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陽(yáng)江半導(dǎo)體SPI檢測(cè)設(shè)備廠家價(jià)格

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-06-14

3D結(jié)構(gòu)光(PMP)錫膏檢測(cè)設(shè)備(SPI)及其DLP投影光機(jī)和相機(jī)

一,、SPI的分類:

從檢測(cè)原理上來分SPI主要分為兩個(gè)大類,,線激光掃描式與面結(jié)構(gòu)光柵PMP技術(shù),。

1)激光掃描式的SPI通過三角量測(cè)的原理計(jì)算出錫膏的高度。此技術(shù)因?yàn)樵肀容^簡(jiǎn)單,,技術(shù)比較成熟,,但是因?yàn)槠浔旧淼募夹g(shù)局限性如激光的掃描寬度偏長(zhǎng),單次取樣,,雜訊干擾等,,所以比較多的運(yùn)用在對(duì)精度與重復(fù)性要求不高的錫厚測(cè)試儀,桌上型SPI等,。

2)結(jié)構(gòu)光柵型SPIPMP,,又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術(shù)是一種基于正弦條紋投影和位相測(cè)量的光學(xué)三維面形測(cè)量技術(shù)。通過獲取全場(chǎng)條紋的空間信息與一個(gè)條紋周期內(nèi)相移條紋的時(shí)序信息,,來完成物體三維信息的重建,。由于其具有全場(chǎng)性、速度快,、高精度,、自動(dòng)化程度高等特點(diǎn),這種技術(shù)已在工業(yè)檢測(cè),、機(jī)器視覺,、逆向工程等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。目前大部分的在線SPI設(shè)備都已經(jīng)升級(jí)到此種技術(shù),。

      但是它采用的離散相移技術(shù)要求有精確的正弦結(jié)構(gòu)光柵與精確的相移,,在實(shí)際系統(tǒng)中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化,相移誤差與隨機(jī)誤差,,它將導(dǎo)致計(jì)算位相和重建面形的誤差,。雖然已經(jīng)出現(xiàn)了不少算法能降低線性相移誤差,但要解決相移過程中的隨機(jī)相移誤差問題,,還存在一定的困難,。 SMT中的檢測(cè)設(shè)備AOI和SPI區(qū)別主要區(qū)別是什么呢,?陽(yáng)江半導(dǎo)體SPI檢測(cè)設(shè)備廠家價(jià)格

陽(yáng)江半導(dǎo)體SPI檢測(cè)設(shè)備廠家價(jià)格,SPI檢測(cè)設(shè)備

光電轉(zhuǎn)化攝影系統(tǒng)

      指的是光電二極管器件和與之搭配的成像系統(tǒng)。是獲得圖像的”眼睛”,原理都是光電二極管接受到被檢測(cè)物體反射的光線,,光能轉(zhuǎn)化產(chǎn)生電荷,,轉(zhuǎn)化后的電荷被光電傳感器中的電子元件收集,傳輸形成電壓模擬信號(hào)二極管吸收光線強(qiáng)度不同時(shí)生成的模擬電壓大小不同,,依次輸出的模擬電壓值被轉(zhuǎn)化為數(shù)字灰階0-255值,,灰階值反映了物體反射光的強(qiáng)弱,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)識(shí)別不同被檢測(cè)物體的目的光電轉(zhuǎn)化器可以分為CCD和CMOS兩種,,

