F54自動化薄膜測繪Filmetrics F54 系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米

可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點.*需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方

F54 自動化薄膜測繪只需聯(lián)結(jié)設備到您運行Windows?系統(tǒng)計算機的USB端口, 可在幾分鐘輕松設置

不同的型號主要是由厚度和波長范圍作為區(qū)別。通常較薄的膜需要較短波長作測量(如F54-UV) 用來測量較薄的膜,而較長的波長可以用來測量更厚,，更粗糙,，或更不透明的薄膜 F50-UV測厚范圍：5nm-40μm,；波長：190-1100nm,。Filmetrics F3-SX膜厚儀

電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學,，半導體，以及其它數(shù)十個行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜,。 

測量范例氮化硅薄膜作為電介質(zhì)，鈍化層,，或掩膜材料被廣泛應用于半導體產(chǎn)業(yè),。這個案例中，我們用F20-UVX成功地測量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度,，折射率，和消光系數(shù),。有趣的事，氮化硅薄膜的光學性質(zhì)與薄膜的分子當量緊密相關,。使用Filmetrics專有的氮化硅擴散模型，F(xiàn)20-UVX可以很容易地測量氮化硅薄膜的厚度和光學性質(zhì),，不管他們是富硅,，貧硅，還是分子當量,。 安徽膜厚儀質(zhì)量怎么樣F40測量范圍,；20nm-40μm;波長：400-850nm,。

FSM 413 紅外干涉測量設備

關鍵詞：厚度測量,，光學測厚,，非接觸式厚度測量,，硅片厚度,，氮化硅厚度,，激光測厚,，近紅外光測厚,，TSV, CD, Trench,，砷化鎵厚度，磷化銦厚度,，玻璃厚度測量,，石英厚度,，聚合物厚度, 背磨厚度,，上下兩個測試頭,。Michaelson干涉法，翹曲變形,。    

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,，可以給我留言,！

產(chǎn)品名稱：紅外干涉厚度測量設備

·       產(chǎn)品型號：FSM 413EC, FSM 413MOT,，F(xiàn)SM 413SA DP，F(xiàn)SM413C2C, FSM 8108 VITE C2C

如果您需要更多的信息,，請聯(lián)系我們岱美儀器,。

備用光源：

LAMP-TH1-5PAK：F10,、F20、F30,、F40,、F50、和 F60 系統(tǒng)的非紫外光源,。 5個/盒,。1200 小時平均無故障。

LAMP-TH：F42F42 系統(tǒng)的光源,。 1000 小時平均無故障,。

LAMP-THF60：F60 系統(tǒng)的光源。 1000 小時平均無故障,。

LAMP-THF80：F80 系統(tǒng)的光源,。 1000 小時平均無故障。

LAMP-D2-L10290：L10290 氘光源,。 2007年到2014年F20-UV的使用者,。

LAMP-TH-L10290：L10290 鎢鹵素光源。 2007年到2014年F20-UV的使用者,。

LAMP-D2-***T2：***T2光源需更換氘燈, 而鹵素燈光源需更換使用LAMP-TH1-5PAK. 重復性: 0.1 μm (1 sigma)單探頭* ,；0.8 μm (1 sigma)雙探頭*,。

F54包含的內(nèi)容：

集成光譜儀/光源裝置

MA-Cmount 安裝轉(zhuǎn)接器 

顯微鏡轉(zhuǎn)接器光纖連接線BK7 

參考材料TS-Focus-SiO2-4-10000 

厚度標準 聚焦/厚度標準4", 6" and 200mm 

參考晶圓真空泵備用燈

型號厚度范圍*波長范圍

F54:20nm-40μm 380-850nm

F54-UV:4nm-30μm 190-1100nm

F54-NIR:40nm-100μm 950-1700nm

F54-EXR:20nm-100μm 380-1700nm

F54-UVX:4nm-100μm190-1700nm

*取決于材料與顯微鏡

額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應用更超過數(shù)百種應用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃 厚度變化 (TTV) ,；溝槽深度,；過孔尺寸,、深度,、側(cè)壁角度,。氮化鎵膜厚儀樣機試用

F50-XT測厚范圍：0.2μm-450μm；波長：1440-1690nm,。Filmetrics F3-SX膜厚儀

F10-ARc:

走在前端 以較低的價格現(xiàn)在可以很容易地測量曲面樣品,，包括眼鏡和其他光學鏡片的防反射涂層, *需其他設備一小部分的的價格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴格的訓練, 您甚至可以直覺的藉由設定任何波長范圍之比較大, **小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標準.

容易設定. 易於維護.只需將F10-ARc插上到您計算機的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc 幾乎不存在停機時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準,，你不需擔心維護問題,。 Filmetrics F3-SX膜厚儀

岱美儀器技術服務（上海）有限公司是一家磁記錄,、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口,、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易,，商務信息咨詢服務,。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄,、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā)、進出口,、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿(mào)易、轉(zhuǎn)口貿(mào)易,，商務信息咨詢服務,。 【依法須經(jīng)批準的項目，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】的公司,，致力于發(fā)展為創(chuàng)新務實,、誠實可信的企業(yè)。岱美儀器技術服務深耕行業(yè)多年,，始終以客戶的需求為向?qū)?，為客戶提?**的磁記錄，半導體,，光通訊生產(chǎn)，測試儀器的批發(fā),。岱美儀器技術服務繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路,，既要實現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長,，又要聚焦關鍵領域，實現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破,。岱美儀器技術服務始終關注儀器儀表市場,，以敏銳的市場洞察力，實現(xiàn)與客戶的成長共贏,。