高顆粒去除效率(pre),在如圖22a至22b所示的超或兆聲波清洗過程中,,需要有可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩,。可控的非穩(wěn)態(tài)的氣穴振蕩是通過設(shè)置聲波電源在時(shí)間間隔小于τ1內(nèi)功率為p1,,設(shè)置聲波電源在時(shí)間間隔大于τ2內(nèi)功率為p2,,重復(fù)上述步驟直到晶圓被清洗干凈,其**率p2等于0或遠(yuǎn)小于功率p1,。重慶半導(dǎo)體晶圓多大

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