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芯片測試的關(guān)鍵指標(biāo)有哪些,？

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優(yōu)普士電子(深圳)有限公司2024-11-13

芯片測試的關(guān)鍵指標(biāo)包括測試覆蓋率,、測試準(zhǔn)確率,、測試效率,、測試可靠性等,，以評估測試的全面性和有效性,。

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