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靜安區(qū)膜厚儀主要功能與優(yōu)勢

來源: 發(fā)布時(shí)間:2023-12-11

論文所研究的鍺膜厚度約300nm,,導(dǎo)致其白光干涉輸出光譜只有一個(gè)干涉峰,,此時(shí)常規(guī)基于相鄰干涉峰間距解調(diào)的方案(如峰峰值法等)將不再適用。為此,我們提出了一種基于單峰值波長移動(dòng)的白光干涉測量方案,,并設(shè)計(jì)搭建了膜厚測量系統(tǒng),。溫度測量實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,,峰值波長與溫度變化之間具有良好的線性關(guān)系,。利用該測量方案,我們測得實(shí)驗(yàn)用鍺膜的厚度為338.8nm,,實(shí)驗(yàn)誤差主要來自于溫度控制誤差和光源波長漂移,。論文通過對(duì)納米級(jí)薄膜厚度的測量方案研究,實(shí)現(xiàn)了對(duì)鍺膜和金膜的厚度測量,。論文主要的創(chuàng)新點(diǎn)是提出了白光干涉單峰值波長移動(dòng)的解調(diào)方案,,并將其應(yīng)用于極短光程差的測量。白光干涉膜厚測量技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜的大范圍測量和分析,。靜安區(qū)膜厚儀主要功能與優(yōu)勢

論文主要以半導(dǎo)體鍺和貴金屬金兩種材料為對(duì)象,,研究了白光干涉法、表面等離子體共振法和外差干涉法實(shí)現(xiàn)納米級(jí)薄膜厚度準(zhǔn)確測量的可行性,。由于不同材料薄膜的特性不同,,所適用的測量方法也不同。半導(dǎo)體鍺膜具有折射率高,,在通信波段(1550nm附近)不透明的特點(diǎn),,選擇采用白光干涉的測量方法;而厚度更薄的金膜的折射率為復(fù)數(shù),,且能激發(fā)明顯的表面等離子體效應(yīng),,因而可借助基于表面等離子體共振的測量方法;為了進(jìn)一步改善測量的精度,,論文還研究了外差干涉測量法,,通過引入高精度的相位解調(diào)手段,檢測P光與S光之間的相位差提升厚度測量的精度,。威海膜厚儀品牌企業(yè)白光干涉膜厚測量技術(shù)可以通過對(duì)干涉圖像的分析實(shí)現(xiàn)對(duì)不同材料的薄膜的聯(lián)合測量和分析。

光譜法是以光的干涉效應(yīng)為基礎(chǔ)的一種薄膜厚度測量方法,,分為反射法和透射法兩類[12],。入射光在薄膜-基底-薄膜界面上的反射和透射會(huì)引起多光束干涉效應(yīng),不同特性的薄膜材料的反射率和透過率曲線是不同的,,并且在全光譜范圍內(nèi)與厚度之間是一一對(duì)應(yīng)關(guān)系,。因此,根據(jù)這一光譜特性可以得到薄膜的厚度以及光學(xué)參數(shù),。光譜法的優(yōu)點(diǎn)是可以同時(shí)測量多個(gè)參數(shù)且可以有效的排除解的多值性,,測量范圍廣,,是一種無損測量技術(shù);缺點(diǎn)是對(duì)樣品薄膜表面條件的依賴性強(qiáng),,測量穩(wěn)定性較差,,因而測量精度不高;對(duì)于不同材料的薄膜需要使用不同波段的光源等,。目前,,這種方法主要應(yīng)用于有機(jī)薄膜的厚度測量。

