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晶片輪廓儀參數(shù)

來源: 發(fā)布時(shí)間:2021-04-17

NanoX-8000 系統(tǒng)主要性能

? 菜單式系統(tǒng)設(shè)置,一鍵式操作,自動(dòng)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

? 一鍵式系統(tǒng)校準(zhǔn)

? 支持連接MES系統(tǒng),,數(shù)據(jù)可導(dǎo)入SPC

? 具備異常報(bào)警,,急停等功能,,報(bào)警信息可儲(chǔ)存

? MTBF ≥ 1500 hrs

? 產(chǎn)能 : 45s/點(diǎn) (移動(dòng) + 聚焦 + 測(cè)量)(掃描范圍 50um)

? 具備 Global alignment & Unit alignment

? 自動(dòng)聚焦范圍 : ± 0.3mm

? XY運(yùn)動(dòng)速度 **快



表面三維微觀形貌測(cè)量的意義

在生產(chǎn)中,,表面三維微觀形貌對(duì)工程零件的許多技術(shù)性能的評(píng)家具有**直接的影響,而且表面三維評(píng)定參數(shù)由于能更***,,更真實(shí)的反應(yīng)零件表面的特征及衡量表面的質(zhì)量而越來越受到重視,,因此表面三維微觀形貌的測(cè)量就越顯重要。通過兌三維形貌的測(cè)量可以比較***的評(píng)定表面質(zhì)量的優(yōu)劣,,進(jìn)而確認(rèn)加工方法的好壞以及設(shè)計(jì)要求的合理性,,這樣就可以反過來通過知道加工,優(yōu)化加工工藝以及加工出高質(zhì)量的表面,,確保零件使用功能的實(shí)現(xiàn),。

表面三位微觀形貌的此類昂方法非常豐富,通??煞譃榻佑|時(shí)和非接觸時(shí)兩種,,其中以非接觸式測(cè)量方法為主。



輪廓儀廣泛應(yīng)用于集成電路制造,、MEMS,、航空航天、精密加 工,、表面工程技術(shù),、材料,、太陽能電池技術(shù)等領(lǐng)域,。晶片輪廓儀參數(shù)

輪廓儀是一種兩坐標(biāo)測(cè)量?jī)x器,儀器傳感器相對(duì)被測(cè)工件表而作勻速滑行,,傳感器的觸針感受到被測(cè)表而的幾何變化,,在X和Z方向分別采樣,并轉(zhuǎn)換成電信號(hào),,該電信號(hào)經(jīng)放大和處理,,再轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)儲(chǔ)存在計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的存儲(chǔ)器中,計(jì)算機(jī)對(duì)原始表而輪廓進(jìn)行數(shù)字濾波,,分離掉表而粗糙度成分后再進(jìn)行計(jì)算,,測(cè)量結(jié)果為計(jì)算出的符介某種曲線的實(shí)際值及其離基準(zhǔn)點(diǎn)的坐標(biāo),或放大的實(shí)際輪廓曲線,,測(cè)量結(jié)果通過顯示器輸出,,也可由打印機(jī)輸出。(來自網(wǎng)絡(luò))



輪廓儀在集成電路的應(yīng)用:

封**ump測(cè)量  

視場(chǎng):72*96(um)物鏡:干涉50X 檢測(cè)位置:樣品局部

面減薄表面粗糙度分析

封裝:300mm硅片背面減薄表面粗糙度分析  面粗糙度分析:2D, 3D顯示,;線粗糙度分析:Ra, Ry,,Rz,,…

器件多層結(jié)構(gòu)臺(tái)階高  MEMS 器件多層結(jié)構(gòu)分析、工藝控制參數(shù)分析

激光隱形切割工藝控制  世界***的能夠?qū)崿F(xiàn)激光槽寬度,、深度自動(dòng)識(shí)別和數(shù)據(jù)自動(dòng)生成,,**地縮

短了激光槽工藝在線檢測(cè)的時(shí)間,避免人工操作帶來的一致性,,可靠性問題


集成電路輪廓儀自動(dòng)化測(cè)量傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的圖像包含清晰和模糊的細(xì)節(jié).

輪廓儀在晶圓的IC封裝中的應(yīng)用:

晶圓的IC制造過程可簡(jiǎn)單看作是將光罩上的電路圖通過UV刻蝕到鍍膜和感光層后的硅晶圓上這一過程,,其中由于光罩中電路結(jié)構(gòu)尺寸極小,任何微小的黏附異物和下次均會(huì)導(dǎo)致制造的晶圓IC表面存在缺 陷,,因此必須對(duì)光罩和晶圓的表面輪廓進(jìn)行檢測(cè),,檢測(cè)相應(yīng)的輪廓尺寸。



白光輪廓儀的典型應(yīng)用:

對(duì)各種產(chǎn)品,,不見和材料表面的平面度,,粗糙度,波溫度,,面型輪廓,,表面缺 陷,磨損情況,,腐蝕情況,,孔隙間隙,臺(tái)階高度,,完全變形情況,,加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。