      因?yàn)橹谱鞴に嚺c設(shè)計(jì)不同,,CCD與CMOS傳感器工作原理主要表現(xiàn)為數(shù)字電荷傳送的方式的不同CCD采用硅基半導(dǎo)體加工工藝,,并設(shè)置了垂直和水平移位寄存器,,電極所產(chǎn)生的電場(chǎng)推動(dòng)電荷鏈接方式傳輸?shù)侥?shù)轉(zhuǎn)換器。而CMOS采用了無(wú)機(jī)半導(dǎo)體加工工藝,,每像素設(shè)計(jì)了額外的電子電路,,每個(gè)像素都可以被定位,無(wú)需CCD中那樣的電荷移位設(shè)計(jì),,而且其對(duì)圖像信息的讀取速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于CCD芯片,,因光暈和拖尾等過度曝光而產(chǎn)生的非自然現(xiàn)象的發(fā)生頻率要低得多,價(jià)格和功耗相較CCD光電轉(zhuǎn)化器也低,。但其非常明顯的缺點(diǎn),,作為半導(dǎo)體工藝制作的像素單元缺陷多,靈敏度會(huì)有問題,,為每個(gè)像素電子電路提供所需的額外空間不會(huì)作為光敏區(qū),,域而且CMOS芯片表面上的光敏區(qū)域部分小于CCD芯片 陽(yáng)江半導(dǎo)體SPI檢測(cè)設(shè)備廠家價(jià)格AOI在SMT各工序的應(yīng)用在SMT中,AOI主要應(yīng)用于焊膏印刷檢測(cè),、元件檢驗(yàn),、焊后組件檢測(cè)。

陽(yáng)江半導(dǎo)體SPI檢測(cè)設(shè)備廠家價(jià)格,SPI檢測(cè)設(shè)備

SPI為什么會(huì)逐漸取代人工目檢,?

現(xiàn)在的人工越來越貴,,并且人員管理也越來越難,人工目檢還會(huì)出現(xiàn)漏檢或錯(cuò)檢,,因此在線SPI逐漸取代人工目檢,,達(dá)到節(jié)約成本、提高生產(chǎn)效率,、降低誤判率,、提高直通率等等,在現(xiàn)代的EMS加工廠中,,大量的SPI逐漸取代人工目檢,,效率也更快,。

SPI檢測(cè)設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)

1、解決了微型封裝器件的結(jié)構(gòu)性檢查問題,,保證生產(chǎn)質(zhì)量,;

2、提高了后端測(cè)試的直通率,,降低維修成本,;

3、隨著技術(shù)的發(fā)展,,SPI測(cè)試程序快捷簡(jiǎn)便,,降低了生產(chǎn)所需的大量測(cè)試成本;

SPI檢測(cè)設(shè)備的缺點(diǎn)

1.灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方,,比較容易出現(xiàn)誤判,,

2.被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn),比較容易出現(xiàn)漏檢人工目檢+SPI自動(dòng)檢測(cè)結(jié)合是目前的主流方式,,如果放置了SPI自動(dòng)檢測(cè)儀,,人工目檢人員崗可以設(shè)置較少人員隨著電子精密化趨勢(shì)發(fā)展,越來越多的使用了屏蔽罩,,因此有實(shí)力的加工廠還會(huì)在多功能機(jī)前加一個(gè)爐前AOI,,用來專門檢測(cè)屏蔽罩下的元件貼裝品質(zhì)。

對(duì)于PCB行業(yè)而言,,從工藝,、成本和客戶需求幾個(gè)角度來看對(duì)于SPI設(shè)備的需求都呈現(xiàn)上升趨勢(shì):

1、從技術(shù)工藝的角度看,,PCB微型化導(dǎo)致人工目檢無(wú)法滿足要求,,利用機(jī)器檢測(cè)是大趨勢(shì);

2,、從生產(chǎn)成本的角度看,,產(chǎn)品ASP不斷下降而人工成本卻不斷上升,優(yōu)化生產(chǎn)流程對(duì)成本進(jìn)行精細(xì)化控制是廠商在激烈競(jìng)爭(zhēng)中生存的法門,,引進(jìn)自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備是必要的選擇,;

3、從客戶需求的角度看,,各種終端產(chǎn)品的復(fù)雜度不斷提升,,對(duì)穩(wěn)定性要求也越來越高,SPI可以有效檢測(cè)翹腳,、虛焊等缺陷,,增強(qiáng)產(chǎn)品可靠性,引入SPI設(shè)備是廠商爭(zhēng)取客戶訂單的重要砝碼,。 SPI導(dǎo)入帶來的收益有哪些呢,?

