不管您參與對(duì)顯示器的基礎(chǔ)研究還是制造,，F(xiàn)ilmetrics 都能夠提供您所需要的...測(cè)量液晶層- 聚酰亞胺,、硬涂層,、液晶、間隙測(cè)量有機(jī)發(fā)光二極管層- 發(fā)光,、電注入,、緩沖墊、封裝對(duì)于空白樣品,，我們建議使用 F20 系列儀器,。 對(duì)于圖案片，F(xiàn)ilmetrics的F40用于測(cè)量薄膜厚度已經(jīng)找到了顯示器應(yīng)用***使用,。
測(cè)量范例此案例中,，我們成功地測(cè)量了藍(lán)寶石和硼硅玻璃基底上銦錫氧化物薄膜厚度。與Filmetrics專(zhuān)有的ITO擴(kuò)散模型結(jié)合的F10-RTA-EXR儀器,，可以很容易地在380納米到1700納米內(nèi)同時(shí)測(cè)量透射率和反射率以確定厚度，折射率,，消光系數(shù),。由于ITO薄膜在各種基底上不同尋常的的擴(kuò)散，這個(gè)擴(kuò)展的波長(zhǎng)范圍是必要的,。 可選粗糙度: 20 — 1000? (RMS),。有機(jī)發(fā)光膜厚儀免稅價(jià)格
F10-ARc:
走在前端 以較低的價(jià)格現(xiàn)在可以很容易地測(cè)量曲面樣品，包括眼鏡和其他光學(xué)鏡片的防反射涂層, *需其他設(shè)備一小部分的的價(jià)格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測(cè)量. 您也可選擇升級(jí)薄膜厚度測(cè)量軟件, 操作上并不需要嚴(yán)格的訓(xùn)練, 您甚至可以直覺(jué)的藉由設(shè)定任何波長(zhǎng)范圍之比較大, **小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標(biāo)準(zhǔn).
容易設(shè)定. 易於維護(hù).只需將F10-ARc插上到您計(jì)算機(jī)的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc 幾乎不存在停機(jī)時(shí)間, 加上40,000小時(shí)壽命的光源和自動(dòng)板上波長(zhǎng)校準(zhǔn),，你不需擔(dān)心維護(hù)問(wèn)題,。 山東膜厚儀推薦產(chǎn)品F20測(cè)厚范圍：15nm - 70μm；波長(zhǎng)：380-1050nm,。
F3-CS：
Filmetrics的F3-CS 專(zhuān)門(mén)為了微小視野及微小樣品測(cè)量設(shè)計(jì), 任何人從**操作到研&發(fā)人員都可以此簡(jiǎn)易USB供電系統(tǒng)在數(shù)秒鐘內(nèi)測(cè)量如聚對(duì)二甲苯和真空鍍膜層厚度.
我們具專(zhuān)利的自動(dòng)校正功能大幅縮短測(cè)量設(shè)置並可自動(dòng)調(diào)節(jié)儀器的靈敏度, 使用免手持測(cè)量模式時(shí), 只需簡(jiǎn)單地將樣品面朝下放置在平臺(tái)上測(cè)量樣品 , 此時(shí)該系統(tǒng)已具備可測(cè)量數(shù)百種膜層所必要的一切設(shè)置不管膜層是否在透明或不透明基底上.
快速厚度測(cè)量可選配FILMeasure厚度測(cè)量軟件使厚度測(cè)量就像在平臺(tái)上放置你的樣品一樣容易, 軟件內(nèi)建所有常見(jiàn)的電介質(zhì)和半導(dǎo)體層（包括C,，N和HT型聚對(duì)二甲苯）的光學(xué)常數(shù)(n和k）,厚度結(jié)果會(huì)及時(shí)的以直覺(jué)的測(cè)量結(jié)果顯示對(duì)于進(jìn)階使用者，可以進(jìn)一步以F3-CS測(cè)量折射率, F3-CS可在任何運(yùn)行Windows XP到 Windows8 64位作業(yè)系統(tǒng)的計(jì)算機(jī)上運(yùn)行, USB電纜則提供電源和通信功能.
