銦錫氧化物與透明導電氧化物液晶顯示器,，有機發(fā)光二極管變異體,，以及絕大多數(shù)平面顯示器技術(shù)都依靠透明導電氧化物(TCO)來傳輸電流，并作每個發(fā)光元素的陽極,。和任何薄膜工藝一樣,，了解組成顯示器各層物質(zhì)的厚度至關(guān)重要,。對于液晶顯示器而言,，就需要有測量聚酰亞胺和液晶層厚度的方法，對有機發(fā)光二極管而言,，則需要測量發(fā)光,、電注入和封裝層的厚度。在測量任何多個層次的時候,，諸如光譜反射率和橢偏儀之類的光學技術(shù)需要測量或建模估算每一個層次的厚度和光學常數(shù)(反射率和k值),。不幸的是，使得氧化銦錫和其他透明導電氧化物在顯示器有用的特性,，同樣使這些薄膜層難以測量和建模,，從而使測量在它們之上的任何物質(zhì)變得困難。Filmetrics的氧化銦錫解決方案Filmetrics已經(jīng)開發(fā)出簡便易行而經(jīng)濟有效的方法,，利用光譜反射率精確測量氧化銦錫,。將新型的氧化銦錫模式和F20-EXR,很寬的400-1700nm波長相結(jié)合，從而實現(xiàn)氧化銦錫可靠的“一鍵”分析,。氧化銦錫層的特性一旦得到確定,，剩余顯示層分析的關(guān)鍵就解決了。 只需按下一個按鈕,，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。授權(quán)膜厚儀當?shù)貎r格

厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨,。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。單點厚度測量：一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng)。測量1nm到13mm的單層薄膜或多層薄膜堆,。大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。F20全世界銷量蕞hao的薄膜測量系統(tǒng)。有各種不同附件和波長覆蓋范圍,。微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當測量斑點只有1微米（μm）時,，需要用公司自己的顯微鏡或者用岱美提供的整個系統(tǒng)。分銷膜厚儀可以試用嗎F50-NIR測厚范圍：100nm-250μm,；波長：950-1700nm,。

濾光片整平光譜響應(yīng)。ND#0.5衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#0.5衰減整平濾波器.ND#1衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#1衰減整平濾波器.ND#2衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見光光譜均勻度+ND#2衰減整平濾波器.420nm高通濾波器.420nm高通濾波器於濾波器架.515nm高通濾波器.515nm高通濾波器於濾波器架.520nm高通濾波器+ND1.520nm高通濾波器+ND#1十倍衰減整平濾波器.520nm高通濾波器+ND#2520nm高通濾波器+ND#2一百倍衰減整平濾波器.550nm高通濾波器550nm高通濾波器於濾波器架.

生物醫(yī)療設(shè)備涂層應(yīng)用生物醫(yī)療器械應(yīng)用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準備方面會用到許多類型的涂層,。有些涂層是為了保護設(shè)備免受腐蝕,，而其他的則是為了預防組織損傷、敢染或者是排異反應(yīng),。藥物傳輸涂層也變得日益普通,。其它生物醫(yī)學器械，如血管成型球囊，具有讀立的隔膜,，必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作,。這些涂層厚度的測量方法各不相同，但有一件事是確定的,。使用普通方法(例如,，在涂層前后稱某一部分的重量)，無法檢測到會導致器械故障的涂層不完全覆蓋或涂層的不均勻性,。F20-UV測厚范圍：1nm - 40μm,；波長：190-1100nm。

非晶態(tài)多晶硅硅元素以非晶和晶體兩種形式存在,在兩級之間是部分結(jié)晶硅,。部分結(jié)晶硅又被叫做多晶硅,。非晶硅和多晶硅的光學常數(shù)(n和k)對不同沉積條件是獨特的，必須有精確的厚度測量,。測量厚度時還必須考慮粗糙度和硅薄膜結(jié)晶可能的風化,。Filmetrics設(shè)備提供的復雜的測量程序同時測量和輸出每個要求的硅薄膜參數(shù)，并且“一鍵”出結(jié)果,。測量范例多晶硅被廣范用于以硅為基礎(chǔ)的電子設(shè)備中,。這些設(shè)備的效率取決于薄膜的光學和結(jié)構(gòu)特性。隨著沉積和退火條件的改變,，這些特性隨之改變,，所以準確地測量這些參數(shù)非常重要。監(jiān)控晶圓硅基底和多晶硅之間,，加入二氧化硅層,，以增加光學對比，其薄膜厚度和光學特性均可測得,。F20可以很容易地測量多晶硅薄膜的厚度和光學常數(shù),，以及二氧化硅夾層厚度。Bruggeman光學模型被用來測量多晶硅薄膜光學特性,。F10-AR在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進行蕞低,、蕞高和平均反射測試。液晶顯示器膜厚儀醫(yī)療設(shè)備

F20-EXR測厚范圍：15nm - 250μm,；波長：380-1700nm,。授權(quán)膜厚儀當?shù)貎r格

TotalThicknessVariation(TTV)應(yīng)用規(guī)格:測量方式:紅外干涉(非接觸式)樣本尺寸:50、75,、100,、200、300mm,，也可以訂做客戶需要的產(chǎn)品尺寸測量厚度:15—780μm(單探頭)3mm(雙探頭總厚度測量)掃瞄方式:半自動及全自動型號,另2D/3D掃瞄(Mapping)可選襯底厚度測量:TTV,、平均值,、*小值、*大值,、公差...可選粗糙度:20—1000?(RMS)重復性:0.1μm(1sigma)單探頭*0.8μm(1sigma)雙探頭*分辨率:10nm請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多關(guān)于本產(chǎn)品的信息。授權(quán)膜厚儀當?shù)貎r格