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X系列探針臺：1,、基板采用鑄件為基準進行設(shè)計,，使運動的穩(wěn)定性得到提升，底板的重量同樣在隔震性能上得到提高,。2,、運動系統(tǒng)采用的是日系高剛性、高精密的導(dǎo)軌和絲桿,；反饋檢測系統(tǒng)采用的是0.1μm分辨率光柵尺配合進口運動控制卡與電機形成整個閉環(huán)的反饋檢測,，以保證實現(xiàn)高...

探針臺大家不陌生了，是我們半導(dǎo)體實驗室電性能測試的常用設(shè)備,，也是各大實驗室的熟客,。優(yōu)點太多了，成本低,，用途廣,，操作方便，對環(huán)境要求也不高,，即使沒有超凈間,，普通的壞境也可以配置，測試結(jié)果穩(wěn)定,，客觀,。深受工程師們的青睞,。手動探針臺用途：探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、...

精細探測技術(shù)帶來新優(yōu)勢：先進應(yīng)力控制技術(shù)亦是必須的,。為減少或消除造成良率下降之墊片損傷,，在銅質(zhì)墊片加上鋁帽將能減少對易碎低K/高K介電的負面效應(yīng)。以先進工藝驅(qū)動在有效區(qū)域上墊片的測試,，以低沖擊的探針卡,，避免接觸所產(chǎn)生阻抗問題。另一個可能損害到晶圓的來源是探針力...

近年來,，半導(dǎo)體作為信息產(chǎn)業(yè)的基石和兵家必爭之地成為本輪貿(mào)易戰(zhàn)的焦點,。2019年，中美摩擦,、日韓半導(dǎo)體材料爭端對全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)競爭格局也帶來了較大的影響,。在自主可控發(fā)展策略指導(dǎo)下、在資本與相關(guān)配套政策扶植下,，中國大陸正在也必將成為全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)擴張寶地，未來幾年...

據(jù)SEMI數(shù)據(jù)統(tǒng)計,，2020年及2021年,，全球半導(dǎo)體測試設(shè)備市場規(guī)模或?qū)⒎謩e達到52.2億美元及56.1億美元,。隨著國內(nèi)半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,，多個晶圓廠及實驗室的建立，國內(nèi)探針臺市場規(guī)模2019年約為10.25億元,，2022年將增長到15.69億元,。隨著半導(dǎo)體行...

在工藝方面，常用的測試探針是由針頭,、針管,、彈簧這三個組件構(gòu)成的，測試探針中的彈簧是測試探針使用壽命的關(guān)鍵因素,，電鍍處理過的彈簧使用壽命高,，不會生銹，也能提高測試探針是持久性和導(dǎo)電性,。因此,，電鍍工藝是生產(chǎn)半導(dǎo)體測試探針的主要技術(shù)，而國內(nèi)的電鍍工藝尚且有待突破,。長...

晶圓測試是在半導(dǎo)體器件制造過程中執(zhí)行的一個步驟,。在此步驟中，在將晶圓送至芯片準備之前執(zhí)行,，晶圓上存在的所有單個集成電路都通過對其應(yīng)用特殊測試模式來測試功能缺陷,。晶圓測試由稱為晶圓探針器的測試設(shè)備執(zhí)行,。晶圓測試過程可以通過多種方式進行引用：晶圓終端測試(WFT)...

高性能密閉微暗室有效屏蔽：腔體采用導(dǎo)電的處理工藝，確保了各零件之間的導(dǎo)通狀態(tài)從而達到全屏蔽的效果,，降低系統(tǒng)噪聲,，有效屏蔽外界干擾，并提供低漏電流保護,，為微弱電信號測試提供了合理的測試環(huán)境,；同時也注意零件配合以及裝配的同時，保證內(nèi)部的密封性,。對于一些特殊的器件/...

