那么,碳晶體的晶胞參數(shù)可直接用來表征其石墨化度。XRD法利用石墨的晶格常數(shù)計算石墨化度G[1]：式中：0.3440為完全非石墨化炭的(002)晶面間距，nm,；0.3354為理想石墨晶體的(002)晶面間距,，nm。為實際石墨試樣（002）晶面間距,，nm。實例不同石墨的石墨化度為了準確的確定值或(002)峰的峰位，需要在樣品中加入內(nèi)標以校準,。本文根據(jù)QJ2507-93[2]規(guī)范，用硅作為內(nèi)標物,，加入待測石墨樣品中,，在瑪瑙研缽中混合研磨均勻。石墨及其復(fù)合材料具有高溫下不熔融,、導電導熱性能好以及化學穩(wěn)定性優(yōu)異等特點,，應(yīng)用于冶金、化工,、航空航天等行業(yè),。特別是近年來鋰電池的快速發(fā)展，進一步加大了石墨材料的需求,。工業(yè)上常將碳原料經(jīng)過煅燒破碎,、焙燒、高溫石墨化處理來獲取高性能人造石墨材料,。石墨的質(zhì)量對電池的性能有很大影響,，石墨化度是一種從結(jié)構(gòu)上表征石墨質(zhì)量的方法之一,。憑借RapidRSM技術(shù)，能在 短的時間內(nèi),，測量大面積倒易空間,。在DIFFRAC.LEPTOS中，進行倒易點陣轉(zhuǎn)換和分析,。弛豫

所有維度都非常好的數(shù)據(jù)質(zhì)量不論在何種應(yīng)用場合,，它都是您的可選的探測器：高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,，峰位精度布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準直保證,，面向未來的多用途采用了開放式設(shè)計并具有不受約束的模塊化特性的同時，將用戶友好性,、操作便利性以及安全操作性發(fā)揮得淋漓盡致,，這就是布魯克DAVINCI設(shè)計，布魯克獲得的TWIN-TWIN光路設(shè)計極大地簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型,。為便于用戶使用，該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進行自動切換,。該系統(tǒng)無需人工干預(yù),，即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進行切換,，且無需人工干預(yù),，是在環(huán)境下和非環(huán)境下對包括粉末、塊狀物體,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進行分析的理想選擇,。江西物相定量分析XRD衍射儀檢測D8 DISCOVER 特點：UMC樣品臺可對重達5 kg的樣品進行掃描,、大區(qū)域映射300mm的樣品、高通量篩選支持三個孔板,。

獲得的TRIO光路簡化了D8ADVANCE的操作,，使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,，該系統(tǒng)提供了自動化電動切換功能,，可在多達6種不同的光束幾何之間進行自動切換。系統(tǒng)無需人工干預(yù),，即可在三個光路之間切換：用于粉末分析的Bragg-Brentano聚焦幾何用于毛細管,、GID和XRR的平行光束Kα1,2幾何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1幾何它非常適合在環(huán)境條件或非環(huán)境條件下對所有樣品類型進行分析，其中包括粉末,、塊狀材料,、纖維,、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）,。

藥物：從藥物發(fā)現(xiàn)到藥物生產(chǎn),，D8D為藥品的整個生命周期提供支持，其中包括結(jié)構(gòu)測定,、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試。地質(zhì)學：D8D是地質(zhì)構(gòu)造研究的理想之選,。借助μXRD，哪怕是對小的包裹體進行定性相分析和結(jié)構(gòu)測定也不在話下,。金屬：在常見的金屬樣品檢測技術(shù)中,。殘余奧氏體、殘余應(yīng)力和織構(gòu)檢測不過是其中的一小部分,，檢測目的在于確保終產(chǎn)品復(fù)合終用戶的需求,。薄膜計量：從微米厚度的涂層到納米厚度的外延膜的樣品都受益于用于評估晶體質(zhì)量、薄膜厚度,、成分外延排列和應(yīng)變松弛的一系列技術(shù),。候選材料鑒別（PMI） 為常見，這是因為對其原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn),。

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品，通常需要進行殘余應(yīng)力和織構(gòu)測量,。通過消除樣品表面的拉應(yīng)力或引起壓應(yīng)力,，可延長其功能壽命。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成,。構(gòu)成塊狀樣品的微晶的取向,，決定了裂紋的生長方式。而通過在材料中形成特定的織構(gòu),，可顯著增強其特性,。這兩種技術(shù)在優(yōu)化制造法（例如增材制造）領(lǐng)域也占有一席之地。由于具有出色的適應(yīng)能力,，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。定性相分析和結(jié)構(gòu)測定 微米應(yīng)變和微晶尺寸分析 應(yīng)力和織構(gòu)分析 粒度和粒度分布測定 微米大小X射線束局部分析,。廣東全新XRD衍射儀哪里好

LYNXEYE XE-T主要用于0D、1D和2D數(shù)據(jù)采集,，具有始終有效的出色能量鑒別能力,，同時不會損失二級單色器信號,。弛豫

介孔分子篩SBA-15結(jié)構(gòu)分析引言介孔分子篩SBA-15具有大晶胞的二維六方孔狀結(jié)構(gòu)，具有更大的孔徑,、更厚的孔壁和更高的孔容,，而且具有更好的水熱穩(wěn)定性，有利于它在溫度較高,、體系中有水的反應(yīng)中應(yīng)用,，因此在催化、分離,、生物及納米材料等領(lǐng)域有應(yīng)用前景,。SBA-15結(jié)構(gòu)特穩(wěn)定性和其孔徑大小與性能有較大關(guān)聯(lián)，而XRD是表征其結(jié)構(gòu)的有效方法之一,。由于SBA-15的晶胞較大,，其衍射峰往往出現(xiàn)在非常低的角度，這導致很難從直射光和空氣散射中區(qū)分其衍射信號,。目前,，隨著衍射儀的發(fā)展，動態(tài)光路對的設(shè)計很好的解決了這類問題,。實例SBA-15小角度XRD圖譜,，五個衍射峰分別對應(yīng)(100)、(110),、(200),、(300)、(220),。根據(jù)圖2示意圖,，計算得到平均孔距弛豫