鏡頭組件Filmetrics 提供幾十種不同鏡頭配置,。訂制專門用途 的鏡片一般在幾天之內(nèi)可以完成,。

LA-GL25-25-30-EXR用于 60-1000mm 工作距離的直徑 1" 鏡頭組件，30mm 焦距鏡頭,。KM-GL25用于直徑 1" 鏡頭的簡化動力支架,。 可以在兩個軸上斜向調(diào)節(jié)。 8-32 安裝螺紋,。KM-F50用于直徑 0.5" 鏡頭的簡化動力支架,。 還可以用于 F50?？商峁┎煌溺R頭組合,。LA-F50/SS-13-20-UVX小光斑 (200um) 選項，可見光, 近紅外或紫外線,。

如果您想要了解更多的信息,，請聯(lián)系我們岱美儀器。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。晶片膜厚儀免稅價格

F50 系列

包含的內(nèi)容：集成光譜儀/光源裝置光纖電纜4", 6" and 200mm 參考晶圓TS-SiO2-4-7200 厚度標準BK7 參考材料整平濾波器 (用于高反射基板)真空泵備用燈

型號 厚度范圍*波長范圍

F50：20nm-70μm 380-1050nm

F50-UV：5nm-40μm 190-1100nm

F50-NIR：100nm-250μm 950-1700nm

F50-EXR：20nm-250μm 380-1700nm

F50-UVX：5nm-250μm 190-1700nm

F50-XT：0.2μm-450μm 1440-1690nm

F50-s980：4μm-1mm 960-1000nm

F50-s1310：7μm-2mm 1280-1340nm

F50-s1550：10μm-3mm 1520-1580nm

額外的好處：每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應用更超過數(shù)百種應用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃 聚對二甲苯膜厚儀售后服務Filmetrics F60-t 系列就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率,，但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能,。

硬涂層厚度測量Filmetrics 系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應用，用于測量硬涂層和其他保護性薄膜的厚度,。F10-HC 是為彎曲表面和多層薄膜 (例如,， 底涂/硬涂層) 而專門設計的。

汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進行多點測量,，因為涂層厚度對于品質至關重要,。 外側硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內(nèi)側的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的。 這些用途中的每一項是特殊的挑戰(zhàn),，而 Filmetrics 已經(jīng)開發(fā)出軟件,、硬件和應用知識以便為用戶提供正確的解決方案。

測量范例帶HC選項的F10-AR收集測量厚度的反射率信息,。這款儀器采用光學接觸探頭,，它的設計降低了背面反射。接觸探頭安置在亞克力表明,。FILMeature軟件自動分析收集的光譜信息,，給出涂層厚度。在這個例子中,，亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆,。

FSM膜厚儀簡單介紹：

FSM 128 厚度以及TSV和翹曲變形測試設備:

美國Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年，總部位于圣何塞,，多年來為半導體行業(yè)等高新行業(yè)提供各式精密的測量設備,，客戶遍布全世界, 主要產(chǎn)品包括:光學測量設備: 三維輪廓儀、拉曼光譜,、

薄膜應力測量設備,、 紅外干涉厚度測量設備、電學測量設備:高溫四探針測量設備,、非接觸式片電阻及 漏電流測量設備,、金屬污染分析、等效氧化層厚度分析 (EOT),。

請訪問我們的中文官網(wǎng)了解更多的信息,。 F30-UV測厚范圍：3nm-40μm；波長：190-1100nm,。

F40 系列將您的顯微鏡變成薄膜測量工具F40 產(chǎn)品系列用于測量小到 1 微米的光斑,。 對大多數(shù)顯微鏡而言，F(xiàn)40 能簡單地固定在 c 型轉接器上,，這樣的轉接器是顯微鏡行業(yè)標準配件,。

F40 配備的集成彩色攝像機,，能夠對測量點進行準確監(jiān)控。 在 1 秒鐘之內(nèi)就能測定厚度和折射率,。 像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)40 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)完成設定。

F40：20nm-40μm 400-850nm

F40-EXR：20nm-120μm 400-1700nm

F40-NIR：40nm-120μm 950-1700nm

F40-UV：4nm-40μm 190-1100nm

F40-UVX：4nm-120μm 190-1700nm 厚度范圍: 測量從 1nm 到 13mm 的厚度,。 測量 70nm 到 10um 薄膜的折射率,。Filmetrics F32sX膜厚儀質保期多久

當測量斑點只有1微米（μm）時，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng),。晶片膜厚儀免稅價格

FSM 413MOT 紅外干涉測量設備：

適用于所有可讓紅外線通過的材料：硅,、藍寶石、砷化鎵,、磷化銦,、碳化硅、玻璃,、石  英,、聚合物…………

應用:

   襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響)

   平整度

   厚度變化 (TTV)

   溝槽深度

   過孔尺寸,、深度、側壁角度

   粗糙度

薄膜厚度

不同半導體材料的厚度

   環(huán)氧樹脂厚度

   襯底翹曲度

   晶圓凸點高度(bump height)

MEMS 薄膜測量

TSV 深度,、側壁角度...

如果您想了解更多關于FSM膜厚儀的技術問題,，請聯(lián)系我們岱美儀器,。 晶片膜厚儀免稅價格

岱美儀器技術服務（上海）有限公司總部位于中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)加太路39號第五層六十五部位,，是一家磁記錄、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿(mào)易,、轉口貿(mào)易，商務信息咨詢服務,。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿(mào)易,、轉口貿(mào)易,，商務信息咨詢服務。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】的公司,。岱美儀器技術服務作為磁記錄、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿(mào)易,、轉口貿(mào)易，商務信息咨詢服務,。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿(mào)易,、轉口貿(mào)易，商務信息咨詢服務,。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】的企業(yè)之一，為客戶提供良好的磁記錄,，半導體,，光通訊生產(chǎn)，測試儀器的批發(fā),。岱美儀器技術服務繼續(xù)堅定不移地走高質量發(fā)展道路,，既要實現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長，又要聚焦關鍵領域,，實現(xiàn)轉型再突破,。岱美儀器技術服務創(chuàng)始人陳玲玲，始終關注客戶,，創(chuàng)新科技,，竭誠為客戶提供良好的服務。