探針臺(tái)是檢測(cè)芯片的重要設(shè)備,，在芯片的設(shè)計(jì)驗(yàn)證階段,，主要工作是檢測(cè)芯片設(shè)計(jì)的功能是否能夠達(dá)到芯片的技術(shù)指標(biāo)，在檢測(cè)過(guò)程中會(huì)對(duì)芯片樣品逐一檢查,，只有通過(guò)設(shè)計(jì)驗(yàn)證的產(chǎn)品型號(hào)才會(huì)量產(chǎn),。晶圓測(cè)試一般在晶圓廠、封測(cè)廠或?qū)ｉT(mén)的測(cè)試代工廠進(jìn)行,，主要用到的設(shè)備為測(cè)試機(jī)和探針臺(tái),。半導(dǎo)體行業(yè)向來(lái)有“一代設(shè)備，一代工藝,，一代產(chǎn)品”的說(shuō)法,。半導(dǎo)體設(shè)備價(jià)值普遍較高，一條先進(jìn)半導(dǎo)體生產(chǎn)線投資中,，設(shè)備價(jià)值約占總投資規(guī)模的75%以上,。隨著全球半導(dǎo)體行業(yè)市場(chǎng)規(guī)模不斷擴(kuò)大，半導(dǎo)體設(shè)備市場(chǎng)也呈增長(zhǎng)趨勢(shì),。根據(jù)SEMI統(tǒng)計(jì),，全球半導(dǎo)體設(shè)備銷(xiāo)售額從2013年的318億美元增長(zhǎng)至2018年的645億美元,，年復(fù)合增長(zhǎng)率約為15.2%，但受到半導(dǎo)體行業(yè)景氣度下滑及宏觀經(jīng)濟(jì)環(huán)境影響,，2019年,、2020年一季度增長(zhǎng)有所下降，但預(yù)計(jì)疫病過(guò)后,，將恢復(fù)增長(zhǎng),。上海勤確科技有限公司與廣大客戶攜手共創(chuàng)碧水藍(lán)天。山東磁場(chǎng)探針臺(tái)供應(yīng)商

x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)：無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)還是自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái),，x-y向工作臺(tái)都是其很中心的部分,。有數(shù)據(jù)表明探針測(cè)試臺(tái)的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺(tái)的故障，而工作臺(tái)故障有許多是對(duì)其維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)或盲目調(diào)整造成的,，所以對(duì)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要?，F(xiàn)在小編只對(duì)自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)作一一介紹。平面電機(jī)由定子和動(dòng)子組成,，它和傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)相比其特殊性就是將定子展開(kāi)，定子是基礎(chǔ)平臺(tái),，動(dòng)子和定子間有一層氣墊,，動(dòng)子浮于氣墊上，而可編程承片臺(tái)則安裝在動(dòng)子之上,。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái),，由于動(dòng)子和定子間無(wú)相對(duì)摩擦故無(wú)磨損，使用壽命長(zhǎng),。山東智能探針臺(tái)配件廠家探針卡沒(méi)焊到位,，是因?yàn)楹稿a時(shí)針受熱要稍微的收縮，使針尖偏離壓點(diǎn)區(qū),。

探針臺(tái)為研究和工程實(shí)驗(yàn)室在測(cè)試運(yùn)行期間移動(dòng)通過(guò)多個(gè)溫度點(diǎn)時(shí),，提供前所未有的自動(dòng)化水平。這種新技術(shù)使探針系統(tǒng)能夠感知,，學(xué)習(xí)和反應(yīng)以多溫度和特征的極其復(fù)雜的環(huán)境,。隨著集成電路產(chǎn)品不斷進(jìn)入汽車(chē)應(yīng)用等更高發(fā)熱量的環(huán)境，在越來(lái)越寬的溫度范圍內(nèi)表征器件性能和耐用性變得越來(lái)越重要,。以前,，大多數(shù)芯片在兩個(gè)溫度點(diǎn)進(jìn)行晶圓級(jí)測(cè)試，通常為20?C（室溫）和90?C?，F(xiàn)在,，該范圍已經(jīng)擴(kuò)大到-40?C至125?C，并且可能需要在此范圍內(nèi)的四個(gè)溫度步驟中進(jìn)行一整套測(cè)試,。某些情況下需要更普遍的范圍,，如-55?C至200?C,，晶圓可靠性測(cè)試可能要求高達(dá)300?C的溫度。

