振動是自然界較普遍的現(xiàn)象之一,，是指物體在平衡位置附近的往復(fù)運(yùn)動，在振動的過程中,，振動物體的一些物理參數(shù),，如位移、速度等,，將發(fā)生反復(fù)變化,，由此對日常生活和電子工程帶來一定的危害。對于電工電子產(chǎn)品而言,，在產(chǎn)品包裝運(yùn)輸,、安裝及使用過程中，都會發(fā)生振動,，這種振動一般是隨機(jī)且無規(guī)律的,，為提前確保產(chǎn)品到客戶手里可正常使用，國家標(biāo)準(zhǔn)中針對電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn),，也明確定義了振動的測試標(biāo)準(zhǔn),。 振動的危害 振動會影響精密儀器設(shè)備的功能,，加劇構(gòu)件的疲勞和磨損,，從而縮短機(jī)器和結(jié)構(gòu)物的使用壽命 引起結(jié)構(gòu)的大變形破壞，產(chǎn)生巨大損失 導(dǎo)致產(chǎn)品性能和工作狀態(tài)的不穩(wěn)定,，甚至產(chǎn)品的損壞 降低行業(yè)產(chǎn)品競爭力 破壞企業(yè)品牌形象 產(chǎn)生更高的費(fèi)用和售后人力振動測試是工程領(lǐng)域中一種重要的實(shí)驗(yàn)手段,，用于評估機(jī)械系統(tǒng)、構(gòu)件或設(shè)備在受到振動時(shí)的性能和耐久性,。機(jī)柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)

 振動測試在工程設(shè)計(jì)中,，有時(shí)只需知道低階（如一、二階）固有頻率,、振型以及阻尼系數(shù),，可用簡易方法測定這些參量固有頻率測定

用敲擊或突然卸載使系統(tǒng)產(chǎn)生自由振動,記錄其衰減波形并與儀器中的時(shí)標(biāo)信號比較,或?qū)⑿盘柊l(fā)生器產(chǎn)生的固定頻率正弦波和衰減波形輸入射線示波器,，由示波器顯示的利薩如圖形求得一、二階固有頻率,。如果有激振器或振動臺,，則可對系統(tǒng)進(jìn)行步進(jìn)頻率激振或低速掃頻激振以尋找共振頻率，在小阻尼時(shí)共振頻率近似等于固有頻率,。 

機(jī)柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)振動是電子設(shè)備的重要質(zhì)量特性之一,。

 振動測試在工程設(shè)計(jì)中，有時(shí)只需知道低階（如一,、二階）固有頻率,、振型以及阻尼系數(shù)，可用簡易方法測定這些參量：1,、振型測定,，手持木質(zhì)或鋁質(zhì)探針接觸被測系統(tǒng)各點(diǎn)，由撞擊聲音（或憑手感）測定所有不振動點(diǎn)的位置,，即節(jié)線位置,。對水平放置的平板型系統(tǒng)，可在平板上撒上砂粒,，振動時(shí)砂粒將聚集到節(jié)線上,，由節(jié)線分布情況即可大致判斷振型。2,、阻尼測定,，可采用衰減振動法、共振法和相位法,。衰減振動法是用記錄儀記錄自由振動的衰減波形,，由相鄰?fù)虻膬纱位驍?shù)次的振幅的衰減率算出阻尼值；共振法是由共振時(shí)振幅和共振區(qū)頻率帶寬算出阻尼值,；相位法是由共振區(qū)相位隨頻率變化關(guān)系算出阻尼值,。

 一般情況下振動試驗(yàn)的方向是三個(gè)方向，也有只需要做水平方向或只做垂直方向的,；

振動試驗(yàn)屬于機(jī)械破壞性試驗(yàn),，大多數(shù)情況下是不需要在通電狀態(tài)下做的，而有的振動試驗(yàn)專門有功能性試驗(yàn)就需要振動試驗(yàn)過程中一直帶電振動,，如GJB150A-2009螺旋槳式飛機(jī)振動和GB21563中的功能性振動試驗(yàn)都是需要帶電試驗(yàn)的,。

做為用戶需要知道振動試驗(yàn)完成后如何判定，一般情況下只判定樣品外觀結(jié)構(gòu)無損壞,，螺釘無脫落等,；若樣品振動試驗(yàn)過程中和試驗(yàn)后通電無異常可以寫上產(chǎn)品上電能正常工作,。

為了進(jìn)行振動測試,，工程師通常會使用振動臺來產(chǎn)生規(guī)定頻率和幅度的振動,，以此來模擬真實(shí)世界中的振動條件。

正弦振動檢測是能用一項(xiàng)正弦函數(shù)表達(dá)式表達(dá)其運(yùn)動規(guī)律的周期運(yùn)動,。例如凡是旋轉(zhuǎn),、脈動、振蕩（在船舶,、飛機(jī),、車輛、空間飛行器上所出現(xiàn)的）所產(chǎn)生的振動均是正弦振動,。正弦振動測試的目的是在試驗(yàn)室內(nèi)模擬電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸,、儲存、使用過程中所遭受的振動及其影響,，并考核其適應(yīng)性,。它的試驗(yàn)條件由振動頻率范圍、振動量,、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間（次數(shù)）共同確定,。振動頻率范圍表示振動測試由某個(gè)頻率點(diǎn)到某個(gè)頻率點(diǎn)進(jìn)行往復(fù)掃頻。例如：試驗(yàn)頻率范圍5-50Hz,，表示由5Hz到50Hz進(jìn)行往復(fù)掃頻,。什么叫振動測試和環(huán)境測試？機(jī)柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)

電子電氣產(chǎn)品的振動測試是怎樣做的?都有什么檢測項(xiàng)目?機(jī)柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)

上海天梯檢測技術(shù)有限公司較新檢測項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn) 15,、IP防護(hù)等級（外殼防護(hù)試驗(yàn)）： 外殼防護(hù)等級（IP代碼）：GB 4208-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)R：水試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：GB/T 2423.38-2008 16,、低溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.35-2005 17、高溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗(yàn) GB/T 2423.36-2005 18,、溫度（低溫,、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機(jī)）綜合 19,、溫度（低溫,、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗(yàn)： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合 機(jī)柜振動測試標(biāo)準(zhǔn)

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