對于當今的多芯片（multi-diepackages）封裝,，例如堆疊芯片級封裝(SCSP)或系統(tǒng)級封裝(SiP)–開發(fā)用于識別已知測試芯片(KTD)和已知良好芯片(KGD)的非接觸式(RF)探針對提高整體系統(tǒng)產(chǎn)量至關(guān)重要。晶圓探針臺還可以在晶圓劃片線上執(zhí)行任何...

盡管半導(dǎo)體測試探針國產(chǎn)化迫在眉睫,，但從技術(shù)的角度來看,，要想替代進口產(chǎn)品卻并不容易。業(yè)內(nèi)人士指出,，國內(nèi)半導(dǎo)體測試探針還只能用于要求不高的測試需求,，比如可靠性測試國產(chǎn)探針可以替代很多，但功能性測試和性能測試還有待突破,。彈簧測試探針主要的技術(shù)是精微加工和組裝能力,，涉...

探針卡沒焊好：1．探針卡針焊得不到位；2．基板上銅箔剝落,，針焊接不牢固,，或焊錫沒有焊好而造成針虛焊；3．探針卡布線斷線或短路,；背面有突起物,，焊錫線頭針尖磨平：1.針在使用很長時間后尖正常損耗；2.操作工用過粗的砂子,；3.砂針尖時用力過猛,；4.砂得時間過長；針尖...

手動探針臺的使用方式：待測點位置確認好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢,，以防動作過大誤傷芯片,，當探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋...

探針臺概要：晶圓探針臺是在半導(dǎo)體開發(fā)和制造過程中用于晶片電氣檢查的設(shè)備,。在電氣檢查中,，通過探針或探針卡向晶片上的各個設(shè)備提供來自測量儀器或測試器的測試信號，并返回來自設(shè)備的響應(yīng)信號,。在這種情況下,，晶片探測器用于輸送晶片并接觸設(shè)備上的預(yù)定位置。探針臺是檢測芯片的...

探針臺是半導(dǎo)體（包括集成電路,、分立器件,、光電器件,、傳感器）行業(yè)重要的檢測裝備之一，其普遍應(yīng)用于復(fù)雜,、高速器件的精密電氣測量,，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本,。探針臺用于晶圓加工之后,、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié)，負責晶圓的輸送與定位,，使晶...

高精度探針臺：目前世界出貨量的型號吸收了很新的工藝科技例如OTS,，QPU和TTG相關(guān)技術(shù)，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計及多種測試條件提供保證,。特性1：OTS-近的位置對正系統(tǒng)（光學(xué)目標對準）OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其位置的精度,。這是非...

在設(shè)備方面，生產(chǎn)半導(dǎo)體測試探針的相關(guān)設(shè)備價格較高,，國內(nèi)廠商沒有足夠的資金實力,，采購日本廠商的設(shè)備。另一方面,，對于半導(dǎo)體設(shè)備而言,，產(chǎn)業(yè)鏈各個環(huán)節(jié)均會采購定制化的設(shè)備，客戶提出自身需求和配置,，上游設(shè)備廠商通過與大型客戶合作開發(fā)，生產(chǎn)出經(jīng)過優(yōu)化的適合該客戶的設(shè)備,。因...

探針臺市場逐年增長：半導(dǎo)體測試對于良率和品質(zhì)控制至關(guān)重要,，是必不可少的環(huán)節(jié)，主要涉及兩種測試（CP測試,、FT測試等）,、三種設(shè)備（探針臺、測試機,、分選機等）,。根據(jù)半導(dǎo)體產(chǎn)線投資配置規(guī)律，測試設(shè)備在半導(dǎo)體設(shè)備投資的占比約為8%,，次于晶圓制造裝備,，其中測試機、分選機...

半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的探測,，可略分為三大類：1.參數(shù)探測：提供制造期間的裝置特性測量,；2.晶圓探測：當制造完成要進行封裝前，在一系列的晶圓上(wafersort)測試裝置功能,；3.以探針臺為基礎(chǔ)的晶圓處理探測(FinalTest)：在出貨給顧客前,，對封裝完成的裝置...

