顯微鏡轉(zhuǎn)接器F40 系列轉(zhuǎn)接器,。

Adapter-BX-Cmount該轉(zhuǎn)接器將 F40 接到 OlympusBX 或 MX 上而不必使用 Olympus 價(jià)格較貴的 c-mount 轉(zhuǎn)接器,。MA-Cmount-F20KIT該轉(zhuǎn)接器將F20連接到顯微鏡上 (模仿 F40，光敏度低 5 倍),，包括集成攝像機(jī),、光纖、TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標(biāo)準(zhǔn),、F40 軟件,，和 F40 手冊(cè)。

軟件升級(jí)：

UPG-RT-to-Thickness升級(jí)的厚度求解軟件,，需要UPG-Spec-to-RT。UPG-Thickness-to-n&k升級(jí)的折射率求解軟件,，需要UPG-RT-to-Thickness,。UPG-F10-AR-HC為 F10-AR 升級(jí)的FFT 硬涂層厚度測(cè)量軟件。 包括 TS-Hardcoat-4um 厚度標(biāo)準(zhǔn),。 厚度測(cè)量范圍 0.25um-15um,。UPG-RT-to-Color&Regions升級(jí)的色彩與光譜區(qū)域分析軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。 F3-sX 系列測(cè)厚范圍：10μm - 3mm,；波長(zhǎng)：960-1580nm。導(dǎo)電膜膜厚儀科研應(yīng)用

F10-AR

無須處理涂層背面我們探頭設(shè)計(jì)能抑 制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射,，使用更厚的鏡頭抑 制的更多,。

就像我們所有的臺(tái)式儀器一樣，F(xiàn)10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計(jì)算機(jī)的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定,。

額外的好處：每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫(kù), 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助（周一 - 周五）網(wǎng)上的 “手把手” 支持 (需要連接互聯(lián)網(wǎng))硬件升級(jí)計(jì)劃 硬涂層膜厚儀半導(dǎo)體行業(yè)監(jiān)測(cè)控制生產(chǎn)過程中移動(dòng)薄膜厚度,。高達(dá)100 Hz的采樣率可以在多個(gè)測(cè)量位置得到。

    更可加裝至三個(gè)探頭,，同時(shí)測(cè)量三個(gè)樣品,，具紫外線區(qū)或標(biāo)準(zhǔn)波長(zhǎng)可供選擇。F40:這型號(hào)安裝在任何顯微鏡外,，可提供*小5um光點(diǎn)(100倍放大倍數(shù))來測(cè)量微小樣品,。F50:這型號(hào)配備全自動(dòng)XY工作臺(tái)，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可,。通過快速掃瞄功能,，可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)。F70:*通過在F20基本平臺(tái)上增加鏡頭,，使用Filmetrics*新的顏色編碼厚度測(cè)量法（CTM）,，把設(shè)備的測(cè)量范圍極大的拓展至,。F10-RT：在F20實(shí)現(xiàn)反射率跟穿透率的同時(shí)測(cè)量，特殊光源設(shè)計(jì)特別適用于透明基底樣品的測(cè)量,。PARTS：在垂直入射光源基礎(chǔ)上增加70o光源,，特別適用于超薄膜層厚度和n、k值測(cè)量,。**膜厚測(cè)量?jī)x系統(tǒng)F20使用F20**分光計(jì)系統(tǒng)可以簡(jiǎn)便快速的測(cè)量厚度和光學(xué)參數(shù)（n和k）,。您可以在幾秒鐘內(nèi)通過薄膜上下面的反射比的頻譜分析得到厚度、折射率和消光系數(shù),。任何具備基本電腦技術(shù)的人都能在幾分鐘內(nèi)將整個(gè)桌面系統(tǒng)組裝起來,。F20包括所有測(cè)量需要的部件：分光計(jì)、光源,、光纖導(dǎo)線,、鏡頭**和Windows下運(yùn)行的軟件。您需要的只是接上您的電腦,。膜層實(shí)例幾乎任何光滑,、半透明、低吸收的膜都能測(cè),。包括：sio2（二氧化硅）sinx（氮化硅）dlc（類金剛石碳）photoresist,。

FSM 360 拉曼光譜系統(tǒng)

