岱美儀器技術(shù)服務(wù)2025-04-05

晶圓缺陷檢測設(shè)備是用于檢測半導(dǎo)體晶圓表面和內(nèi)部缺陷的儀器設(shè)備，其性能特點(diǎn)通常包括以下幾個(gè)方面： 1,、精度高：晶圓缺陷檢測設(shè)備需要對微小的缺陷進(jìn)行檢測,，因此精度是其基本的性能指標(biāo)之一?，F(xiàn)代晶圓缺陷檢測設(shè)備的精度可以達(dá)到納米級別。 2,、檢測速度快：隨著半導(dǎo)體工業(yè)的發(fā)展,，生產(chǎn)的晶圓越來越多，因此檢測速度成為晶圓缺陷檢測設(shè)備的重要指標(biāo)之一?，F(xiàn)代設(shè)備的檢測速度可以達(dá)到每秒數(shù)百張晶圓,。 3,、檢測范圍廣：晶圓缺陷檢測設(shè)備需要同時(shí)檢測晶圓表面和內(nèi)部缺陷，因此需要具有比較普遍的檢測范圍,，可以檢測不同材料,、不同工藝的晶圓。 我們岱美以過硬的產(chǎn)品質(zhì)量,、完善的售后服務(wù),、認(rèn)真嚴(yán)格的企業(yè)管理，贏得了廣大客戶的認(rèn)可,，歡迎廣大客戶前來咨詢！

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