產(chǎn)品名稱(chēng):LCD清洗劑光學(xué)鏡片清洗劑芯片模塊清洗劑產(chǎn)品鏈接:/zhizhangtianjiaji-qingxiji/手機(jī)版鏈接:,,包括各種電子元器件、CCD和CMOS圖像感應(yīng)芯片及模塊,、半導(dǎo)體生產(chǎn)裝置零件和腔體、醫(yī)療設(shè)備零部件,、LCD/OLED顯示器,、光學(xué)件、鏡片,、精密加工零部件等,。由于HFEs清洗劑與HCFC-141b性能接近,使用氫氟醚清洗劑進(jìn)行替代的一個(gè)好處是可直接使用原有設(shè)備和工藝,,無(wú)須增加太多的投資,,對(duì)生產(chǎn)的擾動(dòng)也較小。但目前我國(guó)市場(chǎng)上的HFEs清洗劑幾乎均為進(jìn)口,,價(jià)格相對(duì)較高,。目前主要用于高附加值零件的清洗和一些特殊要求的清洗場(chǎng)合??蓮囊韵聝蓚€(gè)方面著手,,提高HFEs清洗劑使用的經(jīng)濟(jì)性。一是通過(guò)完善清洗工藝加強(qiáng)對(duì)HFEs清洗劑的蒸餾回收和再生,,提高重復(fù)利用率,;二是利用與其他溶劑的良好相溶性,添加一些價(jià)廉易得,、清洗性能強(qiáng)的溶劑進(jìn)行復(fù)配,,或與其他一些相對(duì)便宜的清洗劑,如碳?xì)淙軇?、醇醚?lèi)溶劑等組合實(shí)現(xiàn)清洗操作,,這樣既可有效降低HFEs的消耗,,減少運(yùn)行成本,也可提高清洗效果,。目前我司提供清LCD清洗劑光學(xué)鏡片清洗劑芯片模塊清洗劑型號(hào)有以下:ENASOLV2004清洗劑ENASOLV365az精密電子清洗劑ENASOLV氫氟醚系列清洗劑產(chǎn)品具體數(shù)據(jù)資料請(qǐng)聯(lián)系下方人員,。減薄清洗劑,讓您的產(chǎn)品更加精致,,提升市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力,。惠州什么是減薄用清洗劑替代
所述控制器控制所述玻璃加工治具4在所述蝕刻區(qū)3內(nèi)作往復(fù)移動(dòng),,所述主厚度測(cè)量?jī)x32測(cè)量玻璃厚度并且將關(guān)于測(cè)得厚度的信息實(shí)時(shí)發(fā)送到所述控制器,;當(dāng)測(cè)得玻璃厚度達(dá)到預(yù)設(shè)目標(biāo)厚度時(shí),所述控制器停止在所述蝕刻區(qū)3中噴射噴淋液的減薄處理,,并且控制所述玻璃加工治具4向所述沖洗區(qū)2移動(dòng),。一般的,在所述腔室31內(nèi),,減薄處理的具體工藝參數(shù)為:所述玻璃加工治具4的往復(fù)運(yùn)動(dòng)中單程單向時(shí)間設(shè)置為~4s,,來(lái)回往復(fù)一次時(shí)間設(shè)置為3s~8s,往復(fù)移動(dòng)幅度設(shè)置約為180mm左右,;所述噴淋系統(tǒng)控制的噴淋液流量設(shè)置為1500lpm~2400lpm,,在所述腔室31內(nèi)的酸蝕溫度一般設(shè)置為20℃~40℃;在上述參數(shù)下,,玻璃的酸蝕速率一般在μm/min~μm/min,,可有效實(shí)現(xiàn)對(duì)玻璃的整體減薄處理。s2,,完成減薄處理的所述玻璃加工治具4在所述沖洗區(qū)2內(nèi)經(jīng)減薄后初清洗后待機(jī),,所述控制器進(jìn)行次減薄厚度確認(rèn)操作;具體的,,通過(guò)設(shè)置于所述沖洗區(qū)2內(nèi)的所述輔助厚度測(cè)量?jī)x,,進(jìn)行檢測(cè)厚度比較,從而實(shí)現(xiàn)所述減薄厚度確認(rèn)操作,,當(dāng)所述減薄厚度未達(dá)到目標(biāo)厚度時(shí),,所述控制器可控制所述玻璃加工治具4再次回撤至所述腔室31內(nèi)進(jìn)行再次減薄處理。s3,,所述玻璃加工治具4移動(dòng)至所述第三沖洗區(qū)2進(jìn)行減薄后終清洗,。南京什么是減薄用清洗劑主要作用什么地方需要使用 減薄用清洗劑。
