XRD衍射儀的適用性很廣,，通常用于測(cè)量粉末,、單晶或多晶體等塊體材料,，并擁有檢測(cè)快速,、操作簡(jiǎn)單,、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn),，是一個(gè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)的“良心產(chǎn)品”,。在X射線(xiàn)衍射儀的世界里,，X射線(xiàn)發(fā)生系統(tǒng)（產(chǎn)生X射線(xiàn)）是“太陽(yáng)”，測(cè)角及探測(cè)系統(tǒng)（測(cè)量2θ和獲得衍射信息）是其“眼睛”,，記錄和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)是其“大腦”,，三者協(xié)同工作，輸出衍射圖譜,。在三者中測(cè)角儀是中心部件,，其制作較為復(fù)雜，直接影響實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的精度,。X射線(xiàn)是一種頻率很高的電磁波,，其波長(zhǎng)為10-0.001nm遠(yuǎn)比可見(jiàn)光短得多，因?yàn)槠浯┩噶軓?qiáng),，并且其在磁場(chǎng)中的傳播方向不受影響,。目前x射線(xiàn)粉末衍射技術(shù)是主流的x射線(xiàn)衍射分析技術(shù)。南京衍射儀銷(xiāo)售代理

X射線(xiàn)熒光光譜儀的原理是什么,？ X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成,。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測(cè)樣品,。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(xiàn),，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數(shù)量,。然后,，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。 近年來(lái),，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,，已成為一種普遍應(yīng)用于冶金、地質(zhì),、有色,、建材、商檢,、環(huán)保,、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也普遍,。 　　大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,，可分析固體、粉末,、熔珠,、液體等樣品，分析范圍為Be到U,。并且具有分析速度快,、測(cè)量范圍寬,、干擾小的特點(diǎn)。浙江奧林巴斯XRD定制衍射儀優(yōu)劣會(huì)嚴(yán)重影響X射線(xiàn)衍射數(shù)據(jù)的質(zhì)量,。

一個(gè)小晶體衍射X射線(xiàn),，其衍射方向是與晶體的周期性（d）有關(guān)的。一個(gè)衍射總可找到一個(gè)晶面族HKL,，使它與入射線(xiàn)在此面族上符合反射關(guān)系,，就以此面族的符號(hào)HKL作為此衍射之指數(shù)。對(duì)于x射線(xiàn)衍射,，當(dāng)光程差等于波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí),，晶面的散射線(xiàn)將加強(qiáng)，此時(shí)滿(mǎn)足的條件為2dsinθ=nλ---布拉格方程,，其中,，d為晶面間距,，θ為入射線(xiàn),，反射線(xiàn)與反射晶面之間的夾角，λ為波長(zhǎng),，n為反射級(jí)數(shù),，布拉格方程是x射線(xiàn)在晶體產(chǎn)生衍射時(shí)的必要條件而非充分條件。有些情況下晶體雖然滿(mǎn)足布拉格方程,，但不一定出現(xiàn)衍射,，即所謂系統(tǒng)消光。

根據(jù)布拉格公式說(shuō)明為什么低衍射角區(qū)的眼射線(xiàn)強(qiáng)度高于高角區(qū)：新回答 ：這個(gè)問(wèn)題是不正確的,，請(qǐng)注意,，布拉格公式是衍射的幾何條件，是衍射的必要條件,，不是充分條件,！滿(mǎn)足其后，還必須滿(mǎn)足結(jié)構(gòu)因子不為0（越大當(dāng)然強(qiáng),，其他條件一樣的話(huà)）才能衍射,，才有強(qiáng)度！事實(shí)上還和重復(fù)因子等有關(guān),，建議多看相關(guān)書(shū)籍,。影響粉末x射線(xiàn)衍射圖效果的因素有：粉末樣品自身顆粒的大小對(duì)x射線(xiàn)衍射分析測(cè)試結(jié)果有比較大的影響；樣品架裝填粉末樣品量不同對(duì)衍射結(jié)果有直接的影響,；對(duì)于少量樣品或微量試樣采用橫式填樣法更加科學(xué)合理,。X射線(xiàn)單晶體衍儀器分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽,。

X射線(xiàn)衍射法,，對(duì)樣品測(cè)試收費(fèi)要遠(yuǎn)高于紅外光譜的,。如果你是單純想測(cè)量薄膜的精確厚度，可以用紅外光譜法（IR),精確度可達(dá)cm^(-1)量級(jí),。在紅外光譜范圍內(nèi),，1000cm^(-1)=10μm,1cm^(-1)=0.01μm. 由于入射到膜的內(nèi)外層表面的反射光達(dá)到一定相位差時(shí)會(huì)引起干涉，通過(guò)薄膜兩個(gè)表面對(duì)紅外線(xiàn)的透射-反射-反射光與一次透射光形成的干涉條紋,。干涉條紋有三四十個(gè)波峰-波谷之多,，分布在一定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)；根據(jù)測(cè)定結(jié)果,，利用公式計(jì)算出薄膜的厚度,。該方法操作簡(jiǎn)便,測(cè)定速度快,應(yīng)用于實(shí)際樣品的無(wú)損測(cè)定,結(jié)果滿(mǎn)意。 高穩(wěn)定性的X射線(xiàn)發(fā)生器控制系統(tǒng),，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度,。金華衍射儀大概多少錢(qián)

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X射線(xiàn)衍射照相法的原理是什么,？ 照相法以光源發(fā)出的特征X射線(xiàn)照射多晶樣品，并用底片記錄衍射花樣,。根據(jù)樣品與底片的相對(duì)位置,，照相法可以分為德拜法、聚焦法其中德拜法應(yīng)用為普遍,。 當(dāng)一束單色X射線(xiàn)入射到晶體時(shí),，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線(xiàn)波長(zhǎng)有 X射線(xiàn)衍射分析相同數(shù)量級(jí),，故由不同原子散射的X射線(xiàn)相互干涉,，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線(xiàn)衍射，衍射線(xiàn)在空間分布的方位和強(qiáng)度,，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān),。這就是X射線(xiàn)衍射的基本原理。南京衍射儀銷(xiāo)售代理

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