檢測電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好,。用萬用表的歐姆檔測“1”,、“2”(或“2”、“3”)兩端,，將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時針方向旋至接近“關(guān)”的位置,，這時電阻值越小越好。再順時針慢慢旋轉(zhuǎn)軸柄,，電阻值應(yīng)逐漸增大,，表頭中的指針應(yīng)平穩(wěn)移動。當(dāng)軸柄旋至極端位置“3”時,，阻值應(yīng)接近電位器的標(biāo)稱值,。如萬用表的指針在電位器的軸柄轉(zhuǎn)動過程中有跳動現(xiàn)象，說明活動觸點(diǎn)有接觸不良的故障,。常溫檢測(室內(nèi)溫度接近25℃)；將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實(shí)際阻值,，并與標(biāo)稱阻值相對比,，二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常,。實(shí)際阻值若與標(biāo)稱阻值相差過大,，則說明其性能不良或已損壞,。加溫檢測；在常溫測試正常的基礎(chǔ)上,，即可進(jìn)行第二步測試—加溫檢測,，將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱,，同時用萬用表監(jiān)測其電阻值是否隨溫度的升高而增大，如是,，說明熱敏電阻正常，若阻值無變化,，說明其性能變劣,，不能繼續(xù)使用,。人們強(qiáng)烈地期待著能夠誕生一種固體器件，用來作為質(zhì)量輕,、價(jià)廉和壽命長的放大器和電子開關(guān)。閔行區(qū)什么是電子設(shè)備詢問報(bào)價(jià)

在20世紀(jì)出現(xiàn)并得到飛速發(fā)展的電子元器件工業(yè)使整個世界和人們的工作,、生活習(xí)慣發(fā)生了翻天覆地的變化,。電子元器件的發(fā)展歷史實(shí)際上就是電子工業(yè)的發(fā)展歷史。1906年美國人德福雷斯特發(fā)明真空三極管,，用來放大電話的聲音電流。此后,，人們強(qiáng)烈地期待著能夠誕生一種固體器件,，用來作為質(zhì)量輕,、價(jià)廉和壽命長的放大器和電子開關(guān)。1947年,，點(diǎn)接觸型鍺晶體管的誕生，在電子器件的發(fā)展史上翻開了新的一頁,。但是，這種點(diǎn)接觸型晶體管在構(gòu)造上存在著接觸點(diǎn)不穩(wěn)定的致命弱點(diǎn),。在點(diǎn)接觸型晶體管開發(fā)成功的同時，結(jié)型晶體管論就已經(jīng)提出,，但是直至人們能夠制備超高純度的單晶以及能夠任意控制晶體的導(dǎo)電類型以后，結(jié)型晶體管材真正得以出現(xiàn),。1950年,，具有使用價(jià)值的是早的鍺合金型晶體管誕生。1954年,，結(jié)型硅晶體管誕生。此后,，人們提出了場效應(yīng)晶體管的構(gòu)想。松江區(qū)國內(nèi)電子設(shè)備數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng),。

場效應(yīng)晶體管具有較高輸入阻抗和低噪聲等優(yōu)點(diǎn),，因而也被應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。尤其用場效應(yīng)管做整個電子設(shè)備的輸入級,，可以獲得一般晶體管很難達(dá)到的性能。場效應(yīng)管與晶體管的比較(1)場效應(yīng)管是電壓控制元件,，而晶體管是電流控制元件,。在只允許從信號源取較少電流的情況下,，應(yīng)選用場效應(yīng)管,；而在信號電壓較低，又允許從信號源取較多電流的條件下,，應(yīng)選用晶體管。(2)場效應(yīng)管是利用多數(shù)載流子導(dǎo)電,，所以稱之為單極型器件，而晶體管是即有多數(shù)載流子,，也利用少數(shù)載流子導(dǎo)電。被稱之為雙極型器件,。(3)有些場效應(yīng)管的源極和漏極可以互換使用，柵壓也可正可負(fù)，靈活性比晶體管好,。(4)場效應(yīng)管能在很小電流和很低電壓的條件下工作，而且它的制造工藝可以很方便地把很多場效應(yīng)管集成在一塊硅片上,，因此場效應(yīng)管在大規(guī)模集成電路中得到了的應(yīng)用。

