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江西布魯克XRD衍射儀價(jià)格

來源: 發(fā)布時(shí)間:2022-09-11

X射線粉末衍射(XRPD)技術(shù)是重要的材料表征工具之一,。粉末衍射圖中的許多信息,,直接源于物相的原子排列,。在D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件的支持下,,您將能簡單地實(shí)施常見的XRPD方法:鑒別晶相和非晶相,,并測定樣品純度對多相混合物的晶相和非晶相進(jìn)行定量分析微觀結(jié)構(gòu)分析(微晶尺寸,、微應(yīng)變,、無序…)熱處理或加工制造組件產(chǎn)生的大量殘余應(yīng)力織構(gòu)(擇優(yōu)取向)分析指標(biāo)化,、從頭晶體結(jié)構(gòu)測定和晶體結(jié)構(gòu)精修,,由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具,、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射(WAXS),。江西布魯克XRD衍射儀價(jià)格

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納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射(GID)是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,,進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度,,可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,都可簡單快捷,、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具,、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證,。目前,,在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。湖北點(diǎn)陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀售價(jià)更換光學(xué)期間時(shí),無需工具,,亦無需對光,,因此您可輕松快速地更改配置。

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對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)(PDF)分析是一種分析技術(shù),,它基于Bragg衍射以及漫散射(“總散射”),,提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息。其中,,您可以通過Bragg衍射峰,,了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息(即長程有序),通過漫散射,,表征其局部結(jié)構(gòu)(即短程有序),。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,,D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案:相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀。

由于具有出色的適應(yīng)能力,,使用D8ADVANCE,,您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶,,都可簡單快捷、不出錯(cuò)地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),,免工具、免準(zhǔn)直,,同時(shí)還受到自動化的實(shí)時(shí)組件識別與驗(yàn)證的支持,。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉(SRM1976)的準(zhǔn)直保證。目前,,在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面,市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。在DIFFRAC.LEPTOS中,,對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析,。

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RuO2薄膜掠入射XRD-GID引言薄膜材料就是厚度介于一個(gè)納米到幾個(gè)微米之間的單層或者多層材料,。由于厚度比較薄,薄膜材通常依附于一定的襯底材料之上,。常規(guī)的XRD測試,,X射線的穿透深度一般在幾個(gè)微米到幾十個(gè)微米,這遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于薄膜的厚度,,導(dǎo)致薄膜的信號會受到襯底的影響(圖1),。另外,如果衍射簡單較高,,那么X射線只能輻射到部分樣品,,無法利用整個(gè)樣品的體積,衍射信號弱,。薄膜掠入射衍射(GID:GrazingIncidenceX-RayDiffraction)很好的解絕了以上問題,。所謂掠入射是指使X射線以非常小小的入射角(<5°)照射到薄膜上,小的入射角大大減小了在薄膜中的穿透深度,,同時(shí)增加衍射顆粒的數(shù)目和x射線在薄膜中的光程,。這里有兩點(diǎn)說明:GID需要硬件配置,;常規(guī)GID只適合多晶薄膜和非晶薄膜,不適合單晶外延膜,。使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性,。通過積分2D圖像,進(jìn)行1D掃描,,來進(jìn)行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析,。珠海點(diǎn)陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀單價(jià)

候選材料鑒別(PMI) 為常見,這是因?yàn)閷ζ湓咏Y(jié)構(gòu)十分靈敏,,而這無法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn),。江西布魯克XRD衍射儀價(jià)格

介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu),具有更大的孔徑,、更厚的孔壁和更高的孔容,,而且具有更好的水熱穩(wěn)定性,有利于它在溫度較高,、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,,因此在催化,、分離,、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián),,而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一,。由于SBA-15的晶胞較大,其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度,,這導(dǎo)致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號,。目前,隨著衍射儀的發(fā)展,,動態(tài)光路對的設(shè)計(jì)很好的解決了這類問題,。實(shí)例SBA-15小角度XRD圖譜,五個(gè)衍射峰分別對應(yīng)(100),、(110),、(200)、(300),、(220),。根據(jù)圖2示意圖,計(jì)算得到平均孔距江西布魯克XRD衍射儀價(jià)格

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標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT