F50 系列自動化薄膜測繪Filmetrics F50 系列的產(chǎn)品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可接受標準和客制化夾盤，樣品直徑可達450毫米,。(耐用的平臺在我們的量產(chǎn)系統(tǒng)能夠執(zhí)行數(shù)百萬次的量測!)
測繪圖案可以是極座標,、矩形或線性的，您也可以創(chuàng)造自己的測繪方法,，并且不受測量點數(shù)量的限制,。內(nèi)建數(shù)十種預定義的測繪圖案。
不同的 F50 儀器是根據(jù)波長范圍來加以區(qū)分的,。 標準的 F50是很受歡迎的產(chǎn)品,。 一般較短的波長 (例如， F50-UV) 可用于測量較薄的薄膜,，而較長的波長則可以用來測量更厚,、更不平整以及更不透明的薄膜。 適用于所有可讓紅外線通過的材料 硅,、藍寶石,、砷化鎵、磷化銦,、碳化硅,、玻璃、石 英,、聚合物等,。薄膜測試儀膜厚儀有哪些品牌
硬涂層厚度測量Filmetrics 系統(tǒng)在汽車和航空工業(yè)得到廣泛應用，用于測量硬涂層和其他保護性薄膜的厚度,。F10-HC 是為彎曲表面和多層薄膜 (例如,， 底涂/硬涂層) 而專門設(shè)計的。
汽車前燈在汽車前燈組件的制造中需要進行多點測量,，因為涂層厚度對于品質(zhì)至關(guān)重要,。 外側(cè)硬涂層和聚碳酸酯鏡頭內(nèi)側(cè)的防霧層以及反射器上的涂層的厚度都是很重要的。 這些用途中的每一項是特殊的挑戰(zhàn),，而 Filmetrics 已經(jīng)開發(fā)出軟件、硬件和應用知識以便為用戶提供正確的解決方案,。
測量范例帶HC選項的F10-AR收集測量厚度的反射率信息,。這款儀器采用光學接觸探頭，它的設(shè)計降低了背面反射,。接觸探頭安置在亞克力表明,。FILMeature軟件自動分析收集的光譜信息，給出涂層厚度,。在這個例子中,，亞克力板上還有一層與硬涂層折射率非常近似的底漆。 浙江膜厚儀技術(shù)服務(wù)應用：襯底厚度(不受圖案硅片、有膠帶,、凹凸或者粘合硅片影響),，平整度。
其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間,，測量精度高達1埃,，測量穩(wěn)定性高達，測量時間只需一到二秒,并有手動及自動機型可選,?？蓱妙I(lǐng)域包括：生物醫(yī)學（Biomedical）,液晶顯示(Displays),硬涂層(Hardcoats),金屬膜(Metal),眼鏡涂層(Ophthalmic),聚對二甲笨(Parylene),電路板(PCBs&PWBs),多孔硅(PorousSilicon),光阻材料(ThickResist),半導體材料(Semiconductors),太陽光伏(Solarphotovoltaics),真空鍍層(VacuumCoatings),圈筒檢查(Webinspectionapplications)等。通過Filmetrics膜厚測量儀*新反射式光譜測量技術(shù),*多4層透明薄膜厚度,、n,、k值及粗糙度能在數(shù)秒鐘測得。其應用***,，例如:半導體工業(yè):光阻,、氧化物、氮化物,。LCD工業(yè):間距(cellgaps),，ito電極、polyimide保護膜,。光電鍍膜應用:硬化鍍膜,、抗反射鍍膜、過濾片,。極易操作,、快速、準確,、機身輕巧及價格便宜為其主要優(yōu)點,，F(xiàn)ilmetrics提供以下型號以供選擇:F20:這簡單入門型號有三種不同波長選擇(由220nm紫外線區(qū)至1700nm近紅外線區(qū))為任意攜帶型，可以實現(xiàn)反射,、膜厚,、n、k值測量,。F30:這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口,。可實時監(jiān)控長晶速度,、實時提供膜厚,、n、k值,。并可切定某一波長或固定測量時間間距,。
顯微鏡轉(zhuǎn)接器F40 系列轉(zhuǎn)接器,。
Adapter-BX-Cmount該轉(zhuǎn)接器將 F40 接到 OlympusBX 或 MX 上而不必使用 Olympus 價格較貴的 c-mount 轉(zhuǎn)接器。MA-Cmount-F20KIT該轉(zhuǎn)接器將F20連接到顯微鏡上 (模仿 F40,，光敏度低 5 倍),，包括集成攝像機、光纖,、TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標準,、F40 軟件，和 F40 手冊,。
軟件升級：
UPG-RT-to-Thickness升級的厚度求解軟件,，需要UPG-Spec-to-RT。UPG-Thickness-to-n&k升級的折射率求解軟件,，需要UPG-RT-to-Thickness,。UPG-F10-AR-HC為 F10-AR 升級的FFT 硬涂層厚度測量軟件。 包括 TS-Hardcoat-4um 厚度標準,。 厚度測量范圍 0.25um-15um,。UPG-RT-to-Color&Regions升級的色彩與光譜區(qū)域分析軟件，需要UPG-Spec-to-RT,。 F50測厚范圍：20nm-70μm,；波長：380-1050nm。