手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域：Failureanalysis集成電路失效分析,；Waferlevelreliability晶元可靠性認(rèn)證,；Devicecharacterization元器件特性量測(cè)；Processmodeling塑性過(guò)程測(cè)試(材料特性分析),；ICProcessmonitoring制成監(jiān)控,；PackagepartprobingIC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試；Flatpanelprobing液晶面板的特性測(cè)試,；PCboardprobingPC主板的電性測(cè)試,；ESD&TDRtestingESD和TDR測(cè)試；Microwaveprobing微波量測(cè)(高頻),；Solar太陽(yáng)能領(lǐng)域檢測(cè)分析,；LED、OLED,、LCD領(lǐng)域檢測(cè)分析,。自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以采用精密滾珠絲杠副和直線導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)型自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)。

半導(dǎo)體設(shè)備的技術(shù)壁壘高,。隨著半導(dǎo)體行業(yè)的迅速發(fā)展,，半導(dǎo)體產(chǎn)品的加工面積成倍縮小，復(fù)雜程度與日俱增,，生產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的制造設(shè)備需要綜合運(yùn)用光學(xué),、物理、化學(xué)等科學(xué)技術(shù),，具有技術(shù)壁壘高,、制造難度大及研發(fā)投入高等特點(diǎn)。半導(dǎo)體器件生產(chǎn)中,，從半導(dǎo)體單晶片到制成成品,，須經(jīng)歷數(shù)十甚至上百道工序。為了確保產(chǎn)品性能合格,、穩(wěn)定可靠,，并有高的成品率，根據(jù)各種產(chǎn)品的生產(chǎn)情況,，對(duì)所有工藝步驟都要有嚴(yán)格的具體要求,。因而，在生產(chǎn)過(guò)程中必須建立相應(yīng)的系統(tǒng)和精確的監(jiān)控措施,，首先要從半導(dǎo)體工藝檢測(cè)著手,。探針尖接觸電阻即探針尖與焊點(diǎn)之間接觸時(shí)的層間電阻。山東智能探針臺(tái)配件廠家

探針卡使芯片與封裝后成品管腳焊接質(zhì)量差，容易引起短路,。山東磁場(chǎng)探針臺(tái)供應(yīng)商

探針治具的校準(zhǔn)：我們希望校準(zhǔn)過(guò)程盡可能的把測(cè)試網(wǎng)絡(luò)中除DUT外所有的誤差項(xiàng)全部校準(zhǔn)掉,，當(dāng)使用探針夾具的方式進(jìn)行操作有兩種校準(zhǔn)方法：1一種方式是直接對(duì)著電纜的SMA端面進(jìn)行校準(zhǔn)，然后通過(guò)加載探針S2P文檔的方式進(jìn)行補(bǔ)償;2第二種方法是直接通過(guò)探針搭配的校準(zhǔn)板在探針的端面進(jìn)行校準(zhǔn),。是要告訴大家如果直接在SMA端面進(jìn)行校準(zhǔn)之后不補(bǔ)償探針頭,，而直接進(jìn)行測(cè)量的話會(huì)帶來(lái)很大的誤差。探針廠商一般都會(huì)提供探針的S2P文檔與校準(zhǔn)片,，校準(zhǔn)片如下圖所示,，上面有Open、Short,、Load及不同負(fù)載的微帶線,。山東磁場(chǎng)探針臺(tái)供應(yīng)商