藥物制劑生產過程中除需添加各種輔料外,，往往還需要經過溶解,、研磨,、干燥(溫度),、壓片等工藝過程，在此過程中API的晶型有可能發(fā)生改變,，進而可能影響到藥物的療效,。國內外FDA規(guī)定多晶型藥物在研制、生產,、貯存過程中必須保證其晶型的一致性,，固體制劑中使用的晶型物質應該與API晶型一致。因此藥物制劑中的晶型分析是非常重要的,。由于輔料的存在對藥物制劑中API的晶型分析增加了干擾,，特別是API含量非常少的制劑樣品，檢測更加困難,。XRPD是API晶型分析的有效手段之一,，配合高性能的先進檢測器，為制劑中微量API的晶型檢測提供了有利工具,。從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,，用于評估晶體質量、薄膜厚度,、成分外延排列和應變松弛技術,。上海結構解析檢測分析

基于的D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是**用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不止如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。上海X射線衍射儀檢測分析這種X射線源可提供高亮度光束，對mm大小的樣品研究,，或使用μm大小光束進行微區(qū)X射線衍射研究的理想選擇,。

D2PHASER—數(shù)據(jù)質量D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認知。得益于出色的分辨率,、低角度和低背景,，該儀器是從相識別、定量相分析到晶體結構分析的所有粉末衍射應用的理想解決方案,。不僅如此——只有布魯克AXS才能在整個角度范圍內,，保證實現(xiàn)儀器對準（精度等于或優(yōu)于±0.02°2θ）。加上遵循著嚴格的儀器驗證協(xié)議,，它可為所有應用提供準確數(shù)據(jù),。由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。

當石墨(002)衍射峰峰形對稱性很差時,，如圖2,，樣品中可能含有多種不同石墨化度的組分存在(當然，也可能是由于非晶碳或無定形碳的存在,。需要對衍射峰進行分峰處理,，得到各個子峰的峰位和積分強度值，如圖2所示,。分別計算各子峰的石墨化度,，再利用各子峰的積分強度為權重，歸一化樣品的石墨化度,。圖2石墨實驗（藍色數(shù)據(jù)點）及分峰擬合圖譜（紅色：擬合圖譜,，兩綠色為單峰擬合結果）石墨及其復合材料具有高溫下不熔融、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應用于冶金,、化工、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展,，進一步加大了石墨材料的需求。工業(yè)上常將碳原料經過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質量對電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結構上表征石墨質量的方法之一,。PATHFINDERPlus光學器件有一個確保測得強度的線性的自動吸收器,，并可在以下之間切換：電動狹縫，分光晶體,。

獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應用和樣品類型。為便于用戶使用,，該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,，可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換。系統(tǒng)無需人工干預,，即可在三個光路之間切換：用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進行分析，其中包括粉末,、塊狀材料,、纖維、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）,。更換光學期間時，無需工具,，亦無需對光,，因此您可輕松快速地更改配置。南京組分檢測分析

D8測角儀巨有市場超前地精確度,，為布魯克獨有的準直保證奠定了基礎,。上海結構解析檢測分析

材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm,、Y軸70mm和Z軸52mm，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間，可用于應力,、織構和外延薄膜分析,。另外，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺,，將樣品固定在適當位置,。二者均可用于溫控樣品臺，進行非環(huán)境分析,。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng)，輕松更換樣品臺,。上海結構解析檢測分析

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