探索LIMS在綜合第三方平臺(tái)建設(shè)
高校實(shí)驗(yàn)室引入LIMS系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)
高校實(shí)驗(yàn)室中LIMS系統(tǒng)的應(yīng)用現(xiàn)狀
LIMS應(yīng)用在生物醫(yī)療領(lǐng)域的重要性
LIMS系統(tǒng)在醫(yī)藥行業(yè)的應(yīng)用
LIMS:實(shí)驗(yàn)室信息管理系統(tǒng)的模塊組成
如何選擇一款適合的LIMS,?簡(jiǎn)單幾步助你輕松解決
LIMS:解決實(shí)驗(yàn)室管理的痛點(diǎn)
實(shí)驗(yàn)室是否需要采用LIMS軟件?
LIMS系統(tǒng)在化工化學(xué)行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)
SPI錫膏檢查機(jī)有何能力?可以檢查出那些錫膏印刷不良,?錫膏檢查機(jī)只能做表面的影像檢查,,如果有被物體覆蓋住的區(qū)域是無法檢查得到的,,不過錫膏檢查機(jī)的使用時(shí)機(jī)應(yīng)該是在零件還沒擺放上去以前,,所以不會(huì)有錫膏被覆蓋的情形發(fā)生錫膏檢查機(jī)可以量測(cè)下列的數(shù)據(jù):錫膏印刷量錫膏印刷的高度錫膏印刷的面積/體積錫膏印刷的平整度錫膏檢查機(jī)可以偵測(cè)出下列的不良:錫膏印刷是否偏移錫膏印刷是否高度偏差(拉尖)錫膏印刷是否架橋錫膏印刷是否缺陷破損在線3D-SPI錫膏測(cè)厚儀?佛山直銷SPI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)
解決相移誤差的新技術(shù)PMP技術(shù)中另一個(gè)主要的基礎(chǔ)條件就是對(duì)于相移誤差的控制,。相移法通過對(duì)投影光柵相位場(chǎng)進(jìn)行移相來增加若干常量相位而得到多幅光柵圖來求解相位場(chǎng),。由于多幅相移圖比單幅相移圖提供了更多的信息,所以可以得到更高精度的結(jié)果,。傳統(tǒng)的方式都依靠機(jī)械移動(dòng)來實(shí)現(xiàn)相移,。為達(dá)到精確的相移,都使用了比較高精度的馬達(dá),如通過陶瓷壓電馬達(dá)(PZT),,線性馬達(dá)加光柵尺等方式,。并通過大量的算法來減少相移的誤差??删幊探Y(jié)構(gòu)光柵因?yàn)槠湔夜鈻攀峭ㄟ^軟件編程實(shí)現(xiàn)的,,所以其在相移時(shí)也是通過軟件來實(shí)現(xiàn),通過此種技術(shù)可以使相移誤差趨向于“0”,,提高了量測(cè)精度,。并且此技術(shù)不需要機(jī)械部件,減少了設(shè)備的故障幾率,,降低機(jī)械成本與維修成本,。河源直銷SPI檢測(cè)設(shè)備功能PCBA工藝常見檢測(cè)設(shè)備ICT檢測(cè)。
在線3D-SPI錫膏測(cè)厚儀:3D-SPI管控錫膏印刷不良因,改善SMT錫膏印刷品質(zhì),,提高良率,!將印刷在PCB板上的錫膏厚度分布測(cè)量出來的設(shè)備。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于SMT制造領(lǐng)域,,是管控錫膏印刷質(zhì)量的重要量測(cè)設(shè)備,。在線3D-SPI錫膏測(cè)厚儀可以排除印刷電路板上許多普遍、但代價(jià)高昂的缺陷,,極大降低下游,尤其電路板維修的成本,;有助于提高產(chǎn)量和增加利潤(rùn),;為您帶來更少的電路板維修、更少的扔棄,、更少的維修時(shí)間和成本,、以及更低的擔(dān)保和維修成本,加上更高的產(chǎn)品質(zhì)量,、更滿意的顧客,、以及的顧客忠誠度和保持率。其實(shí)在SMT工作了很長(zhǎng)時(shí)間的人都知道對(duì)于生產(chǎn)產(chǎn)生缺陷的原因是多方面的,但是主要的問題不是貼裝的問題而是錫膏印刷的問題,很多時(shí)候?qū)е虏涣嫉陌l(fā)生其原因就是錫膏和爐溫.
