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薄膜測(cè)厚儀膜厚儀現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2021-02-19

F54自動(dòng)化薄膜測(cè)繪Filmetrics F54 系列的產(chǎn)品能以一個(gè)電動(dòng)R-Theta 平臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)以每秒測(cè)繪兩個(gè)點(diǎn)的速度快速的測(cè)繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450毫米

可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無(wú)數(shù)量限制之測(cè)量點(diǎn).*需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方

F54 自動(dòng)化薄膜測(cè)繪只需聯(lián)結(jié)設(shè)備到您運(yùn)行Windows?系統(tǒng)計(jì)算機(jī)的USB端口, 可在幾分鐘輕松設(shè)置

不同的型號(hào)主要是由厚度和波長(zhǎng)范圍作為區(qū)別。通常較薄的膜需要較短波長(zhǎng)作測(cè)量(如F54-UV) 用來(lái)測(cè)量較薄的膜,而較長(zhǎng)的波長(zhǎng)可以用來(lái)測(cè)量更厚,更粗糙,,或更不透明的薄膜 F3-sX系列使用近紅外光來(lái)測(cè)量薄膜厚度,即使有許多肉眼看來(lái)不透光(例如半導(dǎo)體),。薄膜測(cè)厚儀膜厚儀現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)

接觸探頭測(cè)量彎曲和難測(cè)的表面

CP-1-1.3測(cè)量平面或球形樣品,結(jié)實(shí)耐用的不銹鋼單線圈,。

CP-1-AR-1.3可以抑 制背面反射,,對(duì) 1.5mm 厚的基板可抑 制 96%。 鋼制單線圈外加PVC涂層,,比較大可測(cè)厚度 15um,。

CP-2-1.3用于探入更小的凹表面,直徑 17.5mm,。

CP-C6-1.3探測(cè)直徑小至 6mm 的圓柱形和球形樣品外側(cè),。

CP-C12-1.3用于直徑小至 12mm 圓柱形和球形樣品外側(cè)。

CP-C26-1.3用于直徑小至 26mm 圓柱形和球形樣品外側(cè),。

CP-BendingRod-L350-2彎曲長(zhǎng)度 300mm,,總長(zhǎng)度 350mm 的接觸探頭。 用于難以到達(dá)的區(qū)域,,但不會(huì)自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)表面,。

CP-ID-0to90Deg-2用于食品和飲料罐頭內(nèi)壁的接觸探頭。

CP-RA-3mmDia-200mmL-2直徑**小的接觸探頭,,配備微型直角反射鏡,,用來(lái)測(cè)量小至直徑 3mm 管子的內(nèi)壁,,不能自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)表面,。

CP-RA-10mmHigh-2配備微型直角反射鏡,,可以在相隔 10mm 的兩個(gè)平坦表面之間進(jìn)行測(cè)量。 NK值膜厚儀醫(yī)療設(shè)備重復(fù)性: 0.1 μm (1 sigma)單探頭* ,;0.8 μm (1 sigma)雙探頭*,。

硬涂層厚度測(cè)量Filmetrics 系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應(yīng)用,用于測(cè)量硬涂層和其他保護(hù)性薄膜的厚度,。F10-HC 是為彎曲表面和多層薄膜 (例如,, 底涂/硬涂層) 而專門(mén)設(shè)計(jì)的。

汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量,,因?yàn)橥繉雍穸葘?duì)于品質(zhì)至關(guān)重要,。 外側(cè)硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內(nèi)側(cè)的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的。 這些用途中的每一項(xiàng)是特殊的挑戰(zhàn),,而 Filmetrics 已經(jīng)開(kāi)發(fā)出軟件,、硬件和應(yīng)用知識(shí)以便為用戶提供正確的解決方案。

測(cè)量范例帶HC選項(xiàng)的F10-AR收集測(cè)量厚度的反射率信息,。這款儀器采用光學(xué)接觸探頭,,它的設(shè)計(jì)降低了背面反射。接觸探頭安置在亞克力表明,。FILMeature軟件自動(dòng)分析收集的光譜信息,,給出涂層厚度。在這個(gè)例子中,,亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆,。

