探針臺(tái)需要特別注意的是在未加壓縮空氣時(shí)不可強(qiáng)行拉動(dòng)動(dòng)子,，以免造成定子及動(dòng)子的損傷。平面電機(jī)應(yīng)使用在環(huán)境溫度15～25℃,，相對(duì)濕度小于50％的環(huán)境中,，其所需的壓縮空氣必須經(jīng)過(guò)干燥過(guò)濾處理且與環(huán)境空氣溫度差值小于5℃，氣壓為0．4±0．04MPa。相對(duì)于平面電機(jī)工作臺(tái)，絲杠導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成較復(fù)雜,，工作臺(tái)由上層（x向）及下層（y向）兩部分組成。工作臺(tái)由兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)分別驅(qū)動(dòng)x,、y向精密滾珠絲杠副帶動(dòng)工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)向部分采用精密直線滾動(dòng)導(dǎo)軌,。探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座。河南手動(dòng)高低溫探針臺(tái)生產(chǎn)廠家

以往如果需要測(cè)試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能(如電流,、電壓,、阻抗等)或工作狀態(tài)，測(cè)試人員一般會(huì)采用表筆去點(diǎn)測(cè),。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展,，對(duì)于精密微小(納米級(jí))的微電子器件，表筆點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無(wú)能為力了,。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生,，利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來(lái)，便于其電性測(cè)試設(shè)備(不屬于本機(jī)器)對(duì)此測(cè)試,、分析,。探針臺(tái)執(zhí)行機(jī)構(gòu)由探針座和探針桿兩部分組成.在探針座有X-Y-Z三向調(diào)節(jié)旋鈕，控制固定在針座上的探針桿做三向移動(dòng),，移動(dòng)范圍12mm,，移動(dòng)精度可以達(dá)到0.7微米。這樣可以把探針很好的點(diǎn)到待測(cè)點(diǎn)上(說(shuō)明探針是耗材,，一般客戶自己準(zhǔn)備),，探針探測(cè)到的信號(hào)可以通過(guò)探針桿上的電纜傳輸?shù)脚c其連接的測(cè)試機(jī)上，從而得到電性能的參數(shù),。對(duì)于重復(fù)測(cè)試同種器件,，多個(gè)點(diǎn)位的推薦使用探針臺(tái)安裝探卡進(jìn)行測(cè)試。福建智能探針臺(tái)加工廠家近年來(lái),，半導(dǎo)體作為信息產(chǎn)業(yè)的基石和兵家必爭(zhēng)之地成為本輪貿(mào)易戰(zhàn)的焦點(diǎn),。

滾珠絲杠副和導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：由于運(yùn)動(dòng)部分全部采用滾動(dòng)功能部件，所以具有傳動(dòng)效率高,、摩擦力矩小,，使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)應(yīng)放置在溫度23±3℃,，濕度≤70％,，無(wú)有害氣體的環(huán)境中，滾珠絲杠、直線導(dǎo)軌應(yīng)定期加精密儀表油,，但不可過(guò)多,，值得指出的是，這種結(jié)構(gòu)的工作臺(tái)在裝配過(guò)程中,，從直線導(dǎo)軌的直線性,，上下層工作臺(tái)之間的垂直度以及工作臺(tái)的重復(fù)性，定位精度等都是用專業(yè)的儀器儀表調(diào)整,，用戶一般情況不能輕易改變,，一旦盲目調(diào)整后很難恢復(fù)到原來(lái)的狀態(tài)，所以對(duì)需要調(diào)整的工作臺(tái)應(yīng)有專業(yè)生產(chǎn)廠家或經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的專業(yè)人員完成,。

探針臺(tái)是半導(dǎo)體（包括集成電路,、分立器件、光電器件,、傳感器）行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一,，其普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量,，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。通過(guò)與測(cè)試儀器的配合,，探針臺(tái)將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來(lái),，在進(jìn)入后序工序前予以剔除，極大降低器件的制造成本,。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè),、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗(yàn)證測(cè)試,、晶圓測(cè)試測(cè)試,、封裝檢測(cè)。晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)需要使用測(cè)試儀和探針臺(tái),，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能,，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試,，可以對(duì)芯片的良品,、不良品的進(jìn)行篩選。手動(dòng)探針臺(tái)：普遍應(yīng)用于,，科研單位研發(fā)測(cè)試,、院校教學(xué)操作、企業(yè)實(shí)驗(yàn)室芯片失效分析等領(lǐng)域,。

探針卡沒(méi)焊好：1．探針卡針焊得不到位,；2．基板上銅箔剝落,，針焊接不牢固，或焊錫沒(méi)有焊好而造成針虛焊,；3．探針卡布線斷線或短路,；背面有突起物，焊錫線頭針尖磨平：1.針在使用很長(zhǎng)時(shí)間后尖正常損耗,；2.操作工用過(guò)粗的砂子,；3.砂針尖時(shí)用力過(guò)猛；4.砂得時(shí)間過(guò)長(zhǎng),；針尖如磨平,，使針尖偏離壓點(diǎn)，測(cè)試無(wú)法通過(guò),，針尖接觸面大，而接觸電阻大影響參數(shù)測(cè)試,，所以平時(shí)如果在測(cè)片子之前,，先拿上卡到顯微鏡下檢查針尖有否磨平，如已磨平應(yīng)及時(shí)換針,，操作工在砂針尖時(shí)注意技能,，應(yīng)輕輕打磨針尖，而不致于磨平針尖,。探針臺(tái)是半導(dǎo)體（包括集成電路,、分立器件、光電器件,、傳感器）行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一,。吉林溫控探針臺(tái)公司

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探針臺(tái)是半導(dǎo)體（包括集成電路,、分立器件、光電器件,、傳感器）行業(yè)重要的檢測(cè)裝備之一,，其普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量,，旨在確保質(zhì)量及可靠性,，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。探針臺(tái)用于晶圓加工之后,、封裝工藝之前的CP測(cè)試環(huán)節(jié),，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測(cè)試,。在半導(dǎo)體器件與集成電路制造工藝中,，從單晶硅棒的制取到終器件制造的完成需經(jīng)過(guò)復(fù)雜的工序,，可分為前道工序與后道工序，探針臺(tái)是檢測(cè)半導(dǎo)體芯片的電參數(shù),、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備,。經(jīng)過(guò)檢測(cè)，探針臺(tái)將參數(shù)特性不符合要求的芯片記錄下來(lái),，在進(jìn)入后序工序前予以剔除,，降低器件的制造成本。上海勤確科技有限公司河南手動(dòng)高低溫探針臺(tái)生產(chǎn)廠家