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關(guān)于探針：探針實(shí)現(xiàn)同軸到共面波導(dǎo)轉(zhuǎn)換,，探針需要保證一致性和兼容性,，同時(shí)需要嚴(yán)格的控制其阻抗。板手動(dòng)探針臺(tái)在測(cè)試中非常受歡迎,。它是精密和靈活性的獨(dú)特組合,，可實(shí)現(xiàn)PCB的橫板或豎板的測(cè)量，并能擴(kuò)展成雙面PCB板測(cè)試系統(tǒng)，也可以根據(jù)客戶的PCB板尺寸定制可調(diào)式夾具,。搭配相應(yīng)探針座與高精度電源或網(wǎng)絡(luò)分析儀后，能夠輕松實(shí)現(xiàn)FA級(jí)別的直流參數(shù)提取或67G內(nèi)的射頻參數(shù)測(cè)量,。探針臺(tái)可根據(jù)用戶實(shí)驗(yàn),，選配DC、微波或光纖探針臂等,。上海勤確科技有限公司,。某些針尖位置低的扎傷AL層，對(duì)后續(xù)封裝壓焊有影響,。重慶自動(dòng)探針臺(tái)價(jià)格探針臺(tái)將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來(lái),，在進(jìn)入后序工序前予以剔除，極大降低器件的制造成本,。探針...

錸鎢探針的針尖尖部經(jīng)過(guò)特殊工藝加工而成,，針錐精度高,，具有厲害度和彈性模量，產(chǎn)品更耐磨,、更耐腐蝕,，表面光滑無(wú)傷，光潔度可達(dá)到Ra0.25以下,，幾乎為鏡面,。錸鎢探針有不同的針尖類(lèi)型，即不同的尖部形狀,，例如,，針尖帶平臺(tái)，針尖完全尖以及針尖為圓??；探針直徑為0.05-1.2mm，長(zhǎng)度為15-300mm,，尖部為0.08-100μm,。錸鎢探針主要應(yīng)用于半導(dǎo)體、LED,、LCD等行業(yè),，應(yīng)用于探針卡、探針臺(tái),、芯片測(cè)試,、晶圓測(cè)試和LED芯片測(cè)試等領(lǐng)域。上海勤確科技有限公司,。重物的碰撞及堅(jiān)銳器物的劃傷都將對(duì)定子造成損傷,，而影響平面電機(jī)的步進(jìn)精度及使用壽命。陜西溫控探針臺(tái)廠家相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái),，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)...

晶圓測(cè)試基本的一點(diǎn)就是：晶圓測(cè)試必須能夠辨別芯片的好壞,，并使合格芯片繼續(xù)進(jìn)入下面的封裝工藝。為了確保芯片功能和成品率的有效測(cè)試,，封裝廠商和設(shè)備制造者需要不斷探索,，進(jìn)而找到高精度、高效率和低成本的測(cè)試方法,，并運(yùn)用新的組裝工藝要求對(duì)晶圓片進(jìn)行探測(cè),，這些要求將引起設(shè)備和工藝過(guò)程的重大變化。探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng),，半自動(dòng),，全自動(dòng)，從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)（低溫探針臺(tái)）,，RF探針臺(tái),，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái),，表面電阻率探針臺(tái),。探針卡使芯片與封裝后成品管腳焊接質(zhì)量差，容易引起短路,。北京芯片測(cè)試探針臺(tái)哪里有通常,，參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測(cè)器件（DUT），然后測(cè)量該器件對(duì)于...

關(guān)于探針：探針實(shí)現(xiàn)同軸到共面波導(dǎo)轉(zhuǎn)換,，探針需要保證一致性和兼容性，同時(shí)需要嚴(yán)格的控制其阻抗,。板手動(dòng)探針臺(tái)在測(cè)試中非常受歡迎,。它是精密和靈活性的獨(dú)特組合，可實(shí)現(xiàn)PCB的橫板或豎板的測(cè)量,，并能擴(kuò)展成雙面PCB板測(cè)試系統(tǒng),，也可以根據(jù)客戶的PCB板尺寸定制可調(diào)式夾具。搭配相應(yīng)探針座與高精度電源或網(wǎng)絡(luò)分析儀后,，能夠輕松實(shí)現(xiàn)FA級(jí)別的直流參數(shù)提取或67G內(nèi)的射頻參數(shù)測(cè)量,。探針臺(tái)可根據(jù)用戶實(shí)驗(yàn)，選配DC,、微波或光纖探針臂等,。上海勤確科技有限公司。焊針時(shí),，應(yīng)憑自己的經(jīng)驗(yàn),把針尖離壓點(diǎn)中心稍微偏一點(diǎn),。直流探針臺(tái)多少錢(qián)晶圓探針臺(tái)還可以在晶圓劃片線上執(zhí)行任何測(cè)試電路。一些公司從這些劃線測(cè)試結(jié)構(gòu)中獲得大部分有關(guān)器件性...