生物醫(yī)療設(shè)備涂層應(yīng)用生物醫(yī)療器械應(yīng)用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準(zhǔn)備方面會(huì)用到許多類型的涂層。 有些涂層是為了保護(hù)設(shè)備免受腐蝕,,而其他的則是為了預(yù)防組 織損傷,、***或者是排異反應(yīng)。 藥 物傳輸涂層也變得日益普通,。 其它生物醫(yī)學(xué)器械,,如血管成型球囊,具有**的隔膜,,必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作,。

這些涂層厚度的測(cè)量方法各不相同,但有一件事是確定的,。使用普通方法 (例如,,在涂層前后稱某一部分的重量), 無(wú)法檢測(cè)到會(huì)導(dǎo)致器械故障的涂層不完全覆蓋或涂層的不均勻性,。


Filmetrics 提供一系列的和測(cè)繪系統(tǒng)來(lái)測(cè)量 3nm 到 1mm 的單層,、 多層,、 以及單獨(dú)的光刻膠薄膜。

參考材料

備用 BK7 和二氧化硅參考材料,。

BG-Microscope顯微鏡系統(tǒng)內(nèi)取背景反射的小型抗反光鏡

BG-F10-RT平臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)獲取背景反射的抗反光鏡

REF-Al-1mmSubstrate基底 - 高反射率鋁基準(zhǔn)

REF-Al-3mmSubstrate基底 - 高反射率鋁基準(zhǔn)

REF-BK71?" x 1?" BK7 反射基準(zhǔn),。

REF-F10RT-FusedSilica-2Side背面未經(jīng)處理的石英,用于雙界面基準(zhǔn),。

REF-Si-22" 單晶硅晶圓

REF-Si-44" 單晶硅晶圓

REF-Si-66" 單晶硅晶圓

REF-Si-88" 單晶硅晶圓

REF-SS3-Al專為SS-3樣品平臺(tái)設(shè)計(jì)之鋁反射率基準(zhǔn)片

REF-SS3-BK7專為SS-3樣品平臺(tái)設(shè)計(jì)之BK7玻璃反射率基準(zhǔn)片

REF-SS3-Si專為SS-3樣品平臺(tái)設(shè)計(jì)之硅反射率基準(zhǔn)片 F3-sX 系列測(cè)厚范圍:10μm - 3mm,;波長(zhǎng):960-1580nm。晶圓片膜厚儀美元報(bào)價(jià)

幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動(dòng)測(cè)繪,。人工加載或機(jī)器人加載均可,。薄膜測(cè)厚儀膜厚儀現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)

濾光片整平光譜響應(yīng)。

ND#0.5 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見(jiàn)光光譜均勻度 + ND#0.5 衰減整平濾波器.

ND#1 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見(jiàn)光光譜均勻度 + ND#1 衰減整平濾波器.

ND#2 衰減整平濾波器.單倍整平濾波器用于改善可見(jiàn)光光譜均勻度 + ND#2 衰減整平濾波器.

420nm 高通濾波器.420nm 高通濾波器於濾波器架.

515nm 高通濾波器.515nm 高通濾波器於濾波器架.

520nm 高通濾波器 +ND1.520nm 高通濾波器 + ND#1 十倍衰減整平濾波器.

520nm 高通濾波器 + ND#2520nm 高通濾波器 + ND#2 一百倍衰減整平濾波器.

550nm 高通濾波器550nm 高通濾波器於濾波器架. 薄膜測(cè)厚儀膜厚儀現(xiàn)場(chǎng)服務(wù)

岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司主要經(jīng)營(yíng)范圍是儀器儀表,,擁有一支專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和良好的市場(chǎng)口碑,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)致力于為客戶提供良好的磁記錄,半導(dǎo)體,,光通訊生產(chǎn),,測(cè)試儀器的批發(fā),一切以用戶需求為中心,,深受廣大客戶的歡迎,。公司秉持誠(chéng)信為本的經(jīng)營(yíng)理念,在儀器儀表深耕多年,,以技術(shù)為先導(dǎo),,以自主產(chǎn)品為重點(diǎn),發(fā)揮人才優(yōu)勢(shì),,打造儀器儀表良好品牌,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)立足于全國(guó)市場(chǎng),依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力,,融合前沿的技術(shù)理念,,飛快響應(yīng)客戶的變化需求。