隨著無缺陷結(jié)晶和缺陷控制等材料技術(shù),、晶體外誕生長技術(shù)和擴(kuò)散摻雜技術(shù),、耐壓氧化膜的制備技術(shù),、腐蝕和光刻技術(shù)的出現(xiàn)和發(fā)展，各種性能優(yōu)良的電子器件相繼出現(xiàn),，電子元器件逐步從真空管時代進(jìn)入晶體管時代和大規(guī)模,、超大規(guī)模集成電路時代。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的半導(dǎo)體工業(yè),。由于社會發(fā)展的需要,，電子裝置變的越來越復(fù)雜，這就要求了電子裝置必須具有可靠性,、速度快,、消耗功率小以及質(zhì)量輕、小型化,、成本低等特點,。自20世紀(jì)50年代提出集成電路的設(shè)想后，由于材料技術(shù)、器件技術(shù)和電路設(shè)計等綜合技術(shù)的進(jìn)步,，在20世紀(jì)60年代研制成功了代集成電路,。在半導(dǎo)體發(fā)展史上。集成電路的出現(xiàn)具有劃時代的意義：它的誕生和發(fā)展推動了銅芯技術(shù)和計算機(jī)的進(jìn)步,，使科學(xué)研究的各個領(lǐng)域以及工業(yè)社會的結(jié)構(gòu)發(fā)生了歷史性變革,。這種點接觸型晶體管在構(gòu)造上存在著接觸點不穩(wěn)定的致命弱點。奉賢區(qū)口碑好的電子設(shè)備廠家現(xiàn)貨

電子元器件的檢測是家電維修的一項基本功,，安防行業(yè)很多工程維護(hù)維修技術(shù)也實際是來自于家電的維護(hù)維修技術(shù),，或是借鑒或同質(zhì)。如何準(zhǔn)確有效地檢測元器件的相關(guān)參數(shù),，判斷元器件的是否正常,，不是一件千篇一律的事，必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法,，從而判斷元器件的正常與否,。特別對初學(xué)者來說，熟練掌握常用元器件的檢測方法和經(jīng)驗很有必要,，以下對常用電子元器件的檢測經(jīng)驗和方法進(jìn)行介紹供對考,。將兩表筆(不分正負(fù))分別與電阻的兩端引腳相接即可測出實際電阻值。為了提高測量精度,，應(yīng)根據(jù)被測電阻標(biāo)稱值的大小來選擇量程,。由于歐姆擋刻度的非線性關(guān)系，它的中間一段分度較為精細(xì),，因此應(yīng)使指針指示值盡可能落到刻度的中段位置,，即全刻度起始的20%～80%弧度范圍內(nèi)，以使測量更準(zhǔn)確,。根據(jù)電阻誤差等級不同,。讀數(shù)與標(biāo)稱阻值之間分別允許有±5%、±10%或±20%的誤差,。如不相符,，超出誤差范圍，則說明該電阻值變值了,。寶山區(qū)產(chǎn)地電子設(shè)備圖片安防行業(yè)很多工程維護(hù)維修技術(shù)也實際是來自于家電的維護(hù)維修技術(shù),。

檢測電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好。用萬用表的歐姆檔測“1”,、“2”(或“2”,、“3”)兩端，將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時針方向旋至接近“關(guān)”的位置,，這時電阻值越小越好,。再順時針慢慢旋轉(zhuǎn)軸柄，電阻值應(yīng)逐漸增大，表頭中的指針應(yīng)平穩(wěn)移動,。當(dāng)軸柄旋至極端位置“3”時,，阻值應(yīng)接近電位器的標(biāo)稱值。如萬用表的指針在電位器的軸柄轉(zhuǎn)動過程中有跳動現(xiàn)象,，說明活動觸點有接觸不良的故障,。常溫檢測(室內(nèi)溫度接近25℃)；將兩表筆接觸PTC熱敏電阻的兩引腳測出其實際阻值,，并與標(biāo)稱阻值相對比,，二者相差在±2Ω內(nèi)即為正常。實際阻值若與標(biāo)稱阻值相差過大,，則說明其性能不良或已損壞,。加溫檢測；在常溫測試正常的基礎(chǔ)上,，即可進(jìn)行第二步測試—加溫檢測,，將一熱源(例如電烙鐵)靠近PTC熱敏電阻對其加熱，同時用萬用表監(jiān)測其電阻值是否隨溫度的升高而增大,，如是,，說明熱敏電阻正常，若阻值無變化,，說明其性能變劣,，不能繼續(xù)使用。

