FSM 360 拉曼光譜系統(tǒng)

FSM紫外光和可見光拉曼系統(tǒng), 型號360

FSM拉曼的應(yīng)用

l  局部應(yīng)力,；

l  局部化學(xué)成分

l  局部損傷

紫外光可測試的深度

***的薄膜（SOI 或 Si-SiGe）或者厚樣的近表面局部應(yīng)力

可見光可測試的深度

良好的厚樣以及多層樣品的局部應(yīng)力

系統(tǒng)測試應(yīng)力的精度小于15mpa (0.03cm-1)

全自動的200mm和300mm硅片檢查

自動檢驗和聚焦的能力。

以上的信息比較有限,，如果您有更加詳細的技術(shù)問題,，請聯(lián)系我們的技術(shù)人員為您解答。或者訪問我們的官網(wǎng)了解更多信息,。 所有的 Filmetrics 型號都能通過精確的光譜反射建模來測量厚度 (和折射率),。導(dǎo)電氧化物膜厚儀實際價格

電介質(zhì)成千上萬的電解質(zhì)薄膜被用于光學(xué)，半導(dǎo)體,，以及其它數(shù)十個行業(yè), 而Filmetrics的儀器幾乎可以測量所有的薄膜,。常見的電介質(zhì)有:二氧化硅 – **簡單的材料之一, 主要是因為它在大部分光譜上的無吸收性 (k=0)， 而且非常接近化學(xué)計量 (就是說,，硅：氧非常接近 1:2),。 受熱生長的二氧化硅對光譜反應(yīng)規(guī)范，通常被用來做厚度和折射率標準,。 Filmetrics能測量3nm到1mm的二氧化硅厚度,。氮化硅 – 對此薄膜的測量比很多電介質(zhì)困難，因為硅：氮比率通常不是3：4, 而且折射率一般要與薄膜厚度同時測量,。 更麻煩的是,，氧常常滲入薄膜，生成一定程度的氮氧化硅,，增大測量難度,。 但是幸運的是，我們的系統(tǒng)能在幾秒鐘內(nèi) “一鍵” 測量氮化硅薄膜完整特征!進口膜厚儀聯(lián)系電話可測量的層數(shù): 通常能夠測量薄膜堆內(nèi)的三層**薄膜,。 在某些情況下,，能夠測量到十幾層,。

硬涂層厚度測量Filmetrics 系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應(yīng)用,，用于測量硬涂層和其他保護性薄膜的厚度。F10-HC 是為彎曲表面和多層薄膜 (例如,， 底涂/硬涂層) 而專門設(shè)計的,。

汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進行多點測量，因為涂層厚度對于品質(zhì)至關(guān)重要,。 外側(cè)硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內(nèi)側(cè)的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的,。 這些用途中的每一項是特殊的挑戰(zhàn)，而 Filmetrics 已經(jīng)開發(fā)出軟件,、硬件和應(yīng)用知識以便為用戶提供正確的解決方案,。

測量范例帶HC選項的F10-AR收集測量厚度的反射率信息。這款儀器采用光學(xué)接觸探頭,，它的設(shè)計降低了背面反射,。接觸探頭安置在亞克力表明。FILMeature軟件自動分析收集的光譜信息,，給出涂層厚度,。在這個例子中，亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆。

F40 系列將您的顯微鏡變成薄膜測量工具F40 產(chǎn)品系列用于測量小到 1 微米的光斑,。 對大多數(shù)顯微鏡而言,，F(xiàn)40 能簡單地固定在 c 型轉(zhuǎn)接器上，這樣的轉(zhuǎn)接器是顯微鏡行業(yè)標準配件,。

F40 配備的集成彩色攝像機,，能夠?qū)y量點進行準確監(jiān)控。 在 1 秒鐘之內(nèi)就能測定厚度和折射率,。 像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)40 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)完成設(shè)定。

F40：20nm-40μm 400-850nm

F40-EXR：20nm-120μm 400-1700nm

F40-NIR：40nm-120μm 950-1700nm

F40-UV：4nm-40μm 190-1100nm

F40-UVX：4nm-120μm 190-1700nm 適用于所有可讓紅外線通過的材料 硅,、藍寶石,、砷化鎵、磷化銦,、碳化硅,、玻璃、石 英,、聚合物等,。

測量眼科設(shè)備涂層厚度光譜反射率可用于測量眼鏡片減反射 (AR) 光譜和殘余顏色，以及硬涂層和疏水層的厚度,。

測量范例：

F10-AR系統(tǒng)配備HC升級選擇通過反射率信息進行硬涂層厚度測量,。這款儀器儀器采用接觸探頭，從而降低背面反射影響,，并可測凹凸表面,。接觸探頭安置在鏡頭表面。FILMeasure軟件自動分析采集的光譜信息以確定鏡頭是否滿足指定的反射規(guī)格,?？蓽y平均反射率，指定點**小比較大反射率,，以抵消硬涂層的存在,。如果這個鏡頭符合要求，系統(tǒng)操作人員將得到清晰的“很好”指示,。 F30 系列是監(jiān)控薄膜沉積,，**強有力的工具。ITO導(dǎo)電膜膜厚儀實際價格

一般較短波長 (例如,， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,，而較長波長可以測量更厚、更不平整和更不透明的薄膜,。導(dǎo)電氧化物膜厚儀實際價格

FSM 413 紅外干涉測量設(shè)備

關(guān)鍵詞：厚度測量,，光學(xué)測厚,，非接觸式厚度測量，硅片厚度,，氮化硅厚度,，激光測厚，近紅外光測厚,，TSV, CD, Trench,，砷化鎵厚度，磷化銦厚度,，玻璃厚度測量,，石英厚度，聚合物厚度, 背磨厚度,，上下兩個測試頭,。Michaelson干涉法，翹曲變形,。    

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,，可以給我留言！

產(chǎn)品名稱：紅外干涉厚度測量設(shè)備

·       產(chǎn)品型號：FSM 413EC, FSM 413MOT,，F(xiàn)SM 413SA DP,，F(xiàn)SM413C2C, FSM 8108 VITE C2C

如果您需要更多的信息，請聯(lián)系我們岱美儀器,。 導(dǎo)電氧化物膜厚儀實際價格

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司致力于儀器儀表,，是一家其他型公司。公司業(yè)務(wù)分為磁記錄,，半導(dǎo)體,，光通訊生產(chǎn)，測試儀器的批發(fā)等,，目前不斷進行創(chuàng)新和服務(wù)改進,，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務(wù),。公司將不斷增強企業(yè)重點競爭力,，努力學(xué)習(xí)行業(yè)知識，遵守行業(yè)規(guī)范,，植根于儀器儀表行業(yè)的發(fā)展,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)秉承“客戶為尊、服務(wù)為榮,、創(chuàng)意為先,、技術(shù)為實”的經(jīng)營理念，全力打造公司的重點競爭力,。