厚度測量產(chǎn)品：我們的膜厚測量產(chǎn)品可適用于各種應用,。我們大部分的產(chǎn)品皆備有庫存以便快速交貨,。請瀏覽本公司網(wǎng)頁產(chǎn)品資訊或聯(lián)系我們的應用工程師針對您的厚度測量需求提供立即協(xié)助,。

單點厚度測量：

一鍵搞定的薄膜厚度和折射率臺式測量系統(tǒng)。 測量 1nm 到 13mm 的單層薄膜或多層薄膜堆,。

大多數(shù)產(chǎn)品都有庫存而且可立即出貨,。

微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量當測量斑點只有1微米（μm）時,，需要用您自己的顯微鏡或者用我們提供的整個系統(tǒng)。 測量SU-8 其它厚光刻膠的厚度有特別重要的應用,。襯底膜厚儀推薦廠家

測量復雜的有機材料典型的有機發(fā)光顯示膜包括幾層： 空穴注入層,，空穴傳輸層，以及重組/發(fā)光層,。所有這些層都有不尋常有機分子（小分子和/或聚合物）,。雖然有機分子高度反常色散，測量這些物質(zhì)的光譜反射充滿挑戰(zhàn),，但對Filmetrics卻不盡然,。我們的材料數(shù)據(jù)庫覆蓋整個OLED的開發(fā)歷史，能夠處理隨著有機分子而來的高折射散射和多種紫外光譜特征,。軟基底上的薄膜有機發(fā)光顯示器具有真正柔性顯示的潛力,，要求測量像PET（聚乙烯）塑料這樣有高雙折射的基準，這對托偏儀測量是個嚴重的挑戰(zhàn)： 或者模擬額外的復雜光學,，或者打磨PET背面,。 而這些對我們非偏振反射光譜來說都不需要,，極大地節(jié)約了人員培訓和測量時間。操作箱中測量有機發(fā)光顯示器材料對水和氧極度敏感,。 很多科研小組都要求在控制的干燥氮氣操作箱中測量,。 而我們體積小，模塊化,，光纖設(shè)計的儀器提供非密封,、實時“操作箱”測量。Filmetrics膜厚儀現(xiàn)場服務F50-s980測厚范圍：4μm-1mm,；波長：960-1000nm,。

    F20系列是世界上****的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)，只需按下一個按鈕,，不到一秒鐘即可同時測量厚度和折射率,。設(shè)置也非常簡單,只需把設(shè)備連接到您運行Windows?系統(tǒng)的計算機USB端口,并連接樣品平臺就可以了。F20系列不同型號的選擇,，主要取決于您需要測量的薄膜厚度（確定所需的波長范圍）,。型號厚度范圍*波長范圍F2015nm-70μm380-1050nmF20-EXR15nm-250μm380-1700nmF20-NIR100nm-250μm950-1700nmF20-UV1nm-40μm190-1100nmF20-UVX1nm-250μm190-1700nmF20-XTμm-450μm1440-1690nm*取決于薄膜種類Filmetrics膜厚測試儀通過分析薄膜的反射光譜來測量薄膜的厚度，通過非可見光的測量,，可以測量薄至1nm或厚至13mm的薄膜,。測量結(jié)果可在幾秒鐘顯示：薄膜厚度、顏色,、折射率甚至是表面粗糙度,。1.有五種不同波長選擇(波長范圍從紫外220nm至近紅外1700nm)2.比較大樣品薄膜厚度的測量范圍是：3nm～25um3.精度高于、氧化物,、氮化物,；、Polyimides,；3.光電鍍膜應用:硬化膜,、抗反射膜、濾波片,。1.光源有壽命,，不用時請關(guān)閉2.光纖易損，不要彎折,，不要頻繁插拔3.精密儀器,。

Filmetrics 的技術(shù)Filmetrics 提供了范圍***的測量生物醫(yī)療涂層的方案：支架： 支架上很小的涂層區(qū)域通常需要顯微鏡類的儀器。 我們的 F40 在幾十個實驗室內(nèi)得到使用,，測量鈍化和/或藥 物輸送涂層,。我們有獨特的測量系統(tǒng)對整個支架表面的自動厚度測繪，只需在測量時旋轉(zhuǎn)支架。植入件： 在測量植入器件的涂層時,，不規(guī)則的表面形狀通常是***挑戰(zhàn),。 Filmetrics 提供這一用途的全系列探頭,。導絲和導引針： 和支架一樣,，這些器械常常可以用象 F40 這樣的顯微鏡儀器,。導液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可見光譜不透明性決定了 F20-NIR 是這一用途方面全世界眾多實驗室內(nèi)很受歡迎的儀器,。產(chǎn)品名稱：紅外干涉厚度測量設(shè)備。

不管您參與對顯示器的基礎(chǔ)研究還是制造,，F(xiàn)ilmetrics 都能夠提供您所需要的...測量液晶層- 聚酰亞胺,、硬涂層、液晶,、間隙測量有機發(fā)光二極管層- 發(fā)光,、電注入、緩沖墊,、封裝對于空白樣品,，我們建議使用 F20 系列儀器。 對于圖案片,，F(xiàn)ilmetrics的F40用于測量薄膜厚度已經(jīng)找到了顯示器應用***使用,。

測量范例此案例中，我們成功地測量了藍寶石和硼硅玻璃基底上銦錫氧化物薄膜厚度,。與Filmetrics專有的ITO擴散模型結(jié)合的F10-RTA-EXR儀器,，可以很容易地在380納米到1700納米內(nèi)同時測量透射率和反射率以確定厚度，折射率,，消光系數(shù),。由于ITO薄膜在各種基底上不同尋常的的擴散，這個擴展的波長范圍是必要的,。 厚度范圍: 測量從 1nm 到 13mm 的厚度,。 測量 70nm 到 10um 薄膜的折射率。襯底膜厚儀推薦廠家

F3-s980 是波長為980奈米的版本,，是為了針對成本敏銳的應用而設(shè)計,。襯底膜厚儀推薦廠家

F54自動化薄膜測繪Filmetrics F54 系列的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米

可選擇數(shù)十種內(nèi)建之同心圓,矩形,或線性圖案模式,或自行建立無數(shù)量限制之測量點.*需具備基本電腦技能的任何人可在數(shù)分鐘內(nèi)自行建立配方

F54 自動化薄膜測繪只需聯(lián)結(jié)設(shè)備到您運行Windows?系統(tǒng)計算機的USB端口, 可在幾分鐘輕松設(shè)置

不同的型號主要是由厚度和波長范圍作為區(qū)別。通常較薄的膜需要較短波長作測量(如F54-UV) 用來測量較薄的膜,而較長的波長可以用來測量更厚,，更粗糙,，或更不透明的薄膜 襯底膜厚儀推薦廠家

岱美儀器技術(shù)服務（上海）有限公司致力于儀器儀表，是一家其他型公司,。公司業(yè)務分為磁記錄,，半導體，光通訊生產(chǎn)，測試儀器的批發(fā)等,，目前不斷進行創(chuàng)新和服務改進,，為客戶提供良好的產(chǎn)品和服務。公司從事儀器儀表多年,，有著創(chuàng)新的設(shè)計,、強大的技術(shù)，還有一批**的專業(yè)化的隊伍,，確保為客戶提供良好的產(chǎn)品及服務,。岱美儀器技術(shù)服務憑借創(chuàng)新的產(chǎn)品、專業(yè)的服務,、眾多的成功案例積累起來的聲譽和口碑,，讓企業(yè)發(fā)展再上新高。