氚燈電腦要求60mb硬盤空間50mb空閑內(nèi)存usb接口電源要求100-240vac,50-60hz,a選配以下鏡頭,，就可在F20的基礎(chǔ)上升級為新一代的F70膜厚測量儀。鏡頭配件厚度范圍(Index=)精度光斑大小UPG-F70-SR-KIT15nm-50μmnm標(biāo)配mm(可選配下至20μm)LA-CTM-VIS-1mm50μmmμm5μm150μmmμm10μm產(chǎn)品應(yīng)用,，在可測樣品基底上有了極大的飛躍：●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,，即使是藥片,，木材或紙張等粗糙的非透明基底?！癫ＡЩ蛩芰系陌宀?、管道和容器?！窆鈱W(xué)鏡頭和眼科鏡片,。Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀經(jīng)驗(yàn)**無出其右。監(jiān)測控制生產(chǎn)過程中移動薄膜厚度,。高達(dá)100 Hz的采樣率可以在多個測量位置得到,。Filmetrics膜厚儀原產(chǎn)地

顯微鏡轉(zhuǎn)接器F40 系列轉(zhuǎn)接器。

Adapter-BX-Cmount該轉(zhuǎn)接器將 F40 接到 OlympusBX 或 MX 上而不必使用 Olympus 價格較貴的 c-mount 轉(zhuǎn)接器。MA-Cmount-F20KIT該轉(zhuǎn)接器將F20連接到顯微鏡上 (模仿 F40,，光敏度低 5 倍),，包括集成攝像機(jī)、光纖,、TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標(biāo)準(zhǔn),、F40 軟件，和 F40 手冊,。

軟件升級：

UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件,，需要UPG-Spec-to-RT。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件,，需要UPG-RT-to-Thickness,。UPG-F10-AR-HC為 F10-AR 升級的FFT 硬涂層厚度測量軟件。 包括 TS-Hardcoat-4um 厚度標(biāo)準(zhǔn),。 厚度測量范圍 0.25um-15um,。UPG-RT-to-Color&Regions升級的色彩與光譜區(qū)域分析軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。 玻璃膜厚儀出廠價F40-UV范圍：4nm-40μm,，波長：190-1100nm。

F3-CS：

Filmetrics的F3-CS 專門為了微小視野及微小樣品測量設(shè)計(jì), 任何人從**操作到研&發(fā)人員都可以此簡易USB供電系統(tǒng)在數(shù)秒鐘內(nèi)測量如聚對二甲苯和真空鍍膜層厚度.

我們具專利的自動校正功能大幅縮短測量設(shè)置並可自動調(diào)節(jié)儀器的靈敏度, 使用免手持測量模式時, 只需簡單地將樣品面朝下放置在平臺上測量樣品 , 此時該系統(tǒng)已具備可測量數(shù)百種膜層所必要的一切設(shè)置不管膜層是否在透明或不透明基底上.

快速厚度測量可選配FILMeasure厚度測量軟件使厚度測量就像在平臺上放置你的樣品一樣容易, 軟件內(nèi)建所有常見的電介質(zhì)和半導(dǎo)體層（包括C,，N和HT型聚對二甲苯）的光學(xué)常數(shù)(n和k）,厚度結(jié)果會及時的以直覺的測量結(jié)果顯示對于進(jìn)階使用者,，可以進(jìn)一步以F3-CS測量折射率, F3-CS可在任何運(yùn)行Windows XP到 Windows8 64位作業(yè)系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)上運(yùn)行, USB電纜則提供電源和通信功能.

非晶態(tài)多晶硅硅元素以非晶和晶體兩種形式存在, 在兩級之間是部分結(jié)晶硅。部分結(jié)晶硅又被叫做多晶硅,。

非晶硅和多晶硅的光學(xué)常數(shù)(n和k)對不同沉積條件是獨(dú)特的,，必須有精確的厚度測量。 測量厚度時還必須考慮粗糙度和硅薄膜結(jié)晶可能的風(fēng)化,。

Filmetrics 設(shè)備提供的復(fù)雜的測量程序同時測量和輸出每個要求的硅薄膜參數(shù),， 并且“一鍵”出結(jié)果。

FSM拉曼的應(yīng)用：局部應(yīng)力； 局部化學(xué)成分,；局部損傷,。

F10-RT同時測量反射和透射以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜,。 只需傳統(tǒng)價格的一小部分,，用戶就能進(jìn)行比較低/比較高 分析、確定 FWHM 并進(jìn)行顏色分析,。

可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力,。測量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。

包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件BK7 參考材料Al2O3 參考材料Si 參考材料防反光板鏡頭紙

額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計(jì)劃 產(chǎn)品名稱：紅外干涉厚度測量設(shè)備,。Filmetrics膜厚儀原產(chǎn)地

應(yīng)用：襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響),，平整度,。Filmetrics膜厚儀原產(chǎn)地

    1、激光測厚儀是利用激光的反射原理,，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備,。2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計(jì)量儀器,。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為**，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),，達(dá)到要求的軋制厚度,。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工,。3,、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測量,。4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜,、薄片等材料的厚度,，測量范圍寬,、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出,、任意位置置零,、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點(diǎn),。5,、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.6、超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的,，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時,，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度,。Filmetrics膜厚儀原產(chǎn)地