晶圓探針測(cè)試臺(tái)是半導(dǎo)體工藝線上的中間測(cè)試設(shè)備,，與測(cè)試儀連接后,，能自動(dòng)完成對(duì)集成電路及各種晶體管芯電參數(shù)和功能的測(cè)試。隨著對(duì)高性能,、多功能,、高速度、低功耗,、小型化,、低價(jià)格的電子產(chǎn)品的需求日益增長(zhǎng)，這就要求在一個(gè)芯片中集成更多的功能并進(jìn)一步縮小尺寸,，從而大片徑和高效率測(cè)試將是今后晶圓探針測(cè)試臺(tái)發(fā)展的主要方向,。因此，傳統(tǒng)的手動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和半自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)已經(jīng)不能滿足要求，取而代之的是高速度,，高精度,，高自動(dòng)化，高可靠性的全自動(dòng)晶圓探針測(cè)試臺(tái),。探針卡焊完后使針尖剛好回到壓點(diǎn)中心,同時(shí)針焊好后應(yīng)檢查針尖的位置,，檢查針的牢固性。四川高溫探針臺(tái)哪里有為什么要射頻探測(cè),？由于器件小形化及高頻譜的應(yīng)用,，電路尺寸不斷...

晶圓是制作硅半導(dǎo)體積體電路所用的硅晶片，其原始材料是硅,。高純度的多晶硅溶解后摻入硅晶體晶種,，然后慢慢拉出，形成圓柱形的單晶硅,。硅晶棒在經(jīng)過(guò)研磨,，拋光，切片后,，形成硅晶圓片,，也就是晶圓。半導(dǎo)體工業(yè)對(duì)于晶圓表面缺陷檢測(cè)的要求,，一般是要求高效準(zhǔn)確,，能夠捕捉有效缺陷，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)檢測(cè),。較為普遍的表面檢測(cè)技術(shù)主要可以分為兩大類(lèi)：針接觸法和非接觸法,，接觸法以針觸法為象征；非接觸法又可以分為原子力法和光學(xué)法,。在具體使用時(shí),，又可以分為成像的和非成像的。探針尖接觸電阻即探針尖與焊點(diǎn)之間接觸時(shí)的層間電阻,。遼寧直流探針臺(tái)配件廠家半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中的探測(cè),，可略分為三大類(lèi)：1.參數(shù)探測(cè)：提供制造期間的裝置特性測(cè)量；2.晶圓探...

定子在加工過(guò)程中生產(chǎn)廠家根據(jù)不同的設(shè)計(jì)要求如分辨力等,，用機(jī)加工的方法在一平面的鐵制鑄件上加工出若干個(gè)線槽,，線槽間的距離即稱(chēng)為平面電機(jī)的齒距，而定子則按不同的細(xì)分控制方式,，按編制好的運(yùn)行程序借助于平面定子和動(dòng)子之間的氣墊才能實(shí)現(xiàn)步進(jìn)運(yùn)動(dòng),。對(duì)定子的損傷將直接影響工作臺(tái)的步進(jìn)精度及設(shè)備使用壽命，損壞嚴(yán)重將造成設(shè)備無(wú)法使用而報(bào)廢,。由于平面電機(jī)的定子及動(dòng)子是完全暴露在空氣中,，所以潮濕的環(huán)境及長(zhǎng)時(shí)期保養(yǎng)不當(dāng)將很容易使定子發(fā)生銹蝕現(xiàn)象，另外重物的碰撞及堅(jiān)銳器物的劃傷都將對(duì)定子造成損傷，而影響平面電機(jī)的步進(jìn)精度及使用壽命,，對(duì)于已生銹的定子可以用天然油石輕輕地向一個(gè)方向打磨定子的表面,，然后用脫脂棉球蘸煤油清洗。...

