三,、涵蓋面廣的2D、3D形貌參數(shù)分析：

  表面三維輪廓儀可測量300余種2D,、3D參數(shù),，無論加工的物件使用哪一種評定標準，都可以提供***的檢測結(jié)果作為評定依據(jù),，可輕松獲取被測物件精確的線粗糙度,、面粗糙度、輪廓度等參數(shù),。

四,、穩(wěn)定性強，高重復性：

  儀器運用高性能內(nèi)部抗震設(shè)計,，不受外部環(huán)境影響測量的準確性,。超精密的Z向掃描模塊和測量軟件完美結(jié)合，保證高重復性,，將測量誤差降低到亞納米級別。

 三維表面輪廓儀是精密加工領(lǐng)域必不可少的檢測設(shè)備,，它既保障了生產(chǎn)加工的準確性,，又提高了成品的出產(chǎn)效率，滿足用戶對各項2D,，3D參數(shù)檢測需求的同時,，依然能夠保持高重復性，高穩(wěn)定性的運行,，其對精密加工所產(chǎn)生的的作用是舉足輕重的,。 NanoX-2000/3000 系列 3D 光學干涉輪廓儀建立在移相干涉測量（PSI）、白光垂直掃描干涉測量（VSI）和單色光。光刻機輪廓儀國內(nèi)用戶

輪廓儀在晶圓的IC封裝中的應(yīng)用：

晶圓的IC制造過程可簡單看作是將光罩上的電路圖通過UV刻蝕到鍍膜和感光層后的硅晶圓上這一過程,，其中由于光罩中電路結(jié)構(gòu)尺寸極小,，任何微小的黏附異物和下次均會導致制造的晶圓IC表面存在缺 陷，因此必須對光罩和晶圓的表面輪廓進行檢測,，檢測相應(yīng)的輪廓尺寸,。

白光輪廓儀的典型應(yīng)用：

對各種產(chǎn)品，不見和材料表面的平面度,，粗糙度,，波溫度，面型輪廓,，表面缺 陷,，磨損情況，腐蝕情況,，孔隙間隙,，臺階高度，完全變形情況,，加工情況等表面形貌特征進行測量和分析,。

干涉測量輪廓儀用途是什么輪廓儀可用于：散熱材料表面粗糙度分析（粗糙度控制），生物,、醫(yī)藥新技術(shù),，微流控器件。

    輪廓儀是用容易理解的機械技術(shù)測量薄膜厚度,。它的工作原理是測量測量劃過薄膜的檢測筆的高度(見右圖),。輪廓儀的主要優(yōu)點是可以測量所有固體膜，包括不透明的厚金屬膜,。更昂貴的系統(tǒng)能測繪整個表面輪廓,。(有關(guān)我們的低成本光學輪廓儀的資訊，請點擊這里).獲取反射光譜指南然而輪廓儀也有不足之處,。首先,，樣本上必須有個小坎才能測量薄膜厚度，而小坎通常無法很標準(見圖),。這樣,，標定誤差加上機械漂移造成5%-10%的測量誤差。與此相比,，光譜反射儀使用非接觸技術(shù),，不需要任何樣本準備就可以測量厚度。只需一秒鐘分析從薄膜反射的光就可確定薄膜厚度和折射率,。光譜反射儀還可以測量多層薄膜,。輪廓儀和光譜反射儀的主要優(yōu)點列表于下,。如需更多光譜反射儀信息請訪問我們官網(wǎng)。

輪廓儀白光干涉的創(chuàng)始人：

邁爾爾遜

1852-1931

美國物理學家

曾從事光速的精密測量工作  

邁克爾遜首倡用光波波長作為長度基準,。

1881年,，他發(fā)明了一種用以測量微小長度，折射率和光波波長的干涉儀,，邁克爾遜干涉儀,。

他和美國物理學家莫雷合作，進行了***的邁克爾遜-莫雷實驗,，否定了以太de 存在,，為愛因斯坦建立狹義相對論奠定了基礎(chǔ)。

由于創(chuàng)制了精密的光學儀器和利用這些儀器所完成光譜學和基本度量學研究,，邁克爾遜于1907年獲得諾貝爾物理學獎,。 儀器運用高性能內(nèi)部抗震設(shè)計，不受外部環(huán)境影響測量的準確性,。

我們的輪廓儀有什么優(yōu)勢呢

世界先進水平的產(chǎn)品技術(shù)

合理的產(chǎn)品價格

24小時到現(xiàn)場的本地化售后服務(wù)

無償產(chǎn)品技術(shù)培訓和應(yīng)用技術(shù)支持

個性化的應(yīng)用軟件服務(wù)支持

合理的保質(zhì)期后產(chǎn)品服務(wù)

更佳的產(chǎn)品性價比和更優(yōu)解決方案

非接觸式輪廓儀（光學輪廓儀）是以白光干涉為原理制成的一款高精度微觀形貌測量儀器,，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,，從納米到微米級別工件的粗糙度,、平整度、微觀幾何輪廓,、曲率等,。（本段來自網(wǎng)絡(luò)） 包含了從納米到微米級別的輪廓、線粗糙度,、面粗糙度等二維,、三維參數(shù)，作為評定該物件是否合格的標準,。太陽能電池輪廓儀干涉測量應(yīng)用

晶圓的IC制造過程可簡單看作是將光罩上的電路圖通過UV刻蝕到鍍膜和感光層后的硅晶圓上這一過程,。光刻機輪廓儀國內(nèi)用戶

NanoX-系列產(chǎn)品PCB測量應(yīng)用測試案例

測量種類

?

基板A Sold Mask 3D形貌、尺寸

?

基板A Sold Mask粗糙度

?

基板A 綠油區(qū)域3D 形貌

?

基板A 綠油區(qū)域 Pad 粗糙度

?

基板A 綠油區(qū)域粗糙度

?

基板A 綠油區(qū)域 pad寬度

?

基板A Trace 3D形貌和尺寸

?

基板B 背面 Pad

NanoX-8000 系統(tǒng)主要性能

? 菜單式系統(tǒng)設(shè)置,，一鍵式操作,，自動數(shù)據(jù)存儲

? 一鍵式系統(tǒng)校準

? 支持連接MES系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可導入SPC

? 具備異常報警,，急停等功能,，報警信息可儲存

? MTBF ≥ 1500 hrs

? 產(chǎn)能 : 45s/點 （移動 + 聚焦 + 測量）（掃描范圍 50um）

? 具備 Global alignment & Unit alignment

? 自動聚焦范圍 ： ± 0.3mm

? XY運動速度 **快

岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司專注技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品研發(fā)，發(fā)展規(guī)模團隊不斷壯大,。公司目前擁有較多的高技術(shù)人才，以不斷增強企業(yè)重點競爭力,，加快企業(yè)技術(shù)創(chuàng)新,，實現(xiàn)穩(wěn)健生產(chǎn)經(jīng)營,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司主營業(yè)務(wù)涵蓋磁記錄，半導體,，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā)，堅持“質(zhì)量保證,、良好服務(wù),、顧客滿意”的質(zhì)量方針，贏得廣大客戶的支持和信賴,。公司深耕磁記錄,，半導體，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā),，正積蓄著更大的能量，向更廣闊的空間,、更寬泛的領(lǐng)域拓展,。