應(yīng)用于3DSPI/AOI領(lǐng)域的DLP結(jié)構(gòu)光投影模塊編碼結(jié)構(gòu)光光源蓄勢(shì)待發(fā)在2D視覺時(shí)代,,光源主要起到以下作用:1,、照亮目標(biāo),提高亮度,;2,、形成有利于圖像處理的成像效果,降低系統(tǒng)的復(fù)雜性和對(duì)圖像處理算法的要求,;3,、克服環(huán)境光干擾,保證圖像穩(wěn)定性,,提高系統(tǒng)的精度,、效率,;通過恰當(dāng)?shù)墓庠凑彰髟O(shè)計(jì),可以使圖像中的目標(biāo)信息與背景信息得到比較好分離,,這樣不僅極大降低圖像處理的算法難度,,同時(shí)提高系統(tǒng)的精度和可靠性隨著3D視覺的興起,光源不僅用于照明,,更重要的是用來產(chǎn)生編碼結(jié)構(gòu)光,,例如格雷碼、相移條紋,、散斑等,。DLP技術(shù)即因其高速、高分辨率,、高精度,、成熟穩(wěn)定、靈活性高等特性,,在整個(gè)商用投影領(lǐng)域占據(jù)優(yōu)先地位,。隨著市場(chǎng)需求的擴(kuò)大,也被大量用于工業(yè)3D視覺領(lǐng)域,,他的作用主要是投影結(jié)構(gòu)光條紋,。主流3D-SPI產(chǎn)品的檢測(cè)原理有相位輪廓測(cè)量術(shù)(PhaseMeasuringProfilometry,PMP)和激光三角輪廓測(cè)量術(shù),。AOI在SMT貼片加工中的使用優(yōu)點(diǎn)有哪些呢,?
3分鐘了解智能制造中的AOI檢測(cè)技術(shù)AOI檢測(cè)技術(shù)具有自動(dòng)化、非接觸,、速度快,、精度高、穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn),,能夠滿足現(xiàn)代工業(yè)高速,、高分辨率的檢測(cè)要求,在手機(jī),、平板顯示,、太陽能、鋰電池等諸多行業(yè)應(yīng)用較廣,。智能制造中的AOI檢測(cè)技術(shù)AOI集成了圖像傳感技術(shù),、數(shù)據(jù)處理技術(shù)、運(yùn)動(dòng)控制技術(shù),,在產(chǎn)品生產(chǎn)過程中,,可以執(zhí)行測(cè)量、檢測(cè)、識(shí)別和引導(dǎo)等一系列任務(wù),。簡(jiǎn)單地說,,AOI模擬和拓展了人類眼、腦,、手的功能,,利用光學(xué)成像方法模擬人眼的的視覺成像功能,用計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)代替人腦執(zhí)行數(shù)據(jù)處理,,隨后把結(jié)果反饋給執(zhí)行或輸出模塊,。以AOI檢測(cè)應(yīng)用較廣的PCB行業(yè)為例,中低端AOI檢測(cè)設(shè)備的誤判過篩率約為70%,,即捕捉到的不良品中其實(shí)有70%的成品是合格的,。擁有了訓(xùn)練成熟的AI技術(shù)加持后,AIAOI檢測(cè)系統(tǒng)不斷學(xué)習(xí),,能夠自行定義瑕疵范圍,,進(jìn)一步有效判別未知的瑕疵圖像。AI視覺辨識(shí)技術(shù)能輔助AOI檢測(cè)能夠大幅提升檢測(cè)設(shè)備的辨識(shí)正確率,,有效降低誤判過篩率,,加速生產(chǎn)線速度。這就是智能制造,。應(yīng)用于結(jié)構(gòu)光3DSPI,、3DAOI檢測(cè)的結(jié)構(gòu)光投影模塊主要采用DLP或LCoS。潮州國內(nèi)SPI檢測(cè)設(shè)備維保
SPI檢測(cè)設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子測(cè)試與測(cè)量,。佛山直銷SPI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)
PCBA工藝常見檢測(cè)設(shè)備ATE檢測(cè):AutomaticTestEquipment集成電路(IC)自動(dòng)測(cè)試機(jī),,用于檢測(cè)集成電路功能之完整性,為集成電路生產(chǎn)制造之終流程,,以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。在所有的電子元器件(Device)的制造工藝?yán)锩?,存在著去偽存真的需要,,這種需要實(shí)際上是一個(gè)試驗(yàn)的過程。為了實(shí)現(xiàn)這種過程,,就需要各種試驗(yàn)設(shè)備,,這類設(shè)備就是所謂的ATE(AutomaticTestEquipment)。這里所說的電子元器件DUT(DeviceUnderTest),,當(dāng)然包括IC類別,,此外,還包括分立的元件,,器件,。ATE存在于前道工序(FrontEnd)和后道工序(BackEnd)的各個(gè)環(huán)節(jié),具體的取決于工藝(Process)設(shè)計(jì)的要求。在元器件的工藝流程中,,根據(jù)工藝的需要,,存在著各種需要測(cè)試的環(huán)節(jié)。目的是為了篩選殘次品,,防止進(jìn)入下一道的工序,,減少下一道工序中的冗余的制造費(fèi)用。這些環(huán)節(jié)需要通過各種物理參數(shù)來把握,,這些參數(shù)可以是現(xiàn)實(shí)物理世界中的光,,電,波,,力學(xué)等各種參量,,但是,目前大多數(shù)常見的是電子信號(hào)的居多,。ATE設(shè)計(jì)工程師們要考慮的較多的,,還是電子部分的參數(shù)比如,時(shí)間,,相位,,電壓電流,等等基本的物理參數(shù),。就是電子學(xué)所說的,,信號(hào)處理。佛山直銷SPI檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)