產(chǎn)生不良次品,;同時(shí)由于所述側(cè)支撐件44的移動(dòng),,可帶動(dòng)玻璃在所述玻璃加工治具4上的擺動(dòng),從而實(shí)現(xiàn)玻璃與噴淋液的充分均勻接觸。較佳的,,所述底座41和實(shí)施支撐架42上均設(shè)置有若干流通孔,,所述流通孔便于所述玻璃加工治具4上的所述噴淋液流至所述收集槽內(nèi)。實(shí)施例四所述支撐架42包括對(duì)應(yīng)設(shè)置的架體和第二架體,,所述架體和所述第二架體均固定設(shè)置在所述底座41上,,所述架體包括平行對(duì)應(yīng)設(shè)置的兩豎直平板421,所述第二架體為與所述豎直平板421連接的對(duì)應(yīng)兩側(cè)板422,,所述架體和所述第二架體形成盛放部,,玻璃設(shè)置在所述盛放部?jī)?nèi);所述側(cè)板422和所述豎直平板421可均固定設(shè)置于所述底座41上,,也可相互固定連接形成穩(wěn)定的矩形框架,。所述架體和所述第二架體均設(shè)置有若干所述側(cè)支撐件44,且所述側(cè)支撐件44對(duì)應(yīng)所述底支撐件43設(shè)置,。較佳的,,所述架體上固定設(shè)置有若干固定孔,所述側(cè)支撐件44可根據(jù)玻璃的具體尺寸在相應(yīng)所述固定孔上固定設(shè)置,;所述第二架體上設(shè)置有調(diào)節(jié)槽,,對(duì)應(yīng)所述調(diào)節(jié)槽還設(shè)置有固定板423,所述固定板423的兩端分別設(shè)置在對(duì)應(yīng)兩所述側(cè)板422的所述調(diào)節(jié)槽上,,并可在所述調(diào)節(jié)槽內(nèi)調(diào)節(jié)移動(dòng),,從而可使所述玻璃加工治具4適用于不同尺寸的玻璃放置。一般的,。
磁轉(zhuǎn)子12放置在待加工部件20的待加工表面上,用于通過(guò)旋轉(zhuǎn)對(duì)待加工部件20的待加工表面進(jìn)行機(jī)械研磨,,對(duì)待加工表面進(jìn)行減薄,。由于減薄過(guò)程中待加工部件20如inp基晶圓本身不旋轉(zhuǎn),因此,,可以降低拋光減薄過(guò)程中對(duì)待加工部件20如inp基晶圓的擠壓應(yīng)力,,降低待加工部件20如inp基晶圓的機(jī)械加工損傷??蛇x地,,本發(fā)明實(shí)施例中通過(guò)光刻膠鍵合固定待加工部件20和托盤(pán)10。當(dāng)然,,本發(fā)明并不限于此,,在其他實(shí)施例中,待加工部件20和托盤(pán)10還可以采用其他膠體進(jìn)行鍵合固定,?;诖耍鐖D2所示,本發(fā)明實(shí)施例中的拋光減薄裝置還包括熱板14,,該熱板14設(shè)置在托盤(pán)10底部,,用于對(duì)托盤(pán)10進(jìn)行加熱,以使待加工部件20與托盤(pán)10鍵合固定,。具體地,,將待加工部件20背面噴涂厚度約為2μm的光刻膠21,如az4620光刻膠,,然后在托盤(pán)10表面噴涂厚度約為3μm的光刻膠21,,如az4620光刻膠,之后,,將托盤(pán)10光刻膠面向上放于溫度為90℃的熱板14上,,將待加工部件20光刻膠面和托盤(pán)10光刻膠面貼合,在2×10-2mabr真空下,,施加1bar壓強(qiáng)于待加工部件20上進(jìn)行鍵合,,鍵合時(shí)間20min。本發(fā)明實(shí)施例中,,采用噴頭11向待加工部件20的待加工表面噴涂拋光液110,,來(lái)對(duì)待加工部件20的待加工表面進(jìn)行拋光。需要說(shuō)明的是,。如何區(qū)分減薄用清洗劑的的質(zhì)量好壞,。
