其實(shí),，在我們的身邊隨處都可以看到半導(dǎo)體的身影,。例如你的電腦,、電視，智能手機(jī),，亦或是汽車等,。半導(dǎo)體像人類大腦一樣，擔(dān)當(dāng)著記憶數(shù)據(jù),，計(jì)算數(shù)值的功能,。探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有手動(dòng)，半自動(dòng),，全自動(dòng) 從功能上來區(qū)分有高溫探針臺(tái),，低溫探針臺(tái)，RF探針臺(tái),，LCD平板探針臺(tái),，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái),。一,、探針的用途。電流或電壓信號(hào)通過探針的傳輸來測(cè)試線路板的開路（Open）或短路（Short）I=U/R,，如果是開路（Open）電阻＝∝：如果是短路（Short）電阻≌0,。探針臺(tái)如果發(fā)現(xiàn)缺陷，產(chǎn)品小組將用測(cè)試數(shù)據(jù)來確保有缺陷的芯片不會(huì)被送到客戶手里,。陜西溫控探針臺(tái)服務(wù)

探針卡沒焊好：1．探針卡針焊得不到位,；2．基板上銅箔剝落，針焊接不牢固,，或焊錫沒有焊好而造成針虛焊,；3．探針卡布線斷線或短路； 背面有突起物,，焊錫線頭針尖磨平：1.針在使用很長(zhǎng)時(shí)間后尖正常損耗,；2.操作工用過粗的砂子；3.砂針尖時(shí)用力過猛,；4.砂得時(shí)間過長(zhǎng),；針尖如磨平，使針尖偏離壓點(diǎn),，測(cè)試無法通過,，針尖接觸面大,，而接觸電阻大影響參數(shù)測(cè)試，所以平時(shí)如果在測(cè)片子之前,，先拿上卡到顯微鏡下檢查針尖有否磨平,，如已磨平應(yīng)及時(shí)換針，操作工在砂針尖時(shí)注意技能,，應(yīng)輕輕打磨針尖,，而不致于磨平針尖。陜西溫控探針臺(tái)服務(wù)探針臺(tái)測(cè)試過程中使用的電學(xué)規(guī)格隨測(cè)試的目的而有所不同,。

“精確度”是探測(cè)儀器基本的指針,，涵蓋定位、溫度及生產(chǎn)率等三個(gè)層面,。首先,，必須能穩(wěn)定、精確地探測(cè)到小型墊片,，載臺(tái)系統(tǒng)亦須精確,、能直接驅(qū)動(dòng)晶圓托盤，并在晶圓移動(dòng)的過程中準(zhǔn)確地將晶圓和晶圓對(duì)位,；其次,，必須具備動(dòng)態(tài)監(jiān)控機(jī)制，確保所挾帶的空氣以監(jiān)控溫度,、掌握可靠度和穩(wěn)定性,；后，必須對(duì)高產(chǎn)出的進(jìn)階移動(dòng)做動(dòng)態(tài)控制才能擁有佳的終結(jié)果,。整體而言,，針腳和墊片之間的相應(yīng)精確度應(yīng)在±1.5μm之間。隨著新工藝的微縮,，為了強(qiáng)化更小晶粒定位的精確性,，需要?jiǎng)討B(tài)的Z軸輔助校正工作，以避免無謂的產(chǎn)出損失,。

探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片,，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓,、電流,、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析,，抽查測(cè)試等用途,。探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上，在顯微鏡配合下,，X-Y移動(dòng)器件,，找到需要探測(cè)的位置。接下來測(cè)試人員通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,，控制前部探針(射頻或直流探針)，準(zhǔn)確扎到被測(cè)點(diǎn),，從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通,，通過測(cè)試機(jī)測(cè)試人員可以得到所需要的電性能參數(shù)。焊針時(shí),，應(yīng)憑自己的經(jīng)驗(yàn),把針尖離壓點(diǎn)中心稍微偏一點(diǎn),。

錸鎢探針的針尖尖部經(jīng)過特殊工藝加工而成，針錐精度高,，具有厲害度和彈性模量,，產(chǎn)品更耐磨、更耐腐蝕,，表面光滑無傷,，光潔度可達(dá)到Ra0.25以下，幾乎為鏡面,。錸鎢探針有不同的針尖類型,，即不同的尖部形狀，例如,，針尖帶平臺(tái),，針尖完全尖以及針尖為圓弧,；探針直徑為0.05-1.2mm,，長(zhǎng)度為15-300mm，尖部為0.08-100μm,。錸鎢探針主要應(yīng)用于半導(dǎo)體,、LED、LCD等行業(yè),，應(yīng)用于探針卡,、探針臺(tái)、芯片測(cè)試,、晶圓測(cè)試和LED芯片測(cè)試等領(lǐng)域,。上海勤確科技有限公司。隨著探針接觸到焊點(diǎn)金屬的亞表層,，這些效應(yīng)將增加,。陜西溫控探針臺(tái)服務(wù)

如果是不合格的芯片，打點(diǎn)器立刻對(duì)這個(gè)不合格的芯片打點(diǎn)。陜西溫控探針臺(tái)服務(wù)

晶圓測(cè)試基本的一點(diǎn)就是：晶圓測(cè)試必須能夠辨別芯片的好壞,，并使合格芯片繼續(xù)進(jìn)入下面的封裝工藝,。為了確保芯片功能和成品率的有效測(cè)試，封裝廠商和設(shè)備制造者需要不斷探索,，進(jìn)而找到高精度,、高效率和低成本的測(cè)試方法，并運(yùn)用新的組裝工藝要求對(duì)晶圓片進(jìn)行探測(cè),，這些要求將引起設(shè)備和工藝過程的重大變化,。探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng),，全自動(dòng),，從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)（低溫探針臺(tái)）,，RF探針臺(tái),，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái),，表面電阻率探針臺(tái),。陜西溫控探針臺(tái)服務(wù)