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DLP結(jié)構(gòu)光投影儀在3D SPI / AOI領(lǐng)域的應(yīng)用

1.SPI分類

從檢測(cè)原理上來分SPI主要分為兩個(gè)大類,,線激光掃描式與面結(jié)構(gòu)光柵PMP技術(shù)。

1.1 激光掃描式的SPI

通過三角量測(cè)的原理計(jì)算出錫膏的高度,。此技術(shù)因?yàn)樵肀容^簡(jiǎn)單,,技術(shù)比較成熟,但是因?yàn)槠浔旧淼募夹g(shù)局限性如激光的掃描寬度偏長(zhǎng),,單次取樣,,雜訊干擾等,所以比較多的運(yùn)用在對(duì)精度與重復(fù)性要求不高的錫厚測(cè)試儀,,桌上型SPI等,。在此不做過多敘述。

1.2結(jié)構(gòu)光柵型SPI

PMP又稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技術(shù)是一種基于正弦條紋投影和位相測(cè)量的光學(xué)三維面形測(cè)量技術(shù),。通過獲取全場(chǎng)條紋的空間信息與一個(gè)條紋周期內(nèi)相移條紋的時(shí)序信息,,來完成物體三維信息的重建。由于其具有全場(chǎng)性,、速度快,、高精度,、自動(dòng)化程度高等特點(diǎn),,這種技術(shù)已在工業(yè)檢測(cè)、機(jī)器視覺,、逆向工程等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用,。目前大部分的在線SPI設(shè)備都已經(jīng)升級(jí)到此種技術(shù)。

但是它采用的離散相移技術(shù)要求有精確的正弦結(jié)構(gòu)光柵與精確的相移,,在實(shí)際系統(tǒng)中不可避免地存在著光柵圖像的非正弦化,,相移誤差與隨機(jī)誤差,它將導(dǎo)致計(jì)算位相和重建面形的誤差,。雖然已經(jīng)出現(xiàn)了不少算法能降低線性相移誤差,,但要解決相移過程中的隨機(jī)相移誤差問題,,還存在一定的困難。 在線SPI設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用中出現(xiàn)的一些問題有哪些呢?汕頭半導(dǎo)體SPI檢測(cè)設(shè)備功能

3DSPI(SolderPasteInspection)是指錫膏檢測(cè)設(shè)備,,主要的功能就是以檢測(cè)錫膏印刷的品質(zhì)。陽(yáng)江半導(dǎo)體SPI檢測(cè)設(shè)備廠家價(jià)格

AOI雖然具有比人工檢測(cè)更高的效率,,但畢竟是通過圖像采集和分析處理來得出結(jié)果,,而圖像分析處理的相關(guān)軟件技術(shù)目前還沒達(dá)到人腦的級(jí)別,因此,,在實(shí)際使用中的一些特殊情況,,AOI的誤判、漏判在所難免,。

目前AOI使用中存在的問題有:

(1)多錫,、少錫,、偏移、歪斜的工藝要求標(biāo)準(zhǔn)界定不同,,容易導(dǎo)致誤判,。

(2)電容容值不同而規(guī)格大小和顏色相同,容易引起漏判,。

(3)字符處理方式不同,,引起的極性判斷準(zhǔn)確性差異較大。

(4)大部分AOI對(duì)虛焊的理解發(fā)生歧義,,造成漏判推諉,。

(5)存在屏蔽圈、屏蔽罩遮蔽點(diǎn)的檢測(cè)問題,。

(6)BGA,、FC等倒裝元件的焊接質(zhì)量難以檢測(cè)。

(7)多數(shù)AOI編程復(fù)雜,、繁瑣且調(diào)整時(shí)間長(zhǎng),,不適合科研單位、小型OEM廠,、多規(guī)格小批量產(chǎn)品的生產(chǎn)單位,。

(8)多數(shù)AOI產(chǎn)品檢測(cè)速度較慢,有少數(shù)采用掃描方法的AOI速度較快,,但誤判,、漏判率更高。 陽(yáng)江半導(dǎo)體SPI檢測(cè)設(shè)備廠家價(jià)格

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