測量眼科設(shè)備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射 (AR) 光譜和殘余顏色，以及硬涂層和疏水層的厚度,。

減反涂層減反涂層用來減少眩光以及無涂層鏡片導(dǎo)致的眼睛疲勞,。 減反鏡片的藍(lán)綠色彩也吸引了眾多消費者。 因此,，測量和控制減反涂層及其色彩就變得越來越重要了,。

FilmetricsF10-AR是專門為各類眼鏡片設(shè)計的，配備多種獨特功能用于減反涂層檢測,。硬涂層硬涂層用來增加抗劃痕和抗紫外線的能力,。 在鏡片上涂抹硬涂層,，就提供了這種保護(hù)，而減反涂層則是不太柔軟的較硬鍍層,。

FilmetricsF10-AR配備了硬涂層測量升級軟件,。 可以測量厚達(dá)15微米的一層或兩層硬涂層。疏水層疏水涂層使減反鏡片具有對水和油排斥的屬性,，使它們易于清潔,。 這些涂層都是特別薄的 – 只有一百個原子的數(shù)量級 – 因此需要短波 (紫外線) 光來精確測量。 測量疏水層厚度的比較好儀器就是配備了UPG-F10-AR-d 和UPG-F10-RT-nk 升級軟件的 F10-AR-UV,。鏡片的穿透率測量F10-AR可選購SS-Trans-Curved樣品臺用于測量鏡片的穿透率,。

可選粗糙度: 20 — 1000? (RMS)。Filmetrics F10-AR膜厚儀有誰在用

    其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間,，測量精度高達(dá)1埃，測量穩(wěn)定性高達(dá),，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機型可選,。可應(yīng)用領(lǐng)域包括：生物醫(yī)學(xué)（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導(dǎo)體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspectionapplications)等,。通過Filmetrics膜厚測量儀*新反射式光譜測量技術(shù),*多4層透明薄膜厚度,、n、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得,。其應(yīng)用***,，例如:半導(dǎo)體工業(yè):光阻、氧化物,、氮化物,。LCD工業(yè):間距(cellgaps)，ito電極,、polyimide保護(hù)膜,。光電鍍膜應(yīng)用:硬化鍍膜、抗反射鍍膜,、過濾片,。極易操作、快速,、準(zhǔn)確,、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:F20:這簡單入門型號有三種不同波長選擇(由220nm紫外線區(qū)至1700nm近紅外線區(qū))為任意攜帶型,，可以實現(xiàn)反射,、膜厚、n,、k值測量,。F30:這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口,。可實時監(jiān)控長晶速度,、實時提供膜厚,、n、k值,。并可切定某一波長或固定測量時間間距,。山東膜厚儀可以試用嗎只需按下一個按鈕，您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。

光源用于一般用途應(yīng)用之光源

***T2可用在Filmetrics設(shè)備的光源具有氘燈-鎢絲與遠(yuǎn)端控制的快門來取代舊款Hamamatsu D2光源LS-LED1具有高亮度白光LED的光源

光纖配件：CP-RepairToolKitCP-1-1.3 接觸探頭是相當(dāng)堅固的,，但是光纖不能經(jīng)常被抽屜碰撞或者被椅子壓過。該套件包括指令,，以及簡單的維修工具,，新的和舊風(fēng)格的探頭。FO-PAT-SMA-SMA-200-22 米長,，直徑 200um 的光纖,， 兩端配備 SMA 接頭。FO-RP1-.25-SMA-200-1.32 米長,，分叉反射探頭,。

厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨,。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。

單點厚度測量：

一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng)。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆,。

大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。

微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當(dāng)測量斑點只有1微米（μm）時,，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng)。 不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。

    1,、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器,。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備,。2,、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,，滄州歐譜從而測定材料的厚度,，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器,。它以PLC和工業(yè)計算機為**，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),，達(dá)到要求的軋制厚度,。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工,。3,、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測量,。4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜,、薄片等材料的厚度,，測量范圍寬、測量精度高,，具有數(shù)據(jù)輸出,、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換,、自動斷電等特點。5,、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.6,、超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時,，脈沖被反射回探頭,，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。F30測厚范圍：15nm-70μm,；波長：380-1050nm,。光學(xué)系數(shù)膜厚儀要多少錢

F20-EXR測厚范圍：15nm - 250μm；波長：380-1700nm,。Filmetrics F10-AR膜厚儀有誰在用

F50 系列自動化薄膜測繪Filmetrics F50 系列的產(chǎn)品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,。一個電動R-Theta 平臺可接受標(biāo)準(zhǔn)和客制化夾盤，樣品直徑可達(dá)450毫米,。(耐用的平臺在我們的量產(chǎn)系統(tǒng)能夠執(zhí)行數(shù)百萬次的量測!)

測繪圖案可以是極座標(biāo),、矩形或線性的，您也可以創(chuàng)造自己的測繪方法,，并且不受測量點數(shù)量的限制,。內(nèi)建數(shù)十種預(yù)定義的測繪圖案。

不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。 標(biāo)準(zhǔn)的 F50是很受歡迎的產(chǎn)品,。 一般較短的波長 (例如,， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜，而較長的波長則可以用來測量更厚,、更不平整以及更不透明的薄膜,。 Filmetrics F10-AR膜厚儀有誰在用

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司是一家磁記錄、半導(dǎo)體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進(jìn)出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關(guān)配套服務(wù),，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易，商務(wù)信息咨詢服務(wù),。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目,，經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄、半導(dǎo)體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進(jìn)出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關(guān)配套服務(wù),，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易，商務(wù)信息咨詢服務(wù),。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目,，經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動】的公司，致力于發(fā)展為創(chuàng)新務(wù)實,、誠實可信的企業(yè),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)深耕行業(yè)多年，始終以客戶的需求為向?qū)?，為客戶提?**的磁記錄,，半導(dǎo)體，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)不斷開拓創(chuàng)新，追求出色,，以技術(shù)為先導(dǎo),，以產(chǎn)品為平臺，以應(yīng)用為重點,，以服務(wù)為保證,，不斷為客戶創(chuàng)造更高價值，提供更優(yōu)服務(wù),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)創(chuàng)始人陳玲玲,，始終關(guān)注客戶,，創(chuàng)新科技，竭誠為客戶提供良好的服務(wù),。