熔斷電阻器的檢測,。在電路中,，當(dāng)熔斷電阻器熔斷開路后,，可根據(jù)經(jīng)驗(yàn)作出判斷：若發(fā)現(xiàn)熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦，可斷定是其負(fù)荷過重,，通過它的電流超過額定值很多倍所致；如果其表面無任何痕跡而開路,，則表明流過的電流剛好等于或稍大于其額定熔斷值,。對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷,，可借助萬用表R×1擋來測量，為保證測量準(zhǔn)確,，應(yīng)將熔斷電阻器一端從電路上焊下。若測得的阻值為無窮大,，則說明此熔斷電阻器已失效開路，若測得的阻值與標(biāo)稱值相差甚遠(yuǎn),，表明電阻變值，也不宜再使用,。在維修實(shí)踐中發(fā)現(xiàn),，也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象,，檢測時也應(yīng)予以注意。電位器的檢測,。檢查電位器時，首先要轉(zhuǎn)動旋柄,，看看旋柄轉(zhuǎn)動是否平滑,，開關(guān)是否靈活，開關(guān)通,、斷時“喀噠”聲是否清脆,，并聽一聽電位器內(nèi)部接觸點(diǎn)和電阻體摩擦的聲音,，如有“沙沙”聲，說明質(zhì)量不好,。電子元器件逐步從真空管時代進(jìn)入晶體管時代和大規(guī)模。

測量標(biāo)稱電阻值Rt用萬用表測量NTC熱敏電阻的方法與測量普通固定電阻的方法相同,，即根據(jù)NTC熱敏電阻的標(biāo)稱阻值選擇合適的電阻擋可直接測出Rt的實(shí)際值。但因NTC熱敏電阻對溫度很敏感,，故測試時應(yīng)注意以下幾點(diǎn)：ARt是生產(chǎn)廠家在環(huán)境溫度為25℃時所測得的,，所以用萬用表測量Rt時,，亦應(yīng)在環(huán)境溫度接近25℃時進(jìn)行，以保證測試的可信度,。B測量功率不得超過規(guī)定值,，以免電流熱效應(yīng)引起測量誤差,。C注意正確操作。測試時,，不要用手捏住熱敏電阻體，以防止人體溫度對測試產(chǎn)生影響,。估測溫度系數(shù)αt先在室溫t1下測得電阻值Rt1,，再用電烙鐵作熱源,，靠近熱敏電阻Rt，測出電阻值RT2,，同時用溫度計(jì)測出此時熱敏電阻RT表面的平均溫度t2再進(jìn)行計(jì)算,。壓敏電阻的檢測,。用萬用表的R×1k擋測量壓敏電阻兩引腳之間的正、反向絕緣電阻,，均為無窮大,，否則,，說明漏電流大。若所測電阻很小,，說明壓敏電阻已損壞,，不能使用,。此后，人們提出了場效應(yīng)晶體管的構(gòu)想,。虹口區(qū)電子設(shè)備售后保障

電子元器件的檢測是家電維修的一項(xiàng)基本功。閔行區(qū)什么是電子設(shè)備詢問報(bào)價(jià)

數(shù)字集成電路是將元器件和連線集成于同一半導(dǎo)體芯片上而制成的數(shù)字邏輯電路或系統(tǒng),。根據(jù)數(shù)字集成電路中包含的門電路或元器件數(shù)量，可將數(shù)字集成電路分為小規(guī)模集成(SSI)電路,、中規(guī)模集成(MSI)電路,、大規(guī)模集成(LSI)電路,、超大規(guī)模集成(VLSI)電路和特大規(guī)模集成(ULSI)電路。小規(guī)模集成電路包含的門電路在10個以內(nèi),，或元器件數(shù)不超過100個,；中規(guī)模集成電路包含的門電路在10-100個之間，或元器件數(shù)在100-1000個之間,；大規(guī)模集成電路包含的門電路在100個以上,，或元器件數(shù)在10-10個之間,；超大規(guī)模集成電路包含的門電路在1萬個以上,，或元器件數(shù)在10-10之間；特大規(guī)模集成電路的元器件數(shù)在10-10之間,。它包括：基本邏輯門、觸發(fā)器,、寄存器、譯碼器,、驅(qū)動器、計(jì)數(shù)器,、整形電路,、可編程邏輯器件,、微處理器,、單片機(jī)、DSP等,。閔行區(qū)什么是電子設(shè)備詢問報(bào)價(jià)

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