FSM紫外光和可見光拉曼系統(tǒng), 型號(hào)360

FSM拉曼的應(yīng)用

l  局部應(yīng)力；

l  局部化學(xué)成分

l  局部損傷

紫外光可測(cè)試的深度

***的薄膜（SOI 或 Si-SiGe）或者厚樣的近表面局部應(yīng)力

可見光可測(cè)試的深度

良好的厚樣以及多層樣品的局部應(yīng)力

系統(tǒng)測(cè)試應(yīng)力的精度小于15mpa (0.03cm-1)

全自動(dòng)的200mm和300mm硅片檢查

自動(dòng)檢驗(yàn)和聚焦的能力,。

以上的信息比較有限,，如果您有更加詳細(xì)的技術(shù)問題，請(qǐng)聯(lián)系我們的技術(shù)人員為您解答,?；蛘咴L問我們的官網(wǎng)了解更多信息。 可選粗糙度: 20 — 1000? (RMS),。

平臺(tái)和平臺(tái)附件標(biāo)準(zhǔn)和**平臺(tái),。

CS-1可升級(jí)接觸式SS-3樣品臺(tái)，可測(cè)波長(zhǎng)范圍190-1700nm

SS-36“×6” 樣品平臺(tái),，F(xiàn)20 系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)配置,。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度，103 mm 進(jìn)深,。 適用所有波長(zhǎng)范圍,。

SS-3-88“×8” 樣品平臺(tái)?？烧{(diào)節(jié)鏡頭高度,，139mm 進(jìn)深。 適用所有波長(zhǎng)范圍。

SS-3-24F20 的 24“×24” 樣品平臺(tái),。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，550mm 進(jìn)深。 適用所有波長(zhǎng)范圍,。

SS-56" x 6" 吋樣品臺(tái),，具有可調(diào)整焦距的反射光學(xué)配件，需搭配具有APC接頭的光纖,，全波長(zhǎng)范圍使用

樣品壓重-SS-3-50

樣品壓重 SS-3 平臺(tái), 50mm x 50mm

樣品壓重-SS-3-110

樣品壓重 SS-3 平臺(tái), 110mm x 110mm

厚度范圍: 測(cè)量從 1nm 到 13mm 的厚度,。 測(cè)量 70nm 到 10um 薄膜的折射率。高校膜厚儀廠家

F30樣品層:分子束外延和金屬有機(jī)化學(xué)氣相沉積: 可以測(cè)量平滑和半透明的,，或輕度吸收的薄膜,。導(dǎo)電膜膜厚儀科研應(yīng)用

    氚燈電腦要求60mb硬盤空間50mb空閑內(nèi)存usb接口電源要求100-240vac,50-60hz,a選配以下鏡頭，就可在F20的基礎(chǔ)上升級(jí)為新一代的F70膜厚測(cè)量?jī)x,。鏡頭配件厚度范圍(Index=)精度光斑大小UPG-F70-SR-KIT15nm-50μmnm標(biāo)配mm(可選配下至20μm)LA-CTM-VIS-1mm50μmmμm5μm150μmmμm10μm產(chǎn)品應(yīng)用,，在可測(cè)樣品基底上有了極大的飛躍：●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測(cè)量，即使是藥片,，木材或紙張等粗糙的非透明基底,。●玻璃或塑料的板材,、管道和容器?！窆鈱W(xué)鏡頭和眼科鏡片,。Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x經(jīng)驗(yàn)**無出其右。導(dǎo)電膜膜厚儀科研應(yīng)用

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司位于中國(guó)(上海)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)加太路39號(hào)第五層六十五部位,。公司業(yè)務(wù)涵蓋磁記錄,，半導(dǎo)體，光通訊生產(chǎn),，測(cè)試儀器的批發(fā)等,，價(jià)格合理，品質(zhì)有保證,。公司秉持誠(chéng)信為本的經(jīng)營(yíng)理念,，在儀器儀表深耕多年，以技術(shù)為先導(dǎo),，以自主產(chǎn)品為重點(diǎn),，發(fā)揮人才優(yōu)勢(shì)，打造儀器儀表良好品牌,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)立足于全國(guó)市場(chǎng),，依托強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力，融合前沿的技術(shù)理念，飛快響應(yīng)客戶的變化需求,。