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晶圓膜厚儀出廠價

來源: 發(fā)布時間:2020-02-26

Filmetrics 的技術(shù)Filmetrics 提供了范圍***的測量生物醫(yī)療涂層的方案:支架: 支架上很小的涂層區(qū)域通常需要顯微鏡類的儀器,。 我們的 F40 在幾十個實驗室內(nèi)得到使用,,測量鈍化和/或藥 物輸送涂層。我們有獨特的測量系統(tǒng)對整個支架表面的自動厚度測繪,,只需在測量時旋轉(zhuǎn)支架,。植入件: 在測量植入器件的涂層時,不規(guī)則的表面形狀通常是***挑戰(zhàn),。 Filmetrics 提供這一用途的全系列探頭,。導(dǎo)絲和導(dǎo)引針: 和支架一樣,這些器械常??梢杂孟?F40 這樣的顯微鏡儀器。導(dǎo)液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可見光譜不透明性決定了 F20-NIR 是這一用途方面全世界眾多實驗室內(nèi)很受歡迎的儀器,。應(yīng)用:襯底厚度(不受圖案硅片,、有膠帶、凹凸或者粘合硅片影響),,平整度,。晶圓膜厚儀出廠價

厚度測量產(chǎn)品:我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應(yīng)用。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨,。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應(yīng)用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。


單點厚度測量:

一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng)。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆,。

大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。

F20全世界銷量**hao的薄膜測量系統(tǒng)。有各種不同附件和波長覆蓋范圍,。


微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當(dāng)測量斑點只有1微米(μm)時,,需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng)。 硬涂層膜厚儀實惠價格F3-sX 系列測厚范圍:10μm - 3mm,;波長:960-1580nm,。

F10-AR

無須處理涂層背面我們探頭設(shè)計能抑 制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射,使用更厚的鏡頭抑 制的更多,。

就像我們所有的臺式儀器一樣,,F(xiàn)10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定,。

包含的內(nèi)容:集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure **軟件 (用于遠程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3 探頭BK7 參考材料整平濾波器 (用于高反射基板)備用燈


額外的好處:每臺系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助(周一 - 周五)網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級計劃

F10-ARc:

走在前端 以較低的價格現(xiàn)在可以很容易地測量曲面樣品,包括眼鏡和其他光學(xué)鏡片的防反射涂層, *需其他設(shè)備一小部分的的價格就能在幾秒內(nèi)得到精確的色彩讀值和反射率測量. 您也可選擇升級薄膜厚度測量軟件, 操作上并不需要嚴格的訓(xùn)練, 您甚至可以直覺的藉由設(shè)定任何波長范圍之比較大, **小和平均值.去定義顏色和反射率的合格標(biāo)準(zhǔn).

容易設(shè)定. 易於維護.只需將F10-ARc插上到您計算機的USB端口, 感謝Filmetrics的創(chuàng)新, F10-ARc 幾乎不存在停機時間, 加上40,000小時壽命的光源和自動板上波長校準(zhǔn),,你不需擔(dān)心維護問題,。 F40-UV范圍:4nm-40μm,波長:190-1100nm,。

集成電路故障分析故障分析 (FA) 技術(shù)用來尋找并確定集成電路內(nèi)的故障原因,。

故障分析中需要進行薄膜厚度測量的兩種主要類型是正面去層(用于傳統(tǒng)的面朝上的電路封裝) 和背面薄化(用于較新的覆晶技術(shù)正面朝下的電路封裝)。正面去層正面去層的工藝需要了解電介質(zhì)薄化后剩余電介質(zhì)的厚度,。背面故障分析背面故障分析需要在電路系統(tǒng)成像前移除大部分硅晶粒的厚度,,并了解在每個薄化步驟后剩余的硅厚度是相當(dāng)關(guān)鍵的。 Filmetrics F3-sX是為了測量在不同的背面薄化過程的硅層厚度而專門設(shè)計的系統(tǒng),。 厚度從5微米到1000微米能夠很容易的測量,,另外可選配模組來延伸**小測量厚度至0.1微米,同時具有單點和多點測繪的版本可供選擇,。

測量范例現(xiàn)在我們使用我們的 F3-s1550 系統(tǒng)測量在不同的背面薄化過程的硅層厚度.具備特殊光學(xué)設(shè)計之 F3-S1550利用比直徑更小於10μm的光斑尺寸得以測量拋光以及粗糙或不均勻表面的硅層厚度 測量厚度: 15 — 780 μm (單探頭) ,; 3 mm (雙探頭總厚度測量)。晶圓片膜厚儀試用

F30-UV測厚范圍:3nm-40μm,;波長:190-1100nm,。晶圓膜厚儀出廠價

隨著儀器儀表和計算機的完美結(jié)合,為了更好的滿足人們對精神世界的需求,,體驗多維世界給人們帶來的**,,儀器儀表的虛擬化開始發(fā)展。身臨其境接受客觀實物,,給美又增添了一絲創(chuàng)意,。進一步提升我國儀器儀表技術(shù)和水平,有限責(zé)任公司企業(yè)要順應(yīng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展潮流,,在穩(wěn)固常規(guī)品種的同時,,進一步發(fā)展智能儀器儀表,提升產(chǎn)業(yè)數(shù)字化,、智能化,、集成化水平。磁記錄,,半導(dǎo)體,,光通訊生產(chǎn),測試儀器的批發(fā)產(chǎn)業(yè)是國民經(jīng)濟的基礎(chǔ)性,、戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè),,是信息化和工業(yè)化深度融合的源頭,對促進工業(yè)轉(zhuǎn)型升級、發(fā)展戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè),、推動現(xiàn)代**建設(shè),、保證和提高大家生活水平具有重要作用。中國其他型正面臨百年未有之大變局,,行業(yè)行家認為,,中美貿(mào)易戰(zhàn)不會有終點,中美關(guān)系時好時壞將成為常態(tài),,儀器儀表行業(yè)無法排除大局勢的影響,,且不要把問題聚焦在關(guān)稅上。中國經(jīng)濟的高速發(fā)展得益于WTO框架下的全球化分工;現(xiàn)在中國制造的競爭力在于工業(yè)門類齊全,、供應(yīng)鏈完整,、供應(yīng)鏈的高度專業(yè)和細分。晶圓膜厚儀出廠價

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