輪廓儀能夠描繪工件表面波度與粗糙度,并給出其數值的儀器,,采用精密氣浮導軌為直線基準,。輪廓測試儀是對物體的輪廓、二維尺寸,、二維位移進行測試與檢驗的儀器,,作為精密測量儀器在汽車制造和鐵路行業(yè)的應用十分廣范,。(來自網絡)先進的輪廓儀集成模塊60年世界水平半導體檢測技術研發(fā)和產業(yè)化經驗所有的關鍵硬件采用美國、德國,、日本等PI,納米移動平臺及控制Nikon,,干涉物鏡NI,,信號控制板和Labview64控制軟件TMC隔震平臺世界先進水平的計算機軟硬件技術平臺VS2012/64位。幾何特征(關鍵孔徑尺寸,,曲率半徑,,特征區(qū)域的面積和集體,,特征圖形的位置和數量等)?;裘窢栞喞獌x輪廓測量應用
強大的輪廓儀光電一體軟件美國硅谷研發(fā),、中英文自由切換光機電一體化軟硬件集成三維分析處理迅速,,結果實時更新縮放、定位、平移,、旋轉等三維圖像處理自主設定測量閾值,,三維處理自動標注測量模式可根據需求自由切換三維圖像支持高清打印菜單式參數設置,一鍵式操作,,人機界面?zhèn)€性直觀個性化軟件應用支持可進行軟件在線升級和遠程支持服務10年硅谷世界500強研發(fā)經驗(BDMedicalInstrument)光學測量,、軟件系統(tǒng)岱美儀器將為您提供全程的服務?;裘窢栞喞獌x輪廓測量應用LED光源通過多珍孔盤(MPD)和物鏡聚焦到樣品表面上,,從而反射光。
輪廓儀的物鏡知多少,?白光干涉輪廓儀是基于白光干涉原理,,以三維非接觸時方法測量分析樣片表面形貌的關鍵參數和尺寸,,典型結果包括:表面形貌(粗糙度,,平面度,平行度,,臺階高度,錐角等)幾何特征(關鍵孔徑尺寸,,曲率半徑,,特征區(qū)域的面積和集體,,特征圖形的位置和數量等)白光干涉系統(tǒng)基于無限遠顯微鏡系統(tǒng),通過干涉物鏡產生干涉條紋,,使基本的光學顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮鎯x,。因此物鏡是輪廓儀*重要部件,,物鏡的選擇根據功能和檢測的精度提出需求,為了滿足各種精度的需求,,需要提供各種物鏡,例如標配的10×,,還有2.5×,,5×,20×,,50×,,100×,,可選。不同的鏡頭價格有很大的差別,,因此需要量力根據需求選配對應的鏡頭哦。
NanoX-8000系統(tǒng)主要性能?菜單式系統(tǒng)設置,,一鍵式操作,,自動數據存儲?一鍵式系統(tǒng)校準?支持連接MES系統(tǒng),,數據可導入SPC?具備異常報警,,急停等功能,報警信息可儲存?MTBF≥1500hrs?產能:45s/點(移動+聚焦+測量)(掃描范圍50um)?具備Globalalignment&Unitalignment?自動聚焦范圍:±0.3mm?XY運動速度蕞快如果需要了解更多詳細參數,,請聯系我們岱美儀器技術服務有限公司,。我們主要經營鍵合機、光刻機,、輪廓儀,,隔振臺等設備。反射光通過MPD的珍孔減小到聚焦的部分落在CCD相機上,。
輪廓儀的物鏡知多少?白光干涉輪廓儀是基于白光干涉原理,,以三維非接觸時方法測量分析樣片表面形貌的關鍵參數和尺寸,,典型結果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,,平行度,,臺階高度,錐角等)幾何特征(關鍵孔徑尺寸,,曲率半徑,,特征區(qū)域的面積和集體,,特征圖形的位置和數量等)白光干涉系統(tǒng)基于無限遠顯微鏡系統(tǒng),通過干涉物鏡產生干涉條紋,,使基本的光學顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮鎯x,。因此物鏡是輪廓儀蕞河心的部件,物鏡的選擇根據功能和檢測的精度提出需求,,為了滿足各種精度的需求,,需要提供各種物鏡,例如標配的10×,,還有2.5×,,5×,20×,,50×,,100×,可選,。不同的鏡頭價格會有很大的差別,,因此需要量力根據需求選配對應的鏡頭哦。NanoX-8000 Z 軸聚焦:100mm行程自動聚焦,,0.1um移動步進,。歐洲輪廓儀保修期多久
表面三維評定參數由于能更權面,更真實的反應零件表面的特征,?;裘窢栞喞獌x輪廓測量應用
輪廓儀的物鏡知多少?白光干涉輪廓儀是基于白光干涉原理,,以三維非接觸時方法測量分析樣片表面形貌的關鍵參數和尺寸,,典型結果包括:表面形貌(粗糙度,平面度,,平行度,,臺階高度,錐角等)幾何特征(關鍵孔徑尺寸,,曲率半徑,,特征區(qū)域的面積和集體,特征圖形的位置和數量等)白光干涉系統(tǒng)基于無限遠顯微鏡系統(tǒng),,通過干涉物鏡產生干涉條紋,,使基本的光學顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮鎯x。因此物鏡是輪廓儀*重要部件,,物鏡的選擇根據功能和檢測的精度提出需求,,為了滿足各種精度的需求,需要提供各種物鏡,,例如標配的10×,,還有×,,5×,20×,,50×,,100×,可選,。不同的鏡頭價格有很大的差別,,因此需要量力根據需求選配對應的鏡頭哦。 霍梅爾輪廓儀輪廓測量應用