探針臺(tái)工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x,、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng),，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌,。由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高,、摩擦力矩小,，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn),。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3℃,，濕度≤70%,，無(wú)有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠,、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油,，但不可過(guò)多，值得指出的是,，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過(guò)程中，從直線導(dǎo)軌的直線性,，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性,，定位精度等都是用專(zhuān)業(yè)的儀器儀表調(diào)整，用戶一般情況不能輕易改變,，一旦盲目調(diào)整后很難恢復(fù)到原來(lái)的狀態(tài),，所以對(duì)需要調(diào)整的工作臺(tái)應(yīng)有專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)廠家或經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的專(zhuān)業(yè)人員完成。自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以采...

精細(xì)探測(cè)技術(shù)帶來(lái)新優(yōu)勢(shì)：先進(jìn)應(yīng)力控制技術(shù)亦是必須的,。為減少或消除造成良率下降之墊片損傷,，在銅質(zhì)墊片加上鋁帽將能減少對(duì)易碎低K/高K介電的負(fù)面效應(yīng)。以先進(jìn)工藝驅(qū)動(dòng)在有效區(qū)域上墊片的測(cè)試,，以低沖擊的探針卡,，避免接觸所產(chǎn)生阻抗問(wèn)題。另一個(gè)可能損害到晶圓的來(lái)源是探針力道過(guò)猛或不平均,，因此能動(dòng)態(tài)控制探針強(qiáng)度也是很重要的,；若能掌握可移轉(zhuǎn)的參數(shù)及精細(xì)的移動(dòng)控制，即可提升晶圓翻面時(shí)的探測(cè)精確度,，使精細(xì)的Z軸定位接觸控制得到協(xié)調(diào),，以提高精確度，并縮短索引的時(shí)間,。探針卡使用一段時(shí)間后,，由于探針加工及使用過(guò)程中的微小差異導(dǎo)致所有探針不能在同一平面上會(huì)造成。湖北磁場(chǎng)探針臺(tái)服務(wù)探針卡沒(méi)焊好：1．探針卡針焊得不到位；2．...

以往如果需要測(cè)試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能(如電流,、電壓,、阻抗等)或工作狀態(tài)，測(cè)試人員一般會(huì)采用表筆去點(diǎn)測(cè),。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,，對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件，表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無(wú)能為力了,。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,，利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來(lái)，便于其電性測(cè)試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測(cè)試,、分析,。探針臺(tái)執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成.在探針座有X-Y-Z三向調(diào)節(jié)旋鈕，控制固定在針座上的探針桿做三向移動(dòng),，移動(dòng)范圍12mm,，移動(dòng)精度可以達(dá)到0.7微米。這樣可以把探針很好的點(diǎn)到待測(cè)點(diǎn)上(說(shuō)明探針是耗材,，一般客戶自己準(zhǔn)備),，探針探測(cè)到的信號(hào)可以通過(guò)探針桿上的電纜傳輸...

“精確度”是探測(cè)儀器基本的指針，涵蓋定位,、溫度及生產(chǎn)率等三個(gè)層面,。首先，必須能穩(wěn)定,、精確地探測(cè)到小型墊片,，載臺(tái)系統(tǒng)亦須精確、能直接驅(qū)動(dòng)晶圓托盤(pán),，并在晶圓移動(dòng)的過(guò)程中準(zhǔn)確地將晶圓和晶圓對(duì)位,；其次，必須具備動(dòng)態(tài)監(jiān)控機(jī)制,，確保所挾帶的空氣以監(jiān)控溫度,、掌握可靠度和穩(wěn)定性；后,，必須對(duì)高產(chǎn)出的進(jìn)階移動(dòng)做動(dòng)態(tài)控制才能擁有佳的終結(jié)果,。整體而言，針腳和墊片之間的相應(yīng)精確度應(yīng)在±1.5μm之間,。隨著新工藝的微縮,，為了強(qiáng)化更小晶粒定位的精確性，需要?jiǎng)討B(tài)的Z軸輔助校正工作,，以避免無(wú)謂的產(chǎn)出損失,。探針尖接觸電阻即探針尖與焊點(diǎn)之間接觸時(shí)的層間電阻,。芯片探針臺(tái)生產(chǎn)廠家晶圓測(cè)試是在半導(dǎo)體器件制造過(guò)程中執(zhí)行的一個(gè)步驟。在此步驟...