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,更具體地說(shuō),,涉及一種拋光減薄裝置和拋光減薄方法,。背景技術(shù):采用iii-v族化合物制作的半導(dǎo)體器件和超高速數(shù)字/數(shù)模混合電路等憑借其優(yōu)良的頻率特性,,已經(jīng)成為通訊,、雷達(dá)、制導(dǎo),、空間防御,、高速智能化武器及電子對(duì)抗等現(xiàn)代化裝備的部件之一。在眾多的iii-v族化合物中,,inp(磷化銦)化合物具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì),,這主要得益于其優(yōu)良的材料特性,例如,,inp和ingaas(銦鎵砷)之間的晶格失配很小,,以及電子飽和速率很高等,所以不論是hemt(highelectronmobilitytransistor,,高電子遷移率晶體管)結(jié)構(gòu)還是hbt(heterojunctionbipolartransistor,,異質(zhì)結(jié)雙極晶體管)結(jié)構(gòu),,都具有非常優(yōu)異的高頻、大功率性能,。但是,,inp材料的物理性能卻很差,非常易碎,,很小的碰撞或振動(dòng)都會(huì)導(dǎo)致晶圓碎裂而前功盡棄,,因此,inp材料的制造加工面臨著很多工藝上的難題,。尤其是在超高頻率,、大功率的inp基rfic(射頻集成電路)的制造工藝中,如何在對(duì)inp基晶圓進(jìn)行減薄拋光時(shí),,減小或避免inp基晶圓的損傷是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問(wèn)題之一,。技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:有鑒于此,本發(fā)明提供了一種拋光減薄裝置和拋光減薄方法,,以減小或避免inp基晶圓的減薄拋光損傷,。為實(shí)現(xiàn)上述目的。蘇州哪家公司的減薄用清洗劑的價(jià)格比較劃算,?合肥市面上哪家減薄用清洗劑按需定制
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將待加工部件固定在托盤(pán)上包括:采用光刻膠將待加工部件固定在托盤(pán)上。具體地,,將待加工部件背面噴涂厚度約為2μm的光刻膠,,如az4620光刻膠,然后在托盤(pán)表面噴涂厚度約為3μm的光刻膠,,如az4620光刻膠,,之后,將托盤(pán)光刻膠面向上放于溫度為90℃的熱板上,,將待加工部件光刻膠面和托盤(pán)光刻膠面貼合,,在2×10-2mabr真空下,,施加1bar壓強(qiáng)于待加工部件上進(jìn)行鍵合,,鍵合時(shí)間20min。s102:通過(guò)噴頭向待加工部件的待加工表面噴涂拋光液,,來(lái)對(duì)待加工表面進(jìn)行拋光,;s103:通過(guò)磁轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)對(duì)待加工表面進(jìn)行機(jī)械研磨,來(lái)對(duì)待加工表面進(jìn)行減薄,??蛇x地,,本發(fā)明實(shí)施例中,s102和s103可以交替進(jìn)行,,也就是說(shuō),,控制磁轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn)一段時(shí)間后,控制磁轉(zhuǎn)子停止旋轉(zhuǎn),,并控制噴頭噴涂拋光液,,停止噴涂拋光液后,再次控制磁轉(zhuǎn)子旋轉(zhuǎn),,以此類(lèi)推,。本發(fā)明實(shí)施例中,通過(guò)磁轉(zhuǎn)子和噴頭交替工作,,實(shí)現(xiàn)了減薄和拋光兩種工藝交替作用,,使得減薄和拋光一體化完成,整個(gè)過(guò)程穩(wěn)定,,速度快,,控制性好,重復(fù)度高,,無(wú)粉塵污染,,襯底減薄終厚度達(dá)到20μm,拋光面ra<2nm,。由于減薄過(guò)程中待加工部件20如inp基晶圓本身不旋轉(zhuǎn),,因此,可以降低拋光減薄過(guò)程中對(duì)待加工部件20如inp基晶圓的擠壓應(yīng)力,?;葜菔裁词菧p薄用清洗劑替代