探針臺可以將電探針,、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器/半導(dǎo)體測試系統(tǒng)配合來測試芯片/半導(dǎo)體器件,。這些測試可以很簡單,，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以很復(fù)雜,，包括微電路的完整功能測試,。可以在將晶圓鋸成單個管芯之前或之后進行測試,。在晶圓級別的測試允...

手動探針臺的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤,，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上,。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移動至顯微鏡下,。4.顯微鏡...

手動探針臺的使用方式：待測點位置確認好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢,，以防動作過大誤傷芯片，當探針針尖懸空于被測點上空時,，可先用Y軸旋...

探針臺如何工作：探針臺可以固定晶圓或芯片,，并精確定位待測物。手動探針臺的使用者將探針臂和探針安裝到操縱器中,，并使用顯微鏡將探針尖銳端放置到待測物上的正確位置,。一旦所有探針尖銳端都被設(shè)置在正確的位置，就可以對待測物進行測試,。對于帶有多個芯片的晶圓,，使用者可以抬起...

為什么要射頻探測？由于器件小形化及高頻譜的應(yīng)用,，電路尺寸不斷縮小,，類似微帶線及PCB版本Pad的測試沒有物理接口，使得儀表本身無法與待測物進行直接連接,，如果人為的焊接射頻接口難免會引入不確定的誤差,，所以射頻探針的使用完美的解決了這個問題。射頻探頭和校準基板允許...

探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)以及光電行業(yè)的測試,。探針臺從操作上來區(qū)分有：手動,，半自動，全自動,。從功能上來區(qū)分有：高溫探針臺,，低溫探針臺，RF探針臺,，LCD平板探針臺,，霍爾效應(yīng)探針臺,，表面電阻率探針臺?？v觀國內(nèi)外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異,，即主要由x-...

平面電機x-y步進工作臺：平面電機由定子和動子組成，它和傳統(tǒng)的步進電機相比其特殊性就是將定子展開,，定子是基礎(chǔ)平臺,，動子和定子間有一層氣墊，動子浮于氣墊上,，而可編程承片臺則安裝在動子之上,。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺，由于動子和定子間無相對摩擦故無磨損,，使用壽命長,。而...

手動探針臺的使用方式：待測點位置確認好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片,，當探針針尖懸空于被測點上空時,，可先用Y軸旋...

半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中的探測，可略分為三大類：1.參數(shù)探測：提供制造期間的裝置特性測量,；2.晶圓探測：當制造完成要進行封裝前,，在一系列的晶圓上(wafersort)測試裝置功能；3.以探針臺為基礎(chǔ)的晶圓處理探測(FinalTest)：在出貨給顧客前,，對封裝完成的裝置...

高精度探針臺：目前世界出貨量的型號吸收了很新的工藝科技例如OTS,，QPU和TTG相關(guān)技術(shù)，這種全新的高精度系統(tǒng)為下一代小型化的設(shè)計及多種測試條件提供保證,。特性1：OTS-近的位置對正系統(tǒng)（光學(xué)目標對準）OTS通過對照相機相對位置的測量來保證其位置的精度,。這是非...

探針臺的分類：探針臺可以按照使用類型與功能來劃分，也可以按照操作方式來劃分成：手動探針臺,、半自動探針臺、全自動探針臺,。手動探針臺：手動探針臺系統(tǒng)顧名思義是手動控制的,，這意味著晶圓載物臺和卡盤、壓盤,、顯微鏡以及定位器/操縱器都是由使用者手動移動的,。因此一般是在沒...

有數(shù)據(jù)表明探針測試臺的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺的故障，而工作臺故障有許多是對其維護保養(yǎng)不當或盲目調(diào)整造成的,，所以對工作臺的維護與保養(yǎng)就顯得尤為重要?，F(xiàn)在只對自動探針測試臺x-y工作臺的維護與保養(yǎng)作一介紹。平面電機x-y步進工作臺的維護與保養(yǎng)：平面電機由定...