以往如果需要測(cè)試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能(如電流,、電壓,、阻抗等)或工作狀態(tài)，測(cè)試人員一般會(huì)采用表筆去點(diǎn)測(cè),。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,，對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件，表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無(wú)能為力了,。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,，利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來(lái)，便于其電性測(cè)試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測(cè)試,、分析,。探針臺(tái)執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成.在探針座有X-Y-Z三向調(diào)節(jié)旋鈕，控制固定在針座上的探針桿做三向移動(dòng),，移動(dòng)范圍12mm,，移動(dòng)精度可以達(dá)到0.7微米。這樣可以把探針很好的點(diǎn)到待測(cè)點(diǎn)上(說(shuō)明探針是耗材,，一般客戶自己準(zhǔn)備),，探針探測(cè)到的信號(hào)可以通過(guò)探針桿上的電纜傳輸...

滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高,、摩擦力矩小,，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3℃,，濕度≤70％,，無(wú)有害氣體的環(huán)境中,，滾珠絲杠,、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油，但不可過(guò)多,，值得指出的是,，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過(guò)程中，從直線導(dǎo)軌的直線性,，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性,，定位精度等都是用專(zhuān)業(yè)的儀器儀表調(diào)整，用戶一般情況不能輕易改變,，一旦盲目調(diào)整后很難恢復(fù)到原來(lái)的狀態(tài),，所以對(duì)需要調(diào)整的工作臺(tái)應(yīng)有專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)廠家或經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的專(zhuān)業(yè)人員完成。上海勤確科技有限公司會(huì)為您提供專(zhuān)業(yè)培訓(xùn),，科學(xué)管理與運(yùn)營(yíng),。磁場(chǎng)探針臺(tái)價(jià)格平面電...

探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè),、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試,。普遍應(yīng)用于復(fù)雜,、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本,。探針臺(tái)分類(lèi)：探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng),，全自動(dòng),。從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)（低溫探針臺(tái)）,，RF探針臺(tái),，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái),，表面電阻率探針臺(tái),。經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型根據(jù)客戶需求定制：chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選）；X-Y移動(dòng)行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選）,；chuckZ軸方向升降10mm（選項(xiàng)）方便探針與樣品快速分離,；顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯...

錸鎢探針指的是采用含錸3%的錸鎢合金絲打造而成的探針,。中鎢在線提供好的錸鎢探針產(chǎn)品,。鎢作為一種硬度強(qiáng)、耐高溫的金屬材料,，常被用于燈絲,、電極、熱電偶或者探測(cè)針等等,，但鎢本身存在易脆和可塑性低的問(wèn)題,，這減小了其使用過(guò)程中的壽命。為降低鎢的脆性以及提高其可塑性,，傳統(tǒng)的方法通過(guò)在鎢內(nèi)添加稀有金屬形成鎢基合金增加其性能,。在鎢內(nèi)添加錸，可以發(fā)生“錸塑化效應(yīng)”,，增加鎢的可塑性,。錸鎢合金具有高熔點(diǎn)、厲害度,、高硬度,、高塑性、高再結(jié)晶溫度,、高電阻率,，低蒸氣壓,、低電子逸出功和低塑性脆性轉(zhuǎn)變溫度等一系列優(yōu)良性能。上海勤確科技有限公司以完善的服務(wù)和改變?yōu)橹辽献非?。遼寧直流探針臺(tái)加工廠家射頻測(cè)試探針必須具有與測(cè)試點(diǎn)相匹配...

手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤(pán),，開(kāi)啟真空閥門(mén)控制開(kāi)關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤(pán)上,。2.使用卡盤(pán)X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤(pán)平臺(tái),，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤(pán)X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤(pán)平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下,。4.顯微鏡切換為高倍率物鏡,，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y,，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中心,。5.確保針尖和被測(cè)點(diǎn)接觸良好后，則可以通過(guò)連接的測(cè)試設(shè)備開(kāi)始測(cè)試,。常見(jiàn)故障的排除當(dāng)您使用本儀器時(shí),，可能會(huì)碰到一些問(wèn)題，下表列舉了常見(jiàn)的故障及解決方法,。手動(dòng)探針臺(tái)技術(shù)參數(shù),。探針卡使用一段時(shí)間后，由于探針加工及使用過(guò)程中的微小差異導(dǎo)致...

