納米多層薄膜物相隨深度變化引言掠入射X射線衍射（GID）是表征薄膜材料的有效手段。通過控制不同的入射角度,，進(jìn)而控制X射線在薄膜中的穿透深度，可以確定薄膜材料的結(jié)構(gòu)隨深度變化的信息,。實(shí)例45nmNiO/355nmSnO2/玻璃薄膜的GID測試由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗證的支持。不只如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同不，然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果,。合肥二維衍射儀檢測分析

D8DISCOVER特點(diǎn)：微焦源IμS配備了MONTEL光學(xué)器件的IμS微焦源可提供小X射線束,，非常適合小范圍或小樣品的研究。1.毫米大小的光束：高亮度和很低背景2.綠色環(huán)保設(shè)計：低功耗,、無耗水,、使用壽命延長3.MONTEL光學(xué)器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度4.與布魯克大量組件、光學(xué)器件和探測器完全兼容,。5.提供各種技術(shù)前列的全集成X射線源,，用于產(chǎn)生X射線。6.工業(yè)級金屬陶瓷密封管,，可實(shí)現(xiàn)線焦斑或點(diǎn)焦斑,。7.專業(yè)的TWIST-TUBE（旋轉(zhuǎn)光管）技術(shù),，可快速簡便地切換線焦斑和點(diǎn)焦斑。8.微焦斑X射線源（IμS）可提高極小焦斑面積上的X射線通量,，而功耗卻很低,。9.TURBOX射線源（TXS）旋轉(zhuǎn)陽極可為線焦斑、點(diǎn)焦斑和微焦斑等應(yīng)用提供比較高X射線通量,。10.性液態(tài)金屬靶METALJET技術(shù),，可提供無出其右的X射線光源亮度。11.高效TurboX射線源（TXS-HE）可為點(diǎn)焦斑和線焦斑應(yīng)用提供比較高X射線通量,，適用于D8DISCOVERPlus,。12.這些X射線源結(jié)合指定使用X射線光學(xué)元件，可高效捕獲X射線,，并將之轉(zhuǎn)化為針對您的應(yīng)用而優(yōu)化的X射線束,。云南實(shí)驗室檢測XRD衍射儀D8D對地質(zhì)構(gòu)造研究，借助μXRD,，哪怕是很小的包裹體定性相分析和結(jié)構(gòu)測定都不在話下,。

對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg以及漫散射（“總散射”）,，提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序）,，通過漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件市面上性能好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗證的支持,。

超薄HfO2薄膜XRR測試引言隨著晶體管節(jié)點(diǎn)技術(shù)的發(fā)展,，薄膜厚度越來越薄。比如高-柵介電薄膜HfO2的厚度往往小于2nm,。在該技術(shù)節(jié)點(diǎn)的a20范圍內(nèi),。超薄膜的均勻性是制備Hf基柵氧化物的主要工藝難題之一。為了控制超薄HfO2薄膜的厚度和密度,，XRR是的測量技術(shù),。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗證的支持,。不止如此——布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證。目前,，在峰位,、強(qiáng)度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。涉及高通量篩選（HTS）和大區(qū)域掃描分析時,，D8 DISCOVER是較好解決方案。

藥物：從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),，D8D為藥品的整個生命周期提供支持,，其中包括結(jié)構(gòu)測定、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試,。地質(zhì)學(xué)：D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選。借助μXRD,，哪怕是對小的包裹體進(jìn)行定性相分析和結(jié)構(gòu)測定也不在話下,。金屬：在常見的金屬樣品檢測技術(shù)中。殘余奧氏體,、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測不過是其中的一小部分,，檢測目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求。薄膜計量：從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質(zhì)量,、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù),。根據(jù)應(yīng)用需求，調(diào)節(jié)探測器的位置和方向,，包括0°/ 90°免工具切換以及探測器位置可連續(xù)變化,、支持自動對光。湖南XRD衍射儀推薦咨詢

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由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進(jìn)行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進(jìn)行更改,。這都是通過布魯克獨(dú)特的DAVINCI設(shè)計實(shí)現(xiàn)的：配置儀器時，免工具,、免準(zhǔn)直,，同時還受到自動化的實(shí)時組件識別與驗證的支持。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976）的準(zhǔn)直保證,。目前,，在峰位、強(qiáng)度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。合肥二維衍射儀檢測分析