XRD檢測納米二氧化鈦晶粒尺寸引言納米材料的性能往往和其晶粒大小有關，而X射線衍射是測定納米材料晶尺寸的有效方法之一,。晶粒尺寸Dhkl(可理解為一個完整小單晶的大小)可通過謝樂公示計算Dhkl：晶粒尺寸,，垂直于晶面hkl方向β:hkl晶面的半高寬（或展寬）θ：hkl晶面的bragg角度λ：入射X光的波長，一般Cu靶為1.54埃K：常數(shù)（晶粒近似為球形,，K=0.89,；其他K=1）ADVANCE采用了開放式設計并具有不受約束的模塊化特性的同時，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設計D8D對地質構造研究，借助μXRD,，哪怕是很小的包裹體定性相分析和結構測定都不在話下,。浙江檢測實驗室XRD衍射儀

藥物：從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產，D8D為藥品的整個生命周期提供支持,，其中包括結構測定,、候選材料鑒別、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試,。地質學：D8D是地質構造研究的理想之選。借助μXRD,，哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結構測定也不在話下,。金屬：在常見的金屬樣品檢測技術中。殘余奧氏體,、殘余應力和織構檢測不過是其中的一小部分,，檢測目的在于確保終產品復合終用戶的需求。薄膜計量：從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質量,、薄膜厚度,、成分外延排列和應變松弛的一系列技術。廣東進口XRD衍射儀配件總散射分析：Bragg衍射,、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）。

由于具有出色的適應能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具,、免準直，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持,。布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前，在峰位,、強度和分辨率方面,，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE。

BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差,，是分析誤差的重要來源,。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像，將樣品制備問題可視化,，如粒徑或擇優(yōu)取向,。避免就統(tǒng)計而言沒有代表性的測量結果。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術,，無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復使用的樣品支持器低功耗（650W）布魯克與水泥業(yè)密切合作,，不斷改進其分析解決方案。在D2PHASER方面,，我們針對水泥業(yè)提供了一個軟件包,，其中包括針對10多種原材料、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應用的測量和數(shù)據(jù)評估方法,，可有效控制窯爐以及工廠的礦物學。與水泥軟件包相結合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運營,。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠,，請參見D8ENDEAVOR。MONTEL光學器件可優(yōu)化光束形狀和發(fā)散度,，與布魯克大量組件,、光學器件和探測器完全兼容。

X射線反射率測定引言X射線反射率（XRR：X-RayReflectivity）是一種表面表征技術,，是利用X射線在不同物質表面或界面的反射線之間的干涉現(xiàn)象分析薄膜或多層膜結構的工具,。通過分析XRR圖譜(圖1)可以確定各層薄膜的密度,、膜厚、粗糙度等結構參數(shù),。XRR的特點：1無損檢測2對樣品的結晶狀態(tài)沒有要求,，不論是單晶膜、多晶膜還是非晶膜均可以進行測試3XRR適用于納米薄膜,，要求厚度小于500nm4晶面膜,，表面粗糙度一般不超過5nm5多層膜之間要求有密度差孔板和沉積樣品在反射和透射中的高通量篩選。珠海全新XRD衍射儀推薦咨詢

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XRD檢測聚合物結晶度測定引言聚合物的結晶度是與其物理性質有很大關系的結構參數(shù),。有時，可以通過評估結晶度來確定剛度不足,，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因。通常,，測量結晶度的方法包括密度,，熱分析，NMR,、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術加全譜擬合法測定結晶度的方法的說明以及實例。結晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰,。那么結晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：浙江檢測實驗室XRD衍射儀