探針臺(tái)的作用是什么,？探針臺(tái)可以將電探針,、光學(xué)探針或射頻探針?lè)胖迷诠杈希瑥亩梢耘c測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來(lái)測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件,。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單,，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以很復(fù)雜,，包括微電路的完整功能測(cè)試,。可以在將晶圓鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試,。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過(guò)程中多次測(cè)試芯片器件,，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入終端產(chǎn)品的信息,。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯,，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā),、產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和故障分析應(yīng)用,。探針尖磨損和污染也會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果造成極大的負(fù)面影響。廣東自動(dòng)探針臺(tái)公司精細(xì)探測(cè)技術(shù)帶來(lái)新優(yōu)勢(shì)：先進(jìn)應(yīng)力控制...

探針臺(tái)為研究和工程實(shí)驗(yàn)室在測(cè)試運(yùn)行期間移動(dòng)通過(guò)多個(gè)溫度點(diǎn)時(shí),，提供前所未有的自動(dòng)化水平,。這種新技術(shù)使探針系統(tǒng)能夠感知,，學(xué)習(xí)和反應(yīng)以多溫度和特征的極其復(fù)雜的環(huán)境。隨著集成電路產(chǎn)品不斷進(jìn)入汽車(chē)應(yīng)用等更高發(fā)熱量的環(huán)境,，在越來(lái)越寬的溫度范圍內(nèi)表征器件性能和耐用性變得越來(lái)越重要,。以前，大多數(shù)芯片在兩個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試,，通常為20?C（室溫）和90?C?，F(xiàn)在，該范圍已經(jīng)擴(kuò)大到-40?C至125?C,，并且可能需要在此范圍內(nèi)的四個(gè)溫度步驟中進(jìn)行一整套測(cè)試,。某些情況下需要更普遍的范圍，如-55?C至200?C,，晶圓可靠性測(cè)試可能要求高達(dá)300?C的溫度,。上海勤確科技有限公司追求客戶的數(shù)量遠(yuǎn)不是我們的目的。江蘇...

探針治具的校準(zhǔn)：我們希望校準(zhǔn)過(guò)程盡可能的把測(cè)試網(wǎng)絡(luò)中除DUT外所有的誤差項(xiàng)全部校準(zhǔn)掉,，當(dāng)使用探針夾具的方式進(jìn)行操作有兩種校準(zhǔn)方法：1一種方式是直接對(duì)著電纜的SMA端面進(jìn)行校準(zhǔn),，然后通過(guò)加載探針S2P文檔的方式進(jìn)行補(bǔ)償;2第二種方法是直接通過(guò)探針搭配的校準(zhǔn)板在探針的端面進(jìn)行校準(zhǔn)。是要告訴大家如果直接在SMA端面進(jìn)行校準(zhǔn)之后不補(bǔ)償探針頭,，而直接進(jìn)行測(cè)量的話會(huì)帶來(lái)很大的誤差,。探針廠商一般都會(huì)提供探針的S2P文檔與校準(zhǔn)片，校準(zhǔn)片如下圖所示,，上面有Open,、Short、Load及不同負(fù)載的微帶線,。探針卡虛焊和布線斷線或短路,，測(cè)試時(shí)都要測(cè)不穩(wěn)。湖南全自動(dòng)探針臺(tái)從功能上來(lái)區(qū)分有：高溫探針臺(tái),，低溫探針臺(tái),，RF...

針尖有鋁粉:測(cè)大電流時(shí)，針尖上要引起多AL粉,，使電流測(cè)不穩(wěn),，所以需要經(jīng)常用灑精清洗探針并用氮?dú)獯蹈桑瑫r(shí)測(cè)試時(shí)邊測(cè)邊吹氮?dú)?，以減少針尖上的AL粉,。針尖有墨跡:測(cè)試時(shí)打點(diǎn)器沒(méi)有調(diào)整好，尼龍絲碰到針尖上,，針尖上沾上墨跡,然后針尖與壓點(diǎn)接觸時(shí),，壓點(diǎn)窗口上墨跡沾污，使片子與AL層接觸不良,，參數(shù)通不過(guò),，還有對(duì)后續(xù)封裝壓焊有影響,，使芯片與封裝后成品管腳焊接質(zhì)量差，所以平時(shí)裝打點(diǎn)器時(shí),，不要把打點(diǎn)器裝得太前或太后和太高或太低,，而應(yīng)該使尼龍絲與硅片留有一定距離，然后靠表面漲力使墨水打到管芯中心,，如已經(jīng)沾上墨跡,，要立即用酒精擦干凈，并用氮?dú)獯蹈?。上海勤確科技有限公司以滿足客戶要求為重點(diǎn),。吉林磁場(chǎng)探針臺(tái)供應(yīng)商半導(dǎo)體...

