顯微鏡轉(zhuǎn)接器F40 系列轉(zhuǎn)接器,。

Adapter-BX-Cmount該轉(zhuǎn)接器將 F40 接到 OlympusBX 或 MX 上而不必使用 Olympus 價格較貴的 c-mount 轉(zhuǎn)接器。MA-Cmount-F20KIT該轉(zhuǎn)接器將F20連接到顯微鏡上 (模仿 F40,，光敏度低 5 倍)，包括集成攝像機、光纖,、TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標準、F40 軟件,，和 F40 手冊,。

軟件升級：

UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件,，需要UPG-RT-to-Thickness。UPG-F10-AR-HC為 F10-AR 升級的FFT 硬涂層厚度測量軟件,。 包括 TS-Hardcoat-4um 厚度標準,。 厚度測量范圍 0.25um-15um。UPG-RT-to-Color&Regions升級的色彩與光譜區(qū)域分析軟件,，需要UPG-Spec-to-RT,。 F10-AR在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進行比較低、比較高和平均反射測試,。原裝進口膜厚儀服務為先

    其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間,，測量精度高達1埃,，測量穩(wěn)定性高達，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機型可選,?？蓱妙I域包括：生物醫(yī)學（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspectionapplications)等。通過Filmetrics膜厚測量儀*新反射式光譜測量技術,*多4層透明薄膜厚度,、n,、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得。其應用***,，例如:半導體工業(yè):光阻,、氧化物、氮化物,。LCD工業(yè):間距(cellgaps),，ito電極、polyimide保護膜,。光電鍍膜應用:硬化鍍膜,、抗反射鍍膜、過濾片,。極易操作,、快速、準確,、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點,，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:F20:這簡單入門型號有三種不同波長選擇(由220nm紫外線區(qū)至1700nm近紅外線區(qū))為任意攜帶型，可以實現(xiàn)反射,、膜厚,、n、k值測量,。F30:這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口,。可實時監(jiān)控長晶速度,、實時提供膜厚,、n、k值,。并可切定某一波長或固定測量時間間距,。Filmetrics F30膜厚儀技術服務F40-EXR范圍：20nm-120μm；波長：400-1700nm,。

硬涂層厚度測量Filmetrics 系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應用,，用于測量硬涂層和其他保護性薄膜的厚度。F10-HC 是為彎曲表面和多層薄膜 (例如,， 底涂/硬涂層) 而專門設計的,。

汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進行多點測量,，因為涂層厚度對于品質(zhì)至關重要。 外側(cè)硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內(nèi)側(cè)的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的,。 這些用途中的每一項是特殊的挑戰(zhàn),，而 Filmetrics 已經(jīng)開發(fā)出軟件、硬件和應用知識以便為用戶提供正確的解決方案,。

測量范例帶HC選項的F10-AR收集測量厚度的反射率信息,。這款儀器采用光學接觸探頭，它的設計降低了背面反射,。接觸探頭安置在亞克力表明,。FILMeature軟件自動分析收集的光譜信息，給出涂層厚度,。在這個例子中,，亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆。

不管您參與對顯示器的基礎研究還是制造,，F(xiàn)ilmetrics 都能夠提供您所需要的...測量液晶層- 聚酰亞胺、硬涂層,、液晶,、間隙測量有機發(fā)光二極管層- 發(fā)光、電注入,、緩沖墊,、封裝對于空白樣品，我們建議使用 F20 系列儀器,。 對于圖案片,，F(xiàn)ilmetrics的F40用于測量薄膜厚度已經(jīng)找到了顯示器應用***使用。

測量范例此案例中,，我們成功地測量了藍寶石和硼硅玻璃基底上銦錫氧化物薄膜厚度,。與Filmetrics專有的ITO擴散模型結(jié)合的F10-RTA-EXR儀器，可以很容易地在380納米到1700納米內(nèi)同時測量透射率和反射率以確定厚度,，折射率,，消光系數(shù)。由于ITO薄膜在各種基底上不同尋常的的擴散,，這個擴展的波長范圍是必要的,。 測量SU-8 其它厚光刻膠的厚度有特別重要的應用。

非晶態(tài)多晶硅硅元素以非晶和晶體兩種形式存在, 在兩級之間是部分結(jié)晶硅,。部分結(jié)晶硅又被叫做多晶硅,。

非晶硅和多晶硅的光學常數(shù)(n和k)對不同沉積條件是獨特的，必須有精確的厚度測量,。 測量厚度時還必須考慮粗糙度和硅薄膜結(jié)晶可能的風化,。

Filmetrics 設備提供的復雜的測量程序同時測量和輸出每個要求的硅薄膜參數(shù),， 并且“一鍵”出結(jié)果。

FSM拉曼的應用：局部應力,； 局部化學成分,；局部損傷。液晶顯示膜厚儀技術支持

F30 系列是監(jiān)控薄膜沉積,，**強有力的工具,。原裝進口膜厚儀服務為先

F40 系列將您的顯微鏡變成薄膜測量工具F40 產(chǎn)品系列用于測量小到 1 微米的光斑。 對大多數(shù)顯微鏡而言,，F(xiàn)40 能簡單地固定在 c 型轉(zhuǎn)接器上,，這樣的轉(zhuǎn)接器是顯微鏡行業(yè)標準配件。

F40 配備的集成彩色攝像機,，能夠?qū)y量點進行準確監(jiān)控,。 在 1 秒鐘之內(nèi)就能測定厚度和折射率。 像我們所有的臺式儀器一樣,，F(xiàn)40 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)完成設定,。

F40：20nm-40μm 400-850nm

F40-EXR：20nm-120μm 400-1700nm

F40-NIR：40nm-120μm 950-1700nm

F40-UV：4nm-40μm 190-1100nm

F40-UVX：4nm-120μm 190-1700nm 原裝進口膜厚儀服務為先

岱美儀器技術服務（上海）有限公司是一家磁記錄、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務,，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易，商務信息咨詢服務,。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄、半導體、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口,、傭金代理（拍賣除外）及其相關配套服務，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易,，商務信息咨詢服務。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動】的公司,，致力于發(fā)展為創(chuàng)新務實、誠實可信的企業(yè),。岱美儀器技術服務深耕行業(yè)多年,，始終以客戶的需求為向?qū)В瑸榭蛻籼峁?**的磁記錄,，半導體,，光通訊生產(chǎn)，測試儀器的批發(fā),。岱美儀器技術服務繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路,，既要實現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長，又要聚焦關鍵領域,，實現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破,。岱美儀器技術服務始終關注自身，在風云變化的時代,，對自身的建設毫不懈怠,，高度的專注與執(zhí)著使岱美儀器技術服務在行業(yè)的從容而自信,。