折射率分別為1．45和1．62的2塊玻璃板,，使其一端相接觸,，形成67的尖劈．將波長為550nm的單色光垂直投射在劈上,，并在上方觀察劈的干涉條紋，試求條紋間距,。

我們可以分2種可能的情況來討論：

一般玻璃的厚度可估計為1mm的量級,，這個量級相對于光的波長550nm而言,，應該算是膜厚e遠遠大于波長^的厚玻璃了,，所以光線通過上玻璃板時應該無干涉現象，同理光線通過下玻璃板時也無干涉現象．空氣膜厚度因劈角很小而很薄,，與波長可比擬,，所以光線通過空氣膜應該有干涉現象，在空氣膜的下表面處有一半波損失,，故光程差應該為2n₂e+λ/2．

(2)假設玻璃板厚度的量級與可見光波長量級可比擬,，當單色光垂直投射在劈尖上時，上玻璃板能滿足形成薄膜干涉的條件,，其光程差為2n2e+λ/2,，下玻璃板也能滿足形成薄膜于涉的條件，光程差為2n₁h+λ／2,，但由于玻璃板膜厚均勻,，h不變，人射角i=儼也不變,，故玻璃板形成的薄膜干涉為等傾又等厚干涉條紋,，要么玻璃板全亮，要么全暗,，它不會影響空氣劈尖干涉條紋的位置和條紋間距,。空氣劈尖干涉光程差仍為2n2e+λ/2,，但玻璃板會影響劈尖干涉條紋的亮度對比度． 白光干涉膜厚儀是一種可用于測量透明和平行表面薄膜厚度的儀器。薄膜膜厚儀價格

白光掃描干涉法采用白光為光源,，壓電陶瓷驅動參考鏡進行掃描,，干涉條紋掃過被測面,，通過感知相干峰位置來獲得表面形貌信息。對于薄膜的測量,，上下表面形貌,、粗糙度、厚度等信息能通過一次測量得到,，但是由于薄膜上下表面的反射,，會使提取出來的白光干涉信號出現雙峰形式，變得更復雜,。另外,，由于白光掃描法需要掃描過程，因此測量時間較長而且易受外界干擾,?；趫D像分割技術的薄膜結構測試方法，實現了對雙峰干涉信號的自動分離,，實現了薄膜厚度的測量,。高精度膜厚儀安裝操作注意事項操作需要一定的專業(yè)基礎和經驗，需要進行充分的培訓和實踐,。

白光干涉在零光程差處,，出現零級干涉條紋，隨著光程差的增加,，光源譜寬范圍內的每條譜線各自形成的干涉條紋之間互有偏移,，疊加的整體效果使條紋對比度下降。測量精度高,，可以實現測量,采用白光干涉原理的測量系統的抗干擾能力強,，動態(tài)范圍大，具有快速檢測和結構緊湊等優(yōu)點,。普通的激光干涉與白光干涉之間雖然有差別,，但也有許多相似之處?？梢哉f,，白光干涉實際上就是將白光看作一系列理想的單色光在時域上的相干疊加，在頻域上觀察到的就是不同波長對應的干涉光強變化曲線,。

白光干涉光譜分析是目前白光干涉測量的一個重要方向,，此項技術主要是利用光譜儀將對條紋的測量轉變成為對不同波長光譜的測量。通過分析被測物體的光譜特性,，就能夠得到相應的長度信息和形貌信息,。相比于白光掃描干涉術，它不需要大量的掃描過程，因此提高了測量效率,，而且也減小了環(huán)境對它的影響,。此項技術能夠測量距離、位移,、塊狀材料的群折射率以及多層薄膜厚度,。白干干涉光譜法是基于頻域干涉的理論，采用白光作為寬波段光源,，經過分光棱鏡,，被分成兩束光，這兩束光分別入射到參考面和被測物體,，反射回來后經過分光棱鏡合成后,，由色散元件分光至探測器，記錄頻域上的干涉信號,。此光譜信號包含了被測表面的信息,，如果此時被測物體是薄膜，則薄膜的厚度也包含在這光譜信號當中,。這樣就把白光干涉的精度和光譜測量的速度結合起來,，形成了一種精度高、速度快的測量方法,?？蓽y量大氣壓下薄膜厚度在1納米到1毫米之間。

為了分析白光反射光譜的測量范圍,，進行了不同壁厚的靶丸殼層白光反射光譜測量實驗,。實驗結果顯示，對于殼層厚度為30μm的靶丸,，其白光反射光譜各譜峰非常密集,，干涉級次數值大；此外,，由于靶丸殼層的吸收,，壁厚較大的靶丸信號強度相對較弱。隨著靶丸殼層厚度的進一步增加,，其白光反射光譜各譜峰將更加密集,，難以實現對各干涉譜峰波長的測量。為實現較大厚度靶丸殼層厚度的白光反射光譜測量,，需采用紅外寬譜光源和光譜探測器,。對于殼層厚度為μm的靶丸，測量的波峰相對較少,，容易實現殼層白光反射光譜譜峰波長的準確測量,；隨著靶丸殼層厚度的進一步減小,，兩干涉信號之間的光程差差異非常小，以至于光譜信號中只有一個干涉波峰,，難以使用峰值探測的白光反射光譜方法測量其厚度,。為了實現較小厚度靶丸殼層厚度的白光反射光譜測量，可采用紫外寬譜光源和光譜探測器提升其探測厚度下限,。隨著技術的進步和應用領域的拓展，白光干涉膜厚儀的性能和功能將不斷提升和擴展,。原裝膜厚儀安裝操作注意事項

廣泛應用于電子,、半導體、光學,、化學等領域,，為研究和開發(fā)提供了有力的手段。薄膜膜厚儀價格

自1986年E.Wolf證明了相關誘導光譜的變化以來,，人們開始在理論和實驗上進行探討和研究,。結果表明，動態(tài)的光譜位移可以產生新的濾波器,，可應用于光學信號處理和加密領域,。本文提出的基于白光干涉光譜單峰值波長移動的解調方案，可應用于當兩光程差非常小導致干涉光譜只有一個干涉峰的信號解調,，實現納米薄膜厚度測量,。在頻域干涉中，當干涉光程差超過光源相干長度時,，仍然可以觀察到干涉條紋,。這種現象是因為白光光源的光譜可以看成是許多單色光的疊加，每一列單色光的相干長度都是無限的,。當使用光譜儀接收干涉光譜時,，由于光譜儀光柵的分光作用，寬光譜的白光變成了窄帶光譜,，導致相干長度發(fā)生變化,。薄膜膜厚儀價格