熔斷電阻器的檢測,。在電路中,，當(dāng)熔斷電阻器熔斷開路后，可根據(jù)經(jīng)驗作出判斷：若發(fā)現(xiàn)熔斷電阻器表面發(fā)黑或燒焦,，可斷定是其負(fù)荷過重,，通過它的電流超過額定值很多倍所致；如果其表面無任何痕跡而開路,，則表明流過的電流剛好等于或稍大于其額定熔斷值,。對于表面無任何痕跡的熔斷電阻器好壞的判斷,，可借助萬用表R×1擋來測量,，為保證測量準(zhǔn)確，應(yīng)將熔斷電阻器一端從電路上焊下,。若測得的阻值為無窮大,，則說明此熔斷電阻器已失效開路，若測得的阻值與標(biāo)稱值相差甚遠(yuǎn),，表明電阻變值,，也不宜再使用。在維修實踐中發(fā)現(xiàn)，也有少數(shù)熔斷電阻器在電路中被擊穿短路的現(xiàn)象,，檢測時也應(yīng)予以注意,。電位器的檢測。檢查電位器時,，首先要轉(zhuǎn)動旋柄,，看看旋柄轉(zhuǎn)動是否平滑，開關(guān)是否靈活,，開關(guān)通,、斷時“喀噠”聲是否清脆，并聽一聽電位器內(nèi)部接觸點和電阻體摩擦的聲音,，如有“沙沙”聲,，說明質(zhì)量不好。電感器在電子制作中雖然使用得不是很多,，但它們在電路中同樣重要,。

在20世紀(jì)出現(xiàn)并得到飛速發(fā)展的電子元器件工業(yè)使整個世界和人們的工作、生活習(xí)慣發(fā)生了翻天覆地的變化,。電子元器件的發(fā)展歷史實際上就是電子工業(yè)的發(fā)展歷史,。1906年美國人德福雷斯特發(fā)明真空三極管，用來放大電話的聲音電流,。此后,，人們強(qiáng)烈地期待著能夠誕生一種固體器件，用來作為質(zhì)量輕,、價廉和壽命長的放大器和電子開關(guān),。1947年，點接觸型鍺晶體管的誕生,，在電子器件的發(fā)展史上翻開了新的一頁,。但是，這種點接觸型晶體管在構(gòu)造上存在著接觸點不穩(wěn)定的致命弱點,。在點接觸型晶體管開發(fā)成功的同時,，結(jié)型晶體管論就已經(jīng)提出，但是直至人們能夠制備超高純度的單晶以及能夠任意控制晶體的導(dǎo)電類型以后,，結(jié)型晶體管材真正得以出現(xiàn),。1950年，具有使用價值的是早的鍺合金型晶體管誕生,。1954年,，結(jié)型硅晶體管誕生。此后,，人們提出了場效應(yīng)晶體管的構(gòu)想,。逐步形成作為高技術(shù)產(chǎn)業(yè)的半導(dǎo)體工業(yè),。楊浦區(qū)名優(yōu)電子設(shè)備價格咨詢

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電子元器件發(fā)展史其實就是一部濃縮的電子發(fā)展史,。電子技術(shù)是十九世紀(jì)末,、二十世紀(jì)初開始發(fā)展起來的新興技術(shù)，二十世紀(jì)發(fā)展迅速,，應(yīng)用,，成為近代科學(xué)技術(shù)發(fā)展的一個重要標(biāo)志。電子元器件1906年,，美國發(fā)明家德福雷斯特（DeForestLee）發(fā)明了真空三極管（電子管）,。代電子產(chǎn)品以電子管為。四十年代末世界上誕生了只半導(dǎo)體三極管,，它以小巧,、輕便、省電,、壽命長等特點,，很快地被各國應(yīng)用起來，在很大范圍內(nèi)取代了電子管,。五十年代末期,，世界上出現(xiàn)了塊集成電路，它把許多晶體管等電子元件集成在一塊硅芯片上,，使電子產(chǎn)品向更小型化發(fā)展,。集成電路從小規(guī)模集成電路迅速發(fā)展到大規(guī)模集成電路和超大規(guī)模集成電路，從而使電子產(chǎn)品向著高效能低消耗,、高精度,、高穩(wěn)定、智能化的方向發(fā)展,。由于,，電子計算機(jī)發(fā)展經(jīng)歷的四個階段恰好能夠充分說明電子技術(shù)發(fā)展的四個階段的特性，所以下面就從電子計算機(jī)發(fā)展的四個時代來說明電子技術(shù)發(fā)展的四個階段的特點,。奉賢區(qū)口碑好的電子設(shè)備廠家現(xiàn)貨

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