白光干涉光譜分析是目前白光干涉測量的一個(gè)重要方向,,此項(xiàng)技術(shù)主要是利用光譜儀將對(duì)條紋的測量轉(zhuǎn)變成為對(duì)不同波長光譜的測量,。通過分析被測物體的光譜特性,就能夠得到相應(yīng)的長度信息和形貌信息,。相比于白光掃描干涉術(shù),,它不需要大量的掃描過程,因此提高了測量效率,,而且也減小了環(huán)境對(duì)它的影響,。此項(xiàng)技術(shù)能夠測量距離、位移,、塊狀材料的群折射率以及多層薄膜厚度,。白干干涉光譜法是基于頻域干涉的理論,采用白光作為寬波段光源,,經(jīng)過分光棱鏡,,被分成兩束光,這兩束光分別入射到參考面和被測物體,,反射回來后經(jīng)過分光棱鏡合成后,,由色散元件分光至探測器,記錄頻域上的干涉信號(hào),。此光譜信號(hào)包含了被測表面的信息,,如果此時(shí)被測物體是薄膜,則薄膜的厚度也包含在這光譜信號(hào)當(dāng)中,。這樣就把白光干涉的精度和光譜測量的速度結(jié)合起來,,形成了一種精度高而且速度快的測量方法。白光干涉膜厚測量技術(shù)可以應(yīng)用于激光加工中的薄膜吸收率測量,。

確定靶丸折射率及厚度的算法,,由于干涉光譜信號(hào)與膜的光參量直接相關(guān),這里主要考慮光譜分析的方法根據(jù)測量膜的反射或透射光譜進(jìn)行分析計(jì)算,,可獲得膜的厚度,、折射率等參數(shù)。根據(jù)光譜信號(hào)分析計(jì)算膜折射率及厚度的方法主要有極值法和包絡(luò)法,、全光譜擬合法,。極值法測量膜厚度主要是根據(jù)薄膜反射或透射光譜曲線上的波峰的位置來計(jì)算,,對(duì)于弱色散介質(zhì),折射率為恒定值,,根據(jù)兩個(gè)或兩個(gè)以上的極大值點(diǎn)的位置,,求得膜的光學(xué)厚度,若已知膜折射率即可求解膜的厚度,;對(duì)于強(qiáng)色散介質(zhì),,首先利用極值點(diǎn)求出膜厚度的初始值。薄膜厚度是一恒定不變值,,可根據(jù)極大值點(diǎn)位置的光學(xué)厚度關(guān)系式獲得入射波長和折射率的對(duì)應(yīng)關(guān)系,,再依據(jù)薄膜材質(zhì)的色散特性,引入合適的色散模型,,常用的色散模型有cauchy模型,、Selimeier模型、Lorenz模型等,,利用折射率與入射波長的關(guān)系式,,通過二乘法擬合得到色散模型的系數(shù),即可解得任意入射波長下的折射率,。白光干涉膜厚測量技術(shù)可以對(duì)薄膜的表面和內(nèi)部進(jìn)行聯(lián)合測量和分析,。朝陽區(qū)膜厚儀量大從優(yōu)

白光干涉膜厚測量技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜薄膜結(jié)構(gòu)的測量。靜安區(qū)膜厚儀主要功能與優(yōu)勢

在初始相位為零的情況下,,當(dāng)被測光與參考光之間的光程差為零時(shí),,光強(qiáng)度將達(dá)到最大值。為探測兩個(gè)光束之間的零光程差位置,,需要精密Z向運(yùn)動(dòng)臺(tái)帶動(dòng)干涉鏡頭作垂直掃描運(yùn)動(dòng)或移動(dòng)載物臺(tái),,垂直掃描過程中,用探測器記錄下干涉光強(qiáng),,可得白光干涉信號(hào)強(qiáng)度與Z向掃描位置(兩光束光程差)之間的變化曲線,。干涉圖像序列中某波長處的白光信號(hào)強(qiáng)度隨光程差變化示意圖,曲線中光強(qiáng)極大值位置即為零光程差位置,,通過零過程差位置的精密定位,,即可實(shí)現(xiàn)樣品表面相對(duì)位移的精密測量;通過確定最大值對(duì)應(yīng)的Z向位置可獲得被測樣品表面的三維高度,。靜安區(qū)膜厚儀主要功能與優(yōu)勢