平臺和平臺附件標準和**平臺,。
CS-1可升級接觸式SS-3樣品臺,，可測波長范圍190-1700nm
SS-36“×6” 樣品平臺，F(xiàn)20 系統(tǒng)的標準配置,。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，103 mm 進深。 適用所有波長范圍,。
SS-3-88“×8” 樣品平臺,。可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，139mm 進深,。 適用所有波長范圍。
SS-3-24F20 的 24“×24” 樣品平臺,。 可調(diào)節(jié)鏡頭高度,，550mm 進深。 適用所有波長范圍,。
SS-56" x 6" 吋樣品臺，具有可調(diào)整焦距的反射光學配件,，需搭配具有APC接頭的光纖,，全波長范圍使用
樣品壓重-SS-3-50
樣品壓重 SS-3 平臺, 50mm x 50mm
樣品壓重-SS-3-110
樣品壓重 SS-3 平臺, 110mm x 110mm
Filmetrics F60-t 系列就像我們的 F50產(chǎn)品一樣測繪薄膜厚度和折射率,，但它增加了許多用于生產(chǎn)環(huán)境的功能。Filmetrics膜厚儀國內(nèi)用戶
幾乎任何形狀的樣品厚度和折射率的自動測繪,。人工加載或機器人加載均可,。薄膜測試儀膜厚儀有哪些品牌
厚度標準：
所有 Filmetrics 厚度標準都是得到驗證可追溯的 NIST 標準。
S-Custom-NIST：在客戶提供的樣品上定制可追溯的 NIST 厚度校準,。
TS-Focus-SiO2-4-3100SiO2-on-Si ：厚度標準,，外加調(diào)焦區(qū)和單晶硅基準，厚度大約 3100A,，4" 晶圓,。
TS-Focus-SiO2-4-10000SiO2-on-Si ：厚度標準，外加調(diào)焦區(qū)和單晶硅基準,，厚度大約 10000A,，4" 晶圓。
TS-Hardcoat-4μm：丙烯酸塑料硬涂層厚度標準,，厚度大約 4um,，直徑 2"。
TS-Hardcoat-Trans：背面透明的硬涂層,，可用于透射測量,。
TS-Parylene-4um：丙烯酸塑料上的聚對二甲苯厚度標準，厚度大約 4um ,，直徑2",。
TS-Parylene-8um：硅基上的聚對二甲苯厚度標準，厚度大約 8um,，23mm x 23mm,。
TS-SiO2-4-7200：硅基上的二氧化硅厚度標準，厚度大約 7200A,，4" 晶圓,。
TS-SiO2-4-7200-NIST：可追溯的 NIST SiO2-4-7200 厚度標準。
TS-SiO2-6-Multi：多厚度硅基上的二氧化硅標準: 125埃米,，250埃米,，500埃米，1000埃米,，5000埃米,，和 10000埃米 (+/-10%誤差)，6英寸晶圓,。TS-SS3-SiO2-8000：專為SS-3樣品平臺設(shè)計之二氧化硅厚度標準片,厚度大約為 8000A,。 薄膜測試儀膜厚儀有哪些品牌
岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司總部位于中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)加太路39號第五層六十五部位，是一家磁記錄,、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關(guān)配套服務(wù),，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易，商務(wù)信息咨詢服務(wù),。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關(guān)部門批準后方可開展經(jīng)營活動】磁記錄、半導體,、光通訊生產(chǎn)及測試儀器的批發(fā),、進出口、傭金代理（拍賣除外）及其相關(guān)配套服務(wù),，國際貿(mào)易,、轉(zhuǎn)口貿(mào)易，商務(wù)信息咨詢服務(wù),。 【依法須經(jīng)批準的項目,，經(jīng)相關(guān)部門批準后方可開展經(jīng)營活動】的公司。公司自創(chuàng)立以來,，投身于磁記錄,，半導體，光通訊生產(chǎn),，測試儀器的批發(fā),，是儀器儀表的主力軍。岱美儀器技術(shù)服務(wù)繼續(xù)堅定不移地走高質(zhì)量發(fā)展道路,，既要實現(xiàn)基本面穩(wěn)定增長,，又要聚焦關(guān)鍵領(lǐng)域，實現(xiàn)轉(zhuǎn)型再突破,。岱美儀器技術(shù)服務(wù)始終關(guān)注儀器儀表市場,，以敏銳的市場洞察力，實現(xiàn)與客戶的成長共贏,。