只有在觸發(fā)脈沖Ug到來時,，負載RL上才有電壓UL輸出Ug到來得早,，可控硅模塊導通的時間就早,；Ug到來得晚，可控硅模塊導通的時間就晚,。通過改變控制極上觸發(fā)脈沖Ug到來的時間,，就可以調(diào)節(jié)負載上輸出電壓的平均值UL(陰影部分的面積大小),。在電工技術(shù)中,，常把交流電的半個周期定為180°，稱為電角度,。

這樣,，在U2的每個正半周，從零值開始到觸發(fā)脈沖到來瞬間所經(jīng)歷的電角度稱為控制角α,；在每個正半周內(nèi)可控硅模塊導通的電角度叫導通角θ,。很明顯，α和θ都是用來表示可控硅模塊在承受正向電壓的半個周期的導通或阻斷范圍的,。通過改變控制角α或?qū)ń铅?，改變負載上脈沖直流電壓的平均值UL，實現(xiàn)了可控整流,。 淄博正高電氣有限公司重信譽,、守合同，嚴把產(chǎn)品質(zhì)量關(guān),，熱誠歡迎廣大用戶前來咨詢考察,，洽談業(yè)務(wù)！上海雙向可控硅模塊

可控硅模塊的應(yīng)用領(lǐng)域

該智能模塊應(yīng)用于控溫,、調(diào)光,、勵磁、電鍍,、電解,、充放電、電焊機,、等離子拉弧,、逆變電源等需對電力能量大小進行調(diào)整和變換的場合,，如工業(yè),、通訊,、**等各類電氣操控、電源等,，依據(jù)還可經(jīng)過模塊的操控端口與多功用操控板聯(lián)接,，結(jié)束穩(wěn)流、穩(wěn)壓,、軟啟動等功用,，并可結(jié)束過流、過壓,、過溫,、缺持平維護功用。

可控硅模塊的操控辦法

經(jīng)過輸入模塊操控接口一個可調(diào)的電壓或許電流信號,，經(jīng)過調(diào)整該信號的大小即可對模塊的輸出電壓大小進行滑潤調(diào)度,，結(jié)束模塊輸出電壓從0V至任一點或悉數(shù)導通的進程。

電壓或電流信號可取自各種操控外表,、核算機D/A輸出,，電位器直接從直流電源分壓等各種辦法；操控信號選用0～5V,，0～10V,，4～20mA三種對比常用的操控辦法。

可控硅模塊與其它功率器件一樣,，工作時由于自身功耗而發(fā)熱。如果不采取適當措施將這種熱量散發(fā)出去,，就會引起模塊管芯PN結(jié)溫度急劇上升,。致使器件特性惡化，直至完全損壞,。晶閘管的功耗主要由導通損耗,、開關(guān)損耗、門極損耗三部分組成,。在工頻或400Hz以下頻率的應(yīng)用中相當主要的是導通損耗,。為了確保器件長期可靠地工作，設(shè)計時散熱器及其冷卻方式的選擇與電力半導體模塊的電流電壓的額定值選擇同等重要,，千萬不可大意,！散熱器的常用散熱方式有：自然風冷、強迫風冷,、熱管冷卻,、水冷、油冷等,?？紤]散熱問題的總原則是：控制模塊中管芯的結(jié)溫Tj不超過產(chǎn)品數(shù)據(jù)表給定的額定結(jié)溫

可控硅模塊的分類：

1,、以關(guān)斷、導通及控制方式來分類：可控硅按其關(guān)斷,、導通及控制方式可分為普通可控硅,、雙向可控硅、逆導可控硅,、門極關(guān)斷可控硅（GTO）,、BTG可控硅、溫控可控硅和光控可控硅等多種,。

2,、以引腳和極性來分類：可控硅按其引腳和極性可分為二極可控硅、三極可控硅和四極可控硅,。

3,、以封裝形式來分類：可控硅按其封裝形式可分為金屬封裝可控硅、塑封可控硅和陶瓷封裝可控硅三種類型,。其中,，金屬封裝可控硅又分為螺栓形、平板形,、圓殼形等多種,；塑封可控硅又分為帶散熱片型和不帶散熱片型兩種。

4,、以電流容量來分類：可控硅按電流容量可分為大功率可控硅,、**率可控硅和小功率可控硅三種。通常,，大功率可控硅多采用金屬殼封裝,，而中、小功率可控硅則多采用塑封或陶瓷封裝,。

5,、以關(guān)斷速度來分類：可控硅按其關(guān)斷速度可分為普通可控硅和高頻（快速）可控硅。

6,、過零觸發(fā),，一般是調(diào)功，即當正弦交流電交流電電壓相位過零點觸發(fā),，必須是過零點才觸發(fā),，導通可控硅參數(shù)介紹

7、非過零觸發(fā),，無論交流電電壓在什么相位的時候都可觸發(fā)導通可控硅,，常見的是移相觸發(fā)。

過電壓會對可控硅模塊造成損壞,，如果要想保護可控硅不受其損壞，就要了解過電壓的產(chǎn)生原因,，從而去避免防止受損，下面正高電氣就來講講過電壓會對可控硅模塊造成怎樣的損壞,？以及過電壓產(chǎn)生的原因,。

可控硅模塊對過電壓非常敏感，當正向電壓超過udrm值時,，可控硅會誤導并導致電路故障,；當施加的反向電壓超過urrm值時，可控硅模塊會立即損壞,。因此,，需要研究過電壓產(chǎn)生的原因和過電壓的方法。

過電壓主要是由于供電電源或系統(tǒng)儲能的急劇變化,，使系統(tǒng)轉(zhuǎn)換太晚,，或是系統(tǒng)中原本積聚的電磁能量消散太晚。主要研究發(fā)現(xiàn),，由于外界沖擊引起的過電壓主要有兩種類型,，如雷擊和開關(guān)開啟和關(guān)閉引起的沖擊電壓。雷擊或高壓斷路器動作產(chǎn)生的過電壓是幾微秒到幾毫秒的電壓尖峰,，對可控硅模塊非常危險,。

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導通角與模塊輸出電流的關(guān)系：山東可控硅模塊的導通角與模塊能輸出的器強大電流有直接關(guān)系,，模塊的標稱電流是強大導通角時能輸出的強大電流。在小導通角（輸出電壓與輸入電壓比值很?。┫螺敵龅碾娏鞣逯岛艽?，但電流的有效值很小（直流儀表一般顯示平均值,，交流儀表顯示非正弦電流時比實際值?。禽敵鲭娏鞯挠行е岛艽?，半導體器件的發(fā)熱與有效值的平方成正比,，會使模塊嚴重發(fā)熱甚至燒毀。因此，山東可控硅模塊應(yīng)選擇在強大導通角的65％以上工作,，及控制電壓應(yīng)在5V以上,。上海雙向可控硅模塊

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