鏡頭組件Filmetrics 提供幾十種不同鏡頭配置,。訂制專(zhuān)門(mén)用途 的鏡片一般在幾天之內(nèi)可以完成,。
LA-GL25-25-30-EXR用于 60-1000mm 工作距離的直徑 1" 鏡頭組件，30mm 焦距鏡頭,。KM-GL25用于直徑 1" 鏡頭的簡(jiǎn)化動(dòng)力支架,。 可以在兩個(gè)軸上斜向調(diào)節(jié)。 8-32 安裝螺紋,。KM-F50用于直徑 0.5" 鏡頭的簡(jiǎn)化動(dòng)力支架,。 還可以用于 F50。可提供不同的鏡頭組合,。LA-F50/SS-13-20-UVX小光斑 (200um) 選項(xiàng),，可見(jiàn)光, 近紅外或紫外線(xiàn)。
如果您想要了解更多的信息,，請(qǐng)聯(lián)系我們岱美儀器,。 可測(cè)量的層數(shù): 通常能夠測(cè)量薄膜堆內(nèi)的三層**薄膜。 在某些情況下,，能夠測(cè)量到十幾層,。
電介質(zhì)成千上萬(wàn)的電解質(zhì)薄膜被用于光學(xué)，半導(dǎo)體,，以及其它數(shù)十個(gè)行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測(cè)量所有的薄膜,。
測(cè)量范例氮化硅薄膜作為電介質(zhì)，鈍化層,，或掩膜材料被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè),。這個(gè)案例中，我們用F20-UVX成功地測(cè)量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度,，折射率,，和消光系數(shù)。有趣的事,，氮化硅薄膜的光學(xué)性質(zhì)與薄膜的分子當(dāng)量緊密相關(guān),。使用Filmetrics專(zhuān)有的氮化硅擴(kuò)散模型，F(xiàn)20-UVX可以很容易地測(cè)量氮化硅薄膜的厚度和光學(xué)性質(zhì),，不管他們是富硅,，貧硅，還是分子當(dāng)量,。 一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng),。 測(cè)量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆。晶片膜厚儀優(yōu)惠價(jià)格
F40-EXR范圍：20nm-120μm,；波長(zhǎng)：400-1700nm,。有機(jī)發(fā)光膜厚儀免稅價(jià)格
非晶態(tài)多晶硅硅元素以非晶和晶體兩種形式存在, 在兩級(jí)之間是部分結(jié)晶硅。部分結(jié)晶硅又被叫做多晶硅,。
非晶硅和多晶硅的光學(xué)常數(shù)(n和k)對(duì)不同沉積條件是獨(dú)特的,，必須有精確的厚度測(cè)量。 測(cè)量厚度時(shí)還必須考慮粗糙度和硅薄膜結(jié)晶可能的風(fēng)化,。
Filmetrics 設(shè)備提供的復(fù)雜的測(cè)量程序同時(shí)測(cè)量和輸出每個(gè)要求的硅薄膜參數(shù),， 并且“一鍵”出結(jié)果。
測(cè)量范例多晶硅被***用于以硅為基礎(chǔ)的電子設(shè)備中,。這些設(shè)備的效率取決于薄膜的光學(xué)和結(jié)構(gòu)特性,。隨著沉積和退火條件的改變,，這些特性隨之改變，所以準(zhǔn)確地測(cè)量這些參數(shù)非常重要,。監(jiān)控晶圓硅基底和多晶硅之間,，加入二氧化硅層，以增加光學(xué)對(duì)比,，其薄膜厚度和光學(xué)特性均可測(cè)得,。F20可以很容易地測(cè)量多晶硅薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，以及二氧化硅夾層厚度,。Bruggeman光學(xué)模型被用來(lái)測(cè)量多晶硅薄膜光學(xué)特性,。
有機(jī)發(fā)光膜厚儀免稅價(jià)格
岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司位于中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)加太路39號(hào)第五層六十五部位。公司自成立以來(lái),，以質(zhì)量為發(fā)展,，讓匠心彌散在每個(gè)細(xì)節(jié)，公司旗下磁記錄,，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn)，測(cè)試儀器的批發(fā)深受客戶(hù)的喜愛(ài),。公司將不斷增強(qiáng)企業(yè)重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力,，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識(shí)，遵守行業(yè)規(guī)范,，植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專(zhuān)業(yè)的服務(wù),、眾多的成功案例積累起來(lái)的聲譽(yù)和口碑，讓企業(yè)發(fā)展再上新高,。