下面我們來(lái)簡(jiǎn)單講講選擇探針臺(tái)設(shè)備時(shí)需要注意事項(xiàng)：一、機(jī)械加工精度,；二,、電學(xué)量測(cè)精度三、環(huán)境要求,，如：真空環(huán)境,、高溫、低溫環(huán)境,、磁場(chǎng)環(huán)境及其它,。四、光學(xué)成像,；五,、自動(dòng)化控制精度?？傮w而言,，具有清晰并高景深的微觀成像，再通過(guò)準(zhǔn)確的探針裝置對(duì)探針進(jìn)行多方向移動(dòng),，對(duì)準(zhǔn)量測(cè)點(diǎn),，進(jìn)行信號(hào)加載，通過(guò)高精度線纜將所需測(cè)試數(shù)據(jù)傳輸至量測(cè)儀表,，以達(dá)到所需得到的分析數(shù)據(jù),，所以，如果想得到高質(zhì)量的分析數(shù)據(jù),，從成像到點(diǎn)針,，再到數(shù)據(jù)傳輸每項(xiàng)步驟都會(huì)起到重要的作用，另外振動(dòng)對(duì)精度也有一定的影響,。隨著探針開(kāi)始接觸并逐漸深入焊點(diǎn)氧化物和污染物的表層,，接觸電阻減小而電流流動(dòng)迅速開(kāi)始,。貴州半自動(dòng)探針臺(tái)生產(chǎn)滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y...

探針臺(tái)市場(chǎng)逐年增長(zhǎng)：半導(dǎo)體測(cè)試對(duì)于良率和品質(zhì)控制至關(guān)重要,，是必不可少的環(huán)節(jié),，主要涉及兩種測(cè)試（CP測(cè)試、FT測(cè)試等）,、三種設(shè)備（探針臺(tái),、測(cè)試機(jī)、分選機(jī)等）,。根據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)線投資配置規(guī)律,，測(cè)試設(shè)備在半導(dǎo)體設(shè)備投資的占比約為8%，次于晶圓制造裝備,，其中測(cè)試機(jī),、分選機(jī)、探針臺(tái)的占比分別為63.10%,、17.40%,、15.20%。中國(guó)半導(dǎo)體市場(chǎng)飛速增長(zhǎng),。在全球貿(mào)易摩擦背景下,，半導(dǎo)體行業(yè)國(guó)產(chǎn)化率提高成為必然趨勢(shì)，國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的投資規(guī)模持續(xù)擴(kuò)大,。上海勤確科技有限公司您的滿意就是對(duì)我們的支持,。重慶磁場(chǎng)探針臺(tái)配件廠家探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的分類(lèi)：縱觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y...

高精度探針臺(tái)：目前世界出貨量的型號(hào)吸收了很新的工藝科技例如OTS,，QPU和TTG相關(guān)技術(shù),，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計(jì)及多種測(cè)試條件提供保證。特性1：OTS-近的位置對(duì)正系統(tǒng)（光學(xué)目標(biāo)對(duì)準(zhǔn)）OTS通過(guò)對(duì)照相機(jī)相對(duì)位置的測(cè)量來(lái)保證其位置的精度,。這是非常引人注目的技術(shù),，來(lái)源于精密的度量技術(shù)。OTS實(shí)現(xiàn)了以自己為參照的光學(xué)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng),。特性2：QPU-高剛性的硅片承載臺(tái)（四方型系統(tǒng)）為了有效的達(dá)到接觸位置的精度,，硅片承載臺(tái)各部分的剛性一致是非常重要的，UF3000使用新的4軸機(jī)械轉(zhuǎn)換裝置（QPU）,，達(dá)到高剛性,，高穩(wěn)定度的接觸。探針臺(tái)是檢測(cè)芯片的重要設(shè)備,，在芯片的設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段,。遼寧芯片探針臺(tái)加...

