對分布函數(shù)分析對分布函數(shù)（PDF）分析是一種分析技術(shù)，它基于Bragg衍射以及漫散射（“總散射”），提供無序材料的結(jié)構(gòu)信息,。其中,，您可以通過Bragg衍射峰,，了解材料的平均晶體結(jié)構(gòu)的信息（即長程有序）,，通過漫散射，表征其局部結(jié)構(gòu)（即短程有序）,。就分析速度,、數(shù)據(jù)質(zhì)量以及對非晶、弱晶型,、納米晶或納米結(jié)構(gòu)材料的分析結(jié)果而言,，D8ADVANCE和TOPAS軟件是目前市面上性能較好的PDF分析解決方案：相鑒定結(jié)構(gòu)測定和精修納米粒度和形狀,。支持全新技術(shù)進行定制,，包括高性能X射線源、定制版光學(xué)器件、定制版樣品臺和多模式探測器,。合肥薄膜略入射測試檢測分析

D8ADVANCEECO是市面上環(huán)保的X射線衍射儀，其應(yīng)用范圍,、數(shù)據(jù)質(zhì)量,、靈活性和可升級性毫不打折扣,。D8ADVANCEECO是功能齊全的D8ADVANCE版本,，適用于所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用,。與D8ADVANCE完全兼容,，它具有面向未來的所有靈活性。面對新應(yīng)用,，您隨時都能對它輕松完成升級，從而適應(yīng)未來實驗室可能出現(xiàn)的任何X射線衍射和散射應(yīng)用需求：相鑒定定量相分析微觀結(jié)構(gòu)分析結(jié)構(gòu)測定和精修殘余應(yīng)力織構(gòu)掠入射衍射（GID）X射線反射分析（XRR）小角X射線散射（SAXS）對分布函數(shù)（PDF）分析廣東全新XRD衍射儀檢測在DIFFRAC.LEPTOS中,，對多層樣品進行XRR分析,，測定其薄膜厚度,、晶格失配和混合晶體濃度,。

LYNXEYEXE-T具有優(yōu)于380eV的能量分辨率,，著實出色，是市面上性能的熒光過濾器探測器系統(tǒng),。借助它,，您可在零強度損失下對由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進行100％過濾，而且無需金屬濾波片,，因此數(shù)據(jù)也不會存在偽影，如殘余K?和吸收邊,。同樣,，也無需用到會消除強度的二級單色器。布魯克提供獨有的LYNXEYEXE-T探測器保證：交貨時保證無壞道,！LYNXEYEXE-T是LYNXEYE系列探測器的旗艦產(chǎn)品,。它是目前市面上一款可采集0D,、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測器，適用于所有波長（從Cr到Ag）,，具有準確的計數(shù)率和角分辨率,，是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇,。

D8DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀，帶有諸多前沿技術(shù)組件,。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下,，對從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜等各種材料進行結(jié)構(gòu)表征而設(shè)計,。應(yīng)用范圍：1.定性相分析和定量相分析,、結(jié)構(gòu)測定和精修、微應(yīng)變和微晶尺寸分析2.X射線反射法,、掠入射衍射（GID）,、面內(nèi)衍射,、高分辨率XRD、GISAXS,、GI應(yīng)力分析,、晶體取向分析3.殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)和極圖,、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）4.總散射分析：Bragg衍射、對分布函數(shù)（PDF）,、小角X射線散射（SAXS）全能運動概念確保當樣品在移動時,，感興趣區(qū)域始終在測角儀中心，從φ旋轉(zhuǎn)到XYZ平移和ψ傾斜,，有5個自由度,。

薄膜和涂層薄膜和涂層分析采用的原理與XRPD相同，不過進一步提供了光束調(diào)節(jié)和角度控制功能,。典型示例包括但不限于相鑒別,、晶體質(zhì)量、殘余應(yīng)力,、織構(gòu)分析,、厚度測定以及組分與應(yīng)變分析,。在對薄膜和涂層進行分析時,，著重對厚度在nm和μm之間的層狀材料進行特性分析,，從非晶和多晶涂層到外延生長薄膜等。D8ADVANCE和DIFFRAC.SUITE軟件可進行以下高質(zhì)量的薄膜分析：掠入射衍射X射線反射高分辨率X射線衍射倒易空間掃描,，由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE,，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物,。無論是新手用戶還是專業(yè)用戶,，都可簡單快捷,、不出錯地對配置進行更改,。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設(shè)計實現(xiàn)的：配置儀器時,，免工具、免準直,，同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。不僅如此——布魯克提供基于NIST標樣剛玉（SRM1976）的準直保證,。目前,，在峰位,、強度和分辨率方面，市面上尚無其他粉末衍射儀的精度超過D8ADVANCE,。配備了UMC樣品臺的DISCOVER，優(yōu)勢在于對大型機械零件殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析以及殘余奧氏體或高溫合金表征,。江蘇點陣參數(shù)精確測量XRD衍射儀配件

在DIFFRAC.EVA中,，對塑料薄膜進行WAXS測量分析,。然后塑料纖維的擇優(yōu)取向便顯而易見了。合肥薄膜略入射測試檢測分析

XRD檢測聚合物結(jié)晶度測定引言聚合物的結(jié)晶度是與其物理性質(zhì)有很大關(guān)系的結(jié)構(gòu)參數(shù),。有時,，可以通過評估結(jié)晶度來確定剛度不足，裂紋,，發(fā)白和其他缺陷的原因,。通常,，測量結(jié)晶度的方法包括密度,，熱分析,，NMR、IR以及XRD方法,。這里將給出通過X射線衍射技術(shù)加全譜擬合法測定結(jié)晶度的方法的說明以及實例,。結(jié)晶度對于含有非晶態(tài)的聚合物,，其散射信號來源于兩部分：晶態(tài)的衍射峰和非晶態(tài)漫散峰。那么結(jié)晶度DOC則定義為晶態(tài)衍射峰面積與總散射信號面積的比值：合肥薄膜略入射測試檢測分析