布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時。除此之外,，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準(zhǔn)確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。D8 DISCOVER系列是市面上準(zhǔn)確,、功能強大和靈活的X射線衍射解決方案,。深圳點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀單價

多層膜XRR引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）單層薄膜或多層膜中各層薄膜的密度、膜厚,、粗糙度等結(jié)構(gòu)參數(shù)的有效無損檢測手段,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是**用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。湖南原位分析XRD衍射儀選哪家好在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品的薄膜厚度,、界面粗糙度和密度進行XRR分析。

D2PHASER—數(shù)據(jù)質(zhì)量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景，該儀器是從相識別,、定量相分析到晶體結(jié)構(gòu)分析的所有粉末衍射應(yīng)用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內(nèi)，保證實現(xiàn)儀器對準(zhǔn)（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）,。加上遵循著嚴(yán)格的儀器驗證協(xié)議,，它可為所有應(yīng)用提供準(zhǔn)確數(shù)據(jù)。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途、多用戶實驗室的X射線平臺,。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,，包括粉末、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線,，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕，整個軟件盡在掌握,。MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,，與布魯克大量組件、光學(xué)器件和探測器完全兼容。

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品,，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制，Psi傾斜度在-5°到95°之間,，可用于應(yīng)力,、織構(gòu)和外延薄膜分析。另外,，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺，將樣品固定在適當(dāng)位置,。二者均可用于溫控樣品臺,，進行非環(huán)境分析。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺。使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,，進行1D掃描，來進行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。湖北購買XRD衍射儀選哪家好

所有樣品臺都是DIFFRAC.DAVINCI概念的組成部分,，因此元件及其電動驅(qū)動裝置可在安裝時自動完成識別和配置。深圳點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀單價

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距,，nm；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm,。為實際石墨試樣（002）晶面間距，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準(zhǔn)確的確定值或(002)峰的峰位,，需要在樣品中加入內(nèi)標(biāo)以校準(zhǔn)。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標(biāo)物,，加入待測石墨樣品中，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導(dǎo)電導(dǎo)熱性能好以及化學(xué)穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一。深圳點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀單價

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