探針臺(tái)為研究和工程實(shí)驗(yàn)室在測(cè)試運(yùn)行期間移動(dòng)通過(guò)多個(gè)溫度點(diǎn)時(shí),，提供前所未有的自動(dòng)化水平。這種新技術(shù)使探針系統(tǒng)能夠感知，學(xué)習(xí)和反應(yīng)以多溫度和特征的極其復(fù)雜的環(huán)境,。隨著集成電路產(chǎn)品不斷進(jìn)入汽車(chē)應(yīng)用等更高發(fā)熱量的環(huán)境,，在越來(lái)越寬的溫度范圍內(nèi)表征器件性能和耐用性變得越來(lái)越重要。以前,，大多數(shù)芯片在兩個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試，通常為20?C（室溫）和90?C?，F(xiàn)在,，該范圍已經(jīng)擴(kuò)大到-40?C至125?C,，并且可能需要在此范圍內(nèi)的四個(gè)溫度步驟中進(jìn)行一整套測(cè)試。某些情況下需要更普遍的范圍,，如-55?C至200?C,，晶圓可靠性測(cè)試可能要求高達(dá)300?C的溫度。探針卡使用一段時(shí)間后,，由于探針加工及使用過(guò)程中的微小差異...

隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,，對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件，表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無(wú)能為力了,。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,，利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來(lái),，便于其電性測(cè)試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測(cè)試、分析,。探針臺(tái)執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成.在探針座有X-Y-Z三向調(diào)節(jié)旋鈕,，控制固定在針座上的探針桿做三向移動(dòng)，移動(dòng)范圍12mm,，移動(dòng)精度可以達(dá)到0.7微米。這樣可以把探針很好的點(diǎn)到待測(cè)點(diǎn)上(說(shuō)明探針是耗材,，一般客戶自己準(zhǔn)備),，探針探測(cè)到的信號(hào)可以通過(guò)探針桿上的電纜傳輸?shù)脚c其連接的測(cè)試機(jī)上，從而得到電性能的參數(shù),。對(duì)于重復(fù)測(cè)試同種器件,，多個(gè)點(diǎn)位的推薦使用探針臺(tái)安裝探卡進(jìn)行測(cè)試。主...

半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中的探測(cè),，可略分為三大類(lèi)：1.參數(shù)探測(cè)：提供制造期間的裝置特性測(cè)量；2.晶圓探測(cè)：當(dāng)制造完成要進(jìn)行封裝前,，在一系列的晶圓上(wafersort)測(cè)試裝置功能,；3.以探針臺(tái)為基礎(chǔ)的晶圓處理探測(cè)(FinalTest)：在出貨給顧客前,，對(duì)封裝完成的裝置做后的測(cè)試。晶圓在通過(guò)基本的特性測(cè)試后,，即進(jìn)入晶圓探測(cè)階段，此時(shí)需要用復(fù)雜的機(jī)器,、視覺(jué)及軟件來(lái)偵測(cè)晶圓上的每顆裸晶,，精確度約在±2.0μm之間。將晶圓探針臺(tái)的輸入輸出探針墊片(I/Opads)放在接腳和探針卡正確對(duì)應(yīng)的晶圓后,，探針臺(tái)會(huì)將晶圓向上挪動(dòng)，使其電氣和連接于測(cè)試儀上的探針卡接觸,，以進(jìn)行探測(cè),。當(dāng)測(cè)試完成，則會(huì)自動(dòng)將下一個(gè)待測(cè)晶圓替換...

晶圓測(cè)試基本的一點(diǎn)就是：晶圓測(cè)試必須能夠辨別芯片的好壞，并使合格芯片繼續(xù)進(jìn)入下面的封裝工藝,。為了確保芯片功能和成品率的有效測(cè)試,，封裝廠商和設(shè)備制造者需要不斷探索，進(jìn)而找到高精度,、高效率和低成本的測(cè)試方法,，并運(yùn)用新的組裝工藝要求對(duì)晶圓片進(jìn)行探測(cè),，這些要求將引起設(shè)備和工藝過(guò)程的重大變化,。探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng),，半自動(dòng)，全自動(dòng),，從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái),，真空探針臺(tái)（低溫探針臺(tái)）,，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái),，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái),。上海勤確科技有限公司敢于承擔(dān),、克難攻堅(jiān)。上海手動(dòng)探針臺(tái)服務(wù)探針卡沒(méi)焊到位,，是因?yàn)楹稿a時(shí)針受熱要稍微的收縮，使針尖偏離壓點(diǎn)區(qū),，而針虛焊和布線斷線或短路,，...