    比較橢圓偏振儀和光譜反射儀光譜橢圓偏振儀(SE)和光譜反射儀(SR)都是利用分析反射光確定電介質(zhì),,半導(dǎo)體,,和金屬薄膜的厚度和折射率。兩者的主要區(qū)別在于橢偏儀測(cè)量小角度從薄膜反射的光,而光譜反射儀測(cè)量從薄膜垂直反射的光,。獲取反射光譜指南入射光角度的不同造成兩種技術(shù)在成本,,復(fù)雜度,和測(cè)量能力上的不同,。由于橢偏儀的光從一個(gè)角度入射,,所以一定要分析反射光的偏振和強(qiáng)度,使得橢偏儀對(duì)超薄和復(fù)雜的薄膜堆有較強(qiáng)的測(cè)量能力,。然而,,偏振分析意味著需要昂貴的精密移動(dòng)光學(xué)儀器。光譜反射儀測(cè)量的是垂直光,,它忽略偏振效應(yīng)(絕大多數(shù)薄膜都是旋轉(zhuǎn)對(duì)稱),。因?yàn)椴簧婕叭魏我苿?dòng)設(shè)備,光譜反射儀成為簡(jiǎn)單低成本的儀器,。光譜反射儀可以很容易整合加入更強(qiáng)大透光率分析,。從下面表格可以看出,光譜反射儀通常是薄膜厚度超過10um的優(yōu)先,,而橢偏儀側(cè)重薄于10nm的膜厚。在10nm到10um厚度之間,,兩種技術(shù)都可用,。而且具有快速,簡(jiǎn)便,,成本低特點(diǎn)的光譜反射儀通常是更好的選擇,。光譜反射率光譜橢圓偏振儀厚度測(cè)量范圍1nm-1mm(非金屬)-50nm(金屬)*-(非金屬)-50nm(金屬)測(cè)量折射率的厚度要求>20nm(非金屬)5nm-50nm(金屬)>5nm(非金屬)>。物鏡是輪廓儀****的部件,, 物鏡的選擇根據(jù)功能和檢測(cè)的精度提出需求,。

輪廓儀的**團(tuán)隊(duì)

夏勇博士,江蘇省雙創(chuàng)人才


15年ADE,,KAL-Tencor半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備公司研發(fā),、項(xiàng)目管理經(jīng)驗(yàn)


SuperSight Inc. CEO/共同創(chuàng)始人,太陽能在線檢測(cè)設(shè)備

唐壽鴻博士,,國(guó)家千人****


25年 ADE,,KAL-Tencor半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備公司研發(fā)經(jīng)驗(yàn)


KLA-Tencor ***研發(fā)總監(jiān),***圖像處理,、算法**

許衡博士,,軟件系統(tǒng)研發(fā)


10 年硅谷世界500強(qiáng)研發(fā)經(jīng)驗(yàn)(BD Medical

Instrument)

光學(xué)測(cè)量、軟件系統(tǒng)


岱美儀器與**組為您提供輪廓儀的技術(shù)支持,,為您排憂解難,。 輪廓儀可用于:散熱材料表面粗糙度分析(粗糙度控制),生物,、醫(yī)藥新技術(shù),,微流控器件。3D形貌輪廓儀售后服務(wù)

NanoX-8000的XY光柵分辨率 0.1um,,定位精度 5um,,重復(fù)精度 1um,。晶片輪廓儀參數(shù)

輪廓儀的性能 

測(cè)量模式

移相干涉(PSI),,白光垂直掃描干涉(VSI),單色光垂直掃描干涉(CSI)

樣 品 臺(tái)

150mm/200mm/300mm 樣品臺(tái)(可選配)

XY 平移:±25mm/150mm/200mm/300mm,,傾斜:±5°

可選手動(dòng)/電動(dòng)樣品臺(tái)

CCD 相機(jī)像素

標(biāo)配:1280×960

視場(chǎng)范圍

560×750um(10×物鏡)

具體視場(chǎng)范圍取決于所配物鏡及 CCD 相機(jī)

光學(xué)系統(tǒng)

同軸照明無限遠(yuǎn)干涉成像系統(tǒng)

光 源

高 效 LED

Z 方向聚焦 80mm 手動(dòng)聚焦(可選電動(dòng)聚焦)

Z 方向掃描范圍 精密 PZT 掃描(可選擇高精密機(jī)械掃描,,拓展達(dá) 10mm )

縱向分辨率 <0.1nm

RMS 重復(fù)性* 0.005nm,1σ

臺(tái)階測(cè)量** 準(zhǔn)確度 ≤0.75%,;重復(fù)性 ≤0.1%,,1σ

橫向分辨率 ≥0.35um(100 倍物鏡)

檢測(cè)速度 ≤ 35um/sec , 與所選的 CCD  晶片輪廓儀參數(shù)

岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司是一家磁記錄、半導(dǎo)體,、光通訊生產(chǎn)及測(cè)試儀器的批發(fā),、進(jìn)出口,、傭金代理(拍賣除外)及其相關(guān)配套服務(wù),國(guó)際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易,,商務(wù)信息咨詢服務(wù)。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)】磁記錄,、半導(dǎo)體、光通訊生產(chǎn)及測(cè)試儀器的批發(fā),、進(jìn)出口,、傭金代理(拍賣除外)及其相關(guān)配套服務(wù),國(guó)際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易,,商務(wù)信息咨詢服務(wù)。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)】的公司,,是一家集研發(fā)、設(shè)計(jì),、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司,。公司自創(chuàng)立以來,投身于磁記錄,,半導(dǎo)體,,光通訊生產(chǎn),測(cè)試儀器的批發(fā),,是儀器儀表的主力軍,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)始終以本分踏實(shí)的精神和必勝的信念,影響并帶動(dòng)團(tuán)隊(duì)取得成功,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)始終關(guān)注自身,,在風(fēng)云變化的時(shí)代,對(duì)自身的建設(shè)毫不懈怠,,高度的專注與執(zhí)著使岱美儀器技術(shù)服務(wù)在行業(yè)的從容而自信,。