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浙江晶圓片膜厚儀

來源: 發(fā)布時間:2021-06-18

FSM 8018 VITE測試系列設(shè)備

VITE技術(shù)介紹:

VITE是傅里葉頻域技術(shù),,利用近紅外光源的相位剪切技術(shù)(Phase shear technology)

設(shè)備介紹

適用于所有可讓近紅外線通過的材料:硅、藍寶石,、砷化鎵、磷化銦,、碳化硅,、玻璃、石  英,、聚合物…………

應(yīng)用:

   襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響)

   平整度

   厚度變化 (TTV)

   溝槽深度

   過孔尺寸,、深度、側(cè)壁角度

   粗糙度

薄膜厚度

不同半導(dǎo)體材料的厚度

   環(huán)氧樹脂厚度

   襯底翹曲度

   晶圓凸點高度(bump height)

MEMS 薄膜測量

TSV 深度,、側(cè)壁角度...


只需按下一個按鈕,,您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率,。浙江晶圓片膜厚儀

Total Thickness Variation (TTV) 應(yīng)用

規(guī)格:

測量方式:

紅外干涉(非接觸式)

樣本尺寸:

50,、75,、100、200,、300 mm,, 也可以訂做客戶需要的產(chǎn)品尺寸

測量厚度:

15 — 780 μm (單探頭)

     3 mm (雙探頭總厚度測量)

掃瞄方式:

半自動及全自動型號,

 另2D/3D掃瞄(Mapping)可選

襯底厚度測量: TTV,、平均值、*小值,、*大值,、公差...

可選粗糙度: 20 — 1000? (RMS)

重復(fù)性:

0.1 μm (1 sigma)單探頭*

  0.8 μm

(1 sigma)雙探頭*

分辨率:

 10 nm

請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多關(guān)于本產(chǎn)品的信息。

山東聯(lián)電膜厚儀F10-AR在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進行比較低,、比較高和平均反射測試,。

生物醫(yī)療設(shè)備涂層應(yīng)用生物醫(yī)療器械應(yīng)用中的涂層生物醫(yī)療器械的制造和準備方面會用到許多類型的涂層,。 有些涂層是為了保護設(shè)備免受腐蝕,而其他的則是為了預(yù)防組 織損傷,、***或者是排異反應(yīng),。 藥 物傳輸涂層也變得日益普通。 其它生物醫(yī)學(xué)器械,,如血管成型球囊,,具有**的隔膜,,必須具有均勻和固定的厚度才能正常工作。

這些涂層厚度的測量方法各不相同,,但有一件事是確定的,。使用普通方法 (例如,,在涂層前后稱某一部分的重量), 無法檢測到會導(dǎo)致器械故障的涂層不完全覆蓋或涂層的不均勻性,。


平臺和平臺附件標準和**平臺,。

CS-1可升級接觸式SS-3樣品臺,可測波長范圍190-1700nm

SS-36“×6” 樣品平臺,,F(xiàn)20 系統(tǒng)的標準配置,。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,103 mm 進深,。 適用所有波長范圍,。

SS-3-88“×8” 樣品平臺??烧{(diào)節(jié)鏡頭高度,139mm 進深,。 適用所有波長范圍,。

SS-3-24F20 的 24“×24” 樣品平臺。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,,550mm 進深,。 適用所有波長范圍。

SS-56" x 6" 吋樣品臺,,具有可調(diào)整焦距的反射光學(xué)配件,,需搭配具有APC接頭的光纖,全波長范圍使用

樣品壓重-SS-3-50

樣品壓重 SS-3 平臺, 50mm x 50mm

樣品壓重-SS-3-110

樣品壓重 SS-3 平臺, 110mm x 110mm

不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。

測量有機發(fā)光顯示器有機發(fā)光顯示器 (OLEDs)有機發(fā)光顯示器正迅速從實驗室轉(zhuǎn)向大規(guī)模生產(chǎn),。明亮,超薄,,動態(tài)的特性使它們成為從手機到電視顯示屏的優(yōu)先。組成顯示屏的多層薄膜的精密測量非常重要,,但不能用傳統(tǒng)接觸型的輪廓儀,,因為它會破壞顯示屏表面,。我們的F20-UV,F(xiàn)40-UV,,和F10-RT-UV將提供廉價,,可靠,非侵入測量原型裝置和全像素化顯示屏,。我們的光譜儀還可以測量大氣敏感材料的化學(xué)變化,。

測量透明導(dǎo)電氧化膜不論是銦錫氧化物,氧化鋅,,還是聚合物(3,4-乙烯基),,我們獨有的ITO光學(xué)模型,加上可見/近紅外儀器,,可以測得厚度和光學(xué)常數(shù),,費用和操作難度*是光譜橢偏儀的一小部分。 F30 系列是監(jiān)控薄膜沉積,,**強有力的工具,。臺積電膜厚儀保修期多久

基板材料: 如果薄膜位于粗糙基板 (大多數(shù)金屬) 上的話,一般不能測量薄膜的折射率,。浙江晶圓片膜厚儀

電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學(xué),,半導(dǎo)體,,以及其它數(shù)十個行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜。 

測量范例氮化硅薄膜作為電介質(zhì),,鈍化層,,或掩膜材料被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)。這個案例中,,我們用F20-UVX成功地測量了硅基底上氮化硅薄膜的厚度,,折射率,和消光系數(shù),。有趣的事,,氮化硅薄膜的光學(xué)性質(zhì)與薄膜的分子當(dāng)量緊密相關(guān)。使用Filmetrics專有的氮化硅擴散模型,F(xiàn)20-UVX可以很容易地測量氮化硅薄膜的厚度和光學(xué)性質(zhì),,不管他們是富硅,,貧硅,還是分子當(dāng)量,。 浙江晶圓片膜厚儀

岱美儀器技術(shù)服務(wù)(上海)有限公司致力于儀器儀表,,以科技創(chuàng)新實現(xiàn)***管理的追求,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)擁有一支經(jīng)驗豐富、技術(shù)創(chuàng)新的專業(yè)研發(fā)團隊,,以高度的專注和執(zhí)著為客戶提供磁記錄,,半導(dǎo)體,,光通訊生產(chǎn),測試儀器的批發(fā),。岱美儀器技術(shù)服務(wù)不斷開拓創(chuàng)新,,追求出色,以技術(shù)為先導(dǎo),,以產(chǎn)品為平臺,,以應(yīng)用為重點,以服務(wù)為保證,,不斷為客戶創(chuàng)造更高價值,,提供更優(yōu)服務(wù)。岱美儀器技術(shù)服務(wù)始終關(guān)注自身,,在風(fēng)云變化的時代,,對自身的建設(shè)毫不懈怠,高度的專注與執(zhí)著使岱美儀器技術(shù)服務(wù)在行業(yè)的從容而自信,。