平面電機(jī)的定子及動(dòng)子是完全暴露在空氣中,，所以潮濕的環(huán)境及長(zhǎng)時(shí)期保養(yǎng)不當(dāng)將很容易使定子發(fā)生銹蝕現(xiàn)象，另外重物的碰撞及堅(jiān)銳器物的劃傷都將對(duì)定子造成損傷,，而影響平面電機(jī)的步進(jìn)精度及使用壽命，對(duì)于已生銹的定子可以用天然油石輕輕地向一個(gè)方向打磨定子的表面,，然后用脫脂棉球蘸煤油清洗,，整個(gè)過(guò)程操作要十分地細(xì)心，不可使定子表面出現(xiàn)凹凸不平的現(xiàn)象,。另外也可用沒(méi)有腐蝕性，不損壞定子的除銹劑除銹,。對(duì)于正常情況下的定子則要定期作除塵清理工作,，清理時(shí)應(yīng)先通入大氣以便動(dòng)子移動(dòng)，方法是用脫脂棉蘸少許大于95％的無(wú)水乙醇,，輕擦定子表面,，然后用專(zhuān)門(mén)工具撬起動(dòng)子,，方法同前,，輕擦動(dòng)子表面,，動(dòng)子的表面有若干個(gè)氣孔，它是定子和動(dòng)子間壓...

“精確度”是探測(cè)儀器基本的指針,，涵蓋定位,、溫度及生產(chǎn)率等三個(gè)層面,。首先,，必須能穩(wěn)定,、精確地探測(cè)到小型墊片，載臺(tái)系統(tǒng)亦須精確,、能直接驅(qū)動(dòng)晶圓托盤(pán),，并在晶圓移動(dòng)的過(guò)程中準(zhǔn)確地將晶圓和晶圓對(duì)位；其次,，必須具備動(dòng)態(tài)監(jiān)控機(jī)制,，確保所挾帶的空氣以監(jiān)控溫度、掌握可靠度和穩(wěn)定性,；后,，必須對(duì)高產(chǎn)出的進(jìn)階移動(dòng)做動(dòng)態(tài)控制才能擁有佳的終結(jié)果,。整體而言，針腳和墊片之間的相應(yīng)精確度應(yīng)在±1.5μm之間,。隨著新工藝的微縮,，為了強(qiáng)化更小晶粒定位的精確性，需要?jiǎng)討B(tài)的Z軸輔助校正工作,，以避免無(wú)謂的產(chǎn)出損失,。探針臺(tái)配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓,、電流,、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。遼寧自動(dòng)探針臺(tái)生產(chǎn)盡管半導(dǎo)體測(cè)試探針國(guó)產(chǎn)化...

晶圓探針臺(tái)還可以在晶圓劃片線上執(zhí)行任何測(cè)試電路,。一些公司從這些劃線測(cè)試結(jié)構(gòu)中獲得大部分有關(guān)器件性能的信息,。當(dāng)特定芯片的所有測(cè)試圖案都通過(guò)時(shí)，它的位置會(huì)被記住,，以便以后在IC封裝過(guò)程中使用,。有時(shí)，芯片有內(nèi)部備用資源可用于修復(fù)（即閃存IC）,；如果它沒(méi)有通過(guò)某些測(cè)試模式,，則可以使用這些備用資源。如果故障管芯的冗余是不可能的,，則管芯被認(rèn)為有故障并被丟棄,。未通過(guò)電路通常在芯片中間用一個(gè)小墨水點(diǎn)標(biāo)記，或者通過(guò)/未通過(guò)信息存儲(chǔ)在一個(gè)名為wafermap的文件中,。該地圖通過(guò)使用bins對(duì)通過(guò)和未通過(guò)的die進(jìn)行分類(lèi),。然后將bin定義為好或壞的裸片,。上海勤確科技有限公司信任是合作的基石。河南磁場(chǎng)探針臺(tái)價(jià)格錸鎢探...