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強(qiáng)大的輪廓儀光電一體軟件
美國硅谷研發(fā),、中英文自由切換
光機(jī)電一體化軟硬件集成
三維分析處理迅速,,結(jié)果實時更新
縮放,、定位,、平移,、旋轉(zhuǎn)等三維圖像處理
自主設(shè)定測量閾值,三維處理自動標(biāo)注
測量模式可根據(jù)需求自由切換
三維圖像支持高清打印
菜單式參數(shù)設(shè)置,,一鍵式操作,,人機(jī)界面?zhèn)€性直觀
個性化軟件應(yīng)用支持
可進(jìn)行軟件在線升級和遠(yuǎn)程支持服務(wù)
10 年硅谷世界500強(qiáng)研發(fā)經(jīng)驗(BD Medical
Instrument)
光學(xué)測量、軟件系統(tǒng)
岱美儀器將為您提供全程的服務(wù),。
晶圓的IC制造過程可簡單看作是將光罩上的電路圖通過UV刻蝕到鍍膜和感光層后的硅晶圓上這一過程。重慶輪廓儀聯(lián)系電話超納輪廓儀的主設(shè)計簡介:
中組部第十一批“****”****,,美國KLA-Tencor(集成電路行業(yè)檢測設(shè)備市場的**企業(yè))***研發(fā)總監(jiān),,干涉測量技術(shù)**美國上市公司ADE-Phaseift的總研發(fā)工程師,創(chuàng)造多項干涉測量數(shù)字化所需的關(guān)鍵算法,,在光測領(lǐng)域發(fā)表23個美國專利和35篇學(xué)術(shù)論文3個研發(fā)的產(chǎn)品獲得大獎,,國家教育部***批公派研究生,83年留學(xué)美國。光學(xué)輪廓儀可廣泛應(yīng)用于各類精密工件表面質(zhì)量要求極高的如:半導(dǎo)體,、微機(jī)電,、納米材料,、生物醫(yī)療、精密涂層,、科研院所,、航空航天等領(lǐng)域,??梢哉f只要是微型范圍內(nèi)重點部位的納米級粗糙度、輪廓等參數(shù)的測量,,除了三維光學(xué)輪廓儀,,沒有其它的儀器設(shè)備可以達(dá)到其精度要求,。(網(wǎng)絡(luò))。 二維輪廓儀測樣擯棄傳統(tǒng)檢測方法耗時耗力,,精確度低的缺點,,**提高加工效率。
如何正確使用輪廓儀
準(zhǔn)備工作
1.測量前準(zhǔn)備,。
2.開啟電腦、打開機(jī)器電源開關(guān),、檢查機(jī)器啟動是否正常,。
3.擦凈工件被測表面,。
測量
1.將測針正確,、平穩(wěn)、可靠地移動在工件被測表面上,。
2.工件固定確認(rèn)工件不會出現(xiàn)松動或者其它因素導(dǎo)致測針與工件相撞的情況出現(xiàn)
3.在儀器上設(shè)置所需的測量條件,。
4.開始測量。測量過程中不可觸摸工件更不可人為震動桌子的情況產(chǎn)生,。
5.測量完畢,根據(jù)圖紙對結(jié)果進(jìn)行分析,,標(biāo)出結(jié)果,并保存,、打印,。
輪廓的角度處理:
角度處理:兩直線夾角,、直線與Y軸夾角、直線與X軸夾角點線處理:兩直線交點,、交點到直線距離,、交點到交點距離、交點到圓心距離,、交點到點距離圓處理:圓心距離,、圓心到直線的距離、交點到圓心的距離,、直線到切點的距離線處理:直線度,、凸度、LG凸度,、對數(shù)曲線
輪廓儀的物鏡知多少?
