自動厚度測量系統幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪,。人工加載或機器人加載均可,。在線厚度測量系統監(jiān)測控制生產過程中移動薄膜厚度。高達100Hz的采樣率可以在多個測量位置得到,。附件Filmetrics提供各種附件以滿足您的應用需要,。F20系列世界上蕞**的臺式薄膜厚度測量系統只需按下一個按鈕,，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。設置同樣簡單,只需插上設備到您運行Windows?系統計算機的USB端口,并連接樣品平臺,F20已在世界各地有成千上萬的應用被使用.事實上,，我們每天從我們的客戶學習更多的應用.選擇您的F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度（確定所需的波長范圍）要想成功測量光刻膠要面對一些獨特的挑戰(zhàn),， 而 Filmetrics 自動測量系統成功地解決這些問題,。ITO導電膜膜厚儀競爭力怎么樣

F10-HC輕而易舉而且經濟有效地分析單層和多層硬涂層F10-HC以FilmetricsF20平臺為基礎,，根據光譜反射數據分析快速提供薄膜測量結果,。F10-HC先進的模擬算法是為測量聚碳酸酯和其它單層和多層硬涂層(例如，底涂/硬涂層)專門設計的,。全世界共有數百臺F10-HC儀器在工作，幾乎所有主要汽車硬涂層公司都在使用它們,。像我們所有的臺式儀器一樣，F10-HC可以連接到您裝有Windows計算機的USB端口并在幾分鐘內完成設定,。包含的內容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure8軟件FILMeasure讀立軟件(用于遠程數據分析)CP-1-1.3探頭BK7參考材料TS-Hardcoat-4um厚度標準備用燈額外的好處：應用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網上的“手把手”支持(需要連接互聯網)硬件升級計劃。膜厚儀F3-s980 是波長為980奈米的版本,，是為了針對成本敏銳的應用而設計,。

Filmetrics 的技術Filmetrics 提供了范圍廣范的測量生物醫(yī)療涂層的方案：支架： 支架上很小的涂層區(qū)域通常需要顯微鏡類的儀器,。 我們的 F40 在幾十個實驗室內得到使用,，測量鈍化和/或藥 物輸送涂層,。我們有獨特的測量系統對整個支架表面的自動厚度測繪,，只需在測量時旋轉支架,。植入件： 在測量植入器件的涂層時，不規(guī)則的表面形狀通常是為一挑戰(zhàn),。 Filmetrics 提供這一用途的全系列探頭。導絲和導引針： 和支架一樣,，這些器械常常可以用象 F40 這樣的顯微鏡儀器,。導液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可見光譜不透明性決定了 F20-NIR 是這一用途方面全世界眾多實驗室內很受歡迎的儀器,。

F50系列包含的內容：集成光譜儀/光源裝置光纖電纜4",6"and200mm參考晶圓TS-SiO2-4-7200厚度標準BK7參考材料整平濾波器(用于高反射基板)真空泵備用燈型號厚度范圍*波長范圍F50：20nm-70μm380-1050nmF50-UV：5nm-40μm190-1100nmF50-NIR：100nm-250μm950-1700nmF50-EXR：20nm-250μm380-1700nmF50-UVX：5nm-250μm190-1700nmF50-XT：0.2μm-450μm1440-1690nmF50-s980：4μm-1mm960-1000nmF50-s1310：7μm-2mm1280-1340nmF50-s1550：10μm-3mm1520-1580nm額外的好處：每臺系統內建超過130種材料庫,隨著不同應用更超過數百種應用工程師可立刻提供幫助（周一-周五）網上的“手把手”支持(需要連接互聯網)硬件升級計劃Filmetrics F60-t 系列就像我們的 F50產品一樣測繪薄膜厚度和折射率,，但它增加了許多用于生產環(huán)境的功能,。

電介質成千上萬的電解質薄膜被用于光學,，半導體,，以及其它數十個行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜。常見的電介質有:二氧化硅 – 蕞簡單的材料之一, 主要是因為它在大部分光譜上的無吸收性 (k=0),， 而且非常接近化學計量 (就是說,，硅：氧非常接近 1:2)。 受熱生長的二氧化硅對光譜反應規(guī)范,，通常被用來做厚度和折射率標準,。 Filmetrics能測量3nm到1mm的二氧化硅厚度。氮化硅 – 對此薄膜的測量比很多電介質困難,，因為硅：氮比率通常不是3：4, 而且折射率一般要與薄膜厚度同時測量,。 更麻煩的是，氧常常滲入薄膜,，生成一定程度的氮氧化硅,，增大測量難度。 但是幸運的是,，我們的系統能在幾秒鐘內 “一鍵” 測量氮化硅薄膜完整特征!基板材料: 如果薄膜位于粗糙基板 (大多數金屬) 上的話,，一般不能測量薄膜的折射率。晶圓膜厚儀有誰在用

重復性: 0.1 μm (1 sigma)單探頭* ,；0.8 μm (1 sigma)雙探頭*,。ITO導電膜膜厚儀競爭力怎么樣

FSM8018VITE測試系列設備VITE技術介紹：VITE是傅里葉頻域技術,，利用近紅外光源的相位剪切技術（Phasesheartechnology）設備介紹適用于所有可讓近紅外線通過的材料：硅、藍寶石,、砷化鎵,、磷化銦、碳化硅,、玻璃,、石英、聚合物…………應用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)平整度厚度變化(TTV)溝槽深度過孔尺寸、深度,、側壁角度粗糙度薄膜厚度不同半導體材料的厚度環(huán)氧樹脂厚度襯底翹曲度晶圓凸點高度(bumpheight)MEMS薄膜測量TSV深度,、側壁角度...ITO導電膜膜厚儀競爭力怎么樣

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