材料研究樣品臺緊湊型UMC和緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺能夠精確地移動樣品，因此擴展了D8ADVANCEPlus的樣品處理能力,。緊湊型UMC樣品臺可對2Kg的樣品進行電動移動：X軸25mm、Y軸70mm和Z軸52mm,，可用于分析大型塊狀樣品或多個小樣品,；緊湊型尤拉環(huán)plus樣品臺的Phi旋轉(zhuǎn)角度不受限制,，Psi傾斜度在-5°到95°之間,，可用于應力,、織構和外延薄膜分析。另外,，它還具有真空多用途通孔,，可通過小型薄膜樣品架或大型手動X-Y樣品臺，將樣品固定在適當位置,。二者均可用于溫控樣品臺,，進行非環(huán)境分析,。另外,，它們還可借助DIFFRAC.DAVINCI樣品臺卡口安裝系統(tǒng),，輕松更換樣品臺,。使用D8D，您將能在原位循環(huán)條件下測試電池材料,，直截了當?shù)孬@取不斷變化的儲能材料和晶體結構和相位信息。合肥織構檢測分析

那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度,。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距，nm,。為實際石墨試樣（002）晶面間距,，nm,。實例不同石墨的石墨化度為了準確的確定值或(002)峰的峰位,，需要在樣品中加入內(nèi)標以校準,。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范,，用硅作為內(nèi)標物,，加入待測石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻,。石墨及其復合材料具有高溫下不熔融、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點，應用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎、焙燒,、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響，石墨化度是一種從結構上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。云南購買XRD衍射儀憑借RapidRSM技術，能在 短的時間內(nèi),，測量大面積倒易空間,。在DIFFRAC.LEPTOS中,，進行倒易點陣轉(zhuǎn)換和分析,。

布魯克獨有的DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹立了全新的重要基準,。馬達驅(qū)動發(fā)散狹縫,、防散射屏和可變探測器窗口的自動同步功能,，可為您提供的數(shù)據(jù)質(zhì)量——尤其是在低2?角度時。除此之外,，LYNXEYE全系列探測器均支持DBO：SSD160-2,，LYNXEYE-2和LYNXEYEXE-T。LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上的一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應用的理想選擇。

D8ADVANCEPlus是D8ADVANCE的又一版本,，是面向多用途,、多用戶實驗室的X射線平臺。它可理想地滿足您對所有樣品類型的需求,，包括粉末,、塊狀材料、纖維,、片材和薄膜（非晶,、多晶和外延）：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）X射線反射率（XRR)和高分辨XRD（搖擺曲線，倒易空間掃描）環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下該系統(tǒng)的一大優(yōu)勢在于它能夠在多達6種不同的光束幾何之間進行切換：從用于粉末的Bragg-Brentano聚焦幾何到用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何以及兩者之間的切換,。您只需按下按鈕,，整個軟件盡在掌握。對較大300 mm的樣品進行掃描,、安裝和掃描重量不超過5kg的樣品,、自動化接口。

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,，通常需要進行殘余應力和織構測量,。通過消除樣品表面的拉應力或引起壓應力，可延長其功能壽命,。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成,。構成塊狀樣品的微晶的取向,，決定了裂紋的生長方式。而通過在材料中形成特定的織構,，可顯著增強其特性,。這兩種技術在優(yōu)化制造法（例如增材制造）領域也占有一席之地。由于具有出色的適應能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。涉及高通量篩選（HTS）和大區(qū)域掃描分析時，D8 DISCOVER是較好解決方案,。廣州原位分析XRD衍射儀哪里好

從微米到納米厚度的涂層或外延膜的樣品都受益,，用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度,、成分外延排列和應變松弛技術,。合肥織構檢測分析

殘余應力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中，使用sin2psi法,，用Cr輻射進行測量,，對鋼構件的殘余應力進行分析。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結構特性,。通過積分2D圖像,，進行1D掃描，來進行定性相分析和微觀結構分析,。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見,，這是因為其對原子結構十分靈敏，而這無法通過元素分析技術實現(xiàn),。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進行半定量分析，以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度,。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結果。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中,，對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析,。合肥織構檢測分析