白光干涉輪廓儀是基于白光干涉原理,以三維非接觸時方法測量分析樣片表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,,典型結(jié)果包括:
表面形貌(粗糙度,,平面度,平行度,,臺階高度,,錐角等)
幾何特征(關(guān)鍵孔徑尺寸,曲率半徑,,特征區(qū)域的面積和集體,,特征圖形的位置和數(shù)量等)
白光干涉系統(tǒng)基于無限遠(yuǎn)顯微鏡系統(tǒng),,通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮鎯x,。
因此物鏡是輪廓儀****的部件,
物鏡的選擇根據(jù)功能和檢測的精度提出需求,,為了滿足各種精度的需求,,需要提供各種物鏡,例如標(biāo)配的10×,, 還有2.5×,,5×,,20×,,50×,100×,,可選,。
不同的鏡頭價格有很大的差別,因此需要量力根據(jù)需求選配對應(yīng)的鏡頭哦,。
輪廓儀在晶圓的IC封裝中的應(yīng)用:
晶圓的IC制造過程可簡單看作是將光罩上的電路圖通過UV刻蝕到鍍膜和感光層后的硅晶圓上這一過程,,其中由于光罩中電路結(jié)構(gòu)尺寸極小,,任何微小的黏附異物和下次均會導(dǎo)致制造的晶圓IC表面存在缺 陷,,因此必須對光罩和晶圓的表面輪廓進(jìn)行檢測,,檢測相應(yīng)的輪廓尺寸。 表面形貌(粗糙度,,平面度,,平行度,臺階高度,,錐角等),。
白光干涉輪廓儀對比激光共聚焦輪廓儀
白光干涉3D顯微鏡:
干涉面成像,,
多層垂直掃描
比較好高度測量精度:< 1nm
高度精度不受物鏡影響
性價比好
激光共聚焦3D顯微鏡:
點掃描合成面成像,
多層垂直掃描
Keyence(日本)
比較好高度測量精度:~10nm
高度精度由物鏡決定,,1um精度@10倍
90萬-130萬
三維光學(xué)輪廓儀采用白光軸向色差原理(性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀)對樣品表面進(jìn)行快速,、重復(fù)性高、高 分辨率的三維測量,,測量范圍可從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌,,臺階高度,給MEMS,、半導(dǎo)體材料,、太陽能電池、醫(yī)療工程,、制藥,、生物材料,光學(xué)元件,、陶瓷和先進(jìn)材料的研發(fā)和生產(chǎn)提供了一個精確的,、價格合理的計量方案。(來自網(wǎng)絡(luò)) 幾何特征(關(guān)鍵孔徑尺寸,,曲率半徑,,特征區(qū)域的面積和集體,特征圖形的位置和數(shù)量等),。Bruker輪廓儀美元價
測量模式:移相干涉(PSI),,白光垂直掃描干涉(VSI),單色光垂直掃描干涉(CSI),。重慶輪廓儀聯(lián)系電話
關(guān)于三坐標(biāo)測量輪廓度及粗糙度
三坐標(biāo)測量機(jī)是不能測量粗糙度的,,至于測量零件的表面輪廓 ,要視三坐標(biāo)的測量精度及零件表面輪廓度的要求了,,如果你的三坐標(biāo)測量機(jī)精度比較高,,但零件輪廓度要求不可,是可以用三坐標(biāo)來代替的,。一般三坐標(biāo)精度都在2-3um左右,,而輪廓儀都在2um以內(nèi),還有就是三坐標(biāo)可以測量大尺寸零件的輪廓,,因為它有龍門式三坐標(biāo)和關(guān)節(jié)臂三坐標(biāo),,而輪廓儀主要是用來測量一些小的精密零件輪廓尺寸的,加上粗糙度模塊也可以測量粗糙度,。 重慶輪廓儀聯(lián)系電話
岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司是一家磁記錄、半導(dǎo)體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進(jìn)出口,、傭金代理(拍賣除外)及其相關(guān)配套服務(wù),國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易,,商務(wù)信息咨詢服務(wù)。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目,,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄,、半導(dǎo)體、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進(jìn)出口,、傭金代理(拍賣除外)及其相關(guān)配套服務(wù),國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易,,商務(wù)信息咨詢服務(wù)。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目,,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動】的公司,,致力于發(fā)展為創(chuàng)新務(wù)實、誠實可信的企業(yè),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)深耕行業(yè)多年,,始終以客戶的需求為向?qū)В瑸榭蛻籼峁?**的磁記錄,,半導(dǎo)體,,光通訊生產(chǎn),測試儀器的批發(fā),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路,,既要實現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長,又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域,,實現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)始終關(guān)注儀器儀表市場,以敏銳的市場洞察力,,實現(xiàn)與客戶的成長共贏,。