BRAGG2D——監(jiān)控樣品制備的質(zhì)量樣品制備過程中的系統(tǒng)誤差，是分析誤差的重要來源。使用BraggBrentano幾何的2D衍射圖像,，將樣品制備問題可視化,，如粒徑或擇優(yōu)取向。避免就統(tǒng)計而言沒有代表性的測量結(jié)果,。運營成本低不消耗水硅條帶探測器技術(shù),，無需使用探測器氣體近乎無限的光管使用壽命可重復(fù)使用的樣品支持器低功耗（650W）布魯克與水泥業(yè)密切合作，不斷改進其分析解決方案,。在D2PHASER方面,，我們針對水泥業(yè)提供了一個軟件包，其中包括針對10多種原材料,、熟料和不同水泥類型制定的,、供工廠應(yīng)用的測量和數(shù)據(jù)評估方法，可有效控制窯爐以及工廠的礦物學(xué),。與水泥軟件包相結(jié)合的D2PHASER非常適合小規(guī)模運營,。對于每天需要測量大量樣品的大型工廠，請參見D8ENDEAVOR,。殘余應(yīng)力分析,、織構(gòu)和極圖、微區(qū)X射線衍射,、廣角X射線散射（WAXS）,。深圳布魯克XRD衍射儀檢測

蒙脫石散及雜質(zhì)的鑒定引言蒙脫石散常見的用于用于成人及兒童急、慢性腹瀉的藥物,。蒙脫石散的主要成分為層狀結(jié)構(gòu)的粘土礦物蒙脫石,。根據(jù)中國藥典，蒙脫石散的鑒別和雜質(zhì)含量的分析的主要手段為XRD,。不論在何種應(yīng)用場合,，它都是值得您選擇的探測器：高的計數(shù)率、動態(tài)范圍和能量分辨率,。布魯克提供基于NIST標(biāo)樣剛玉（SRM1976c）整個角度范圍內(nèi)的準(zhǔn)直保證,。D8衍射儀系列平臺的D8ADVANCE，是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,，如：典型的X射線粉末衍射（XRD）對分布函數(shù)（PDF）分析小角X射線散射（SAXS）和廣角X射線散射（WAXS）珠海購買XRD衍射儀推薦咨詢D8D為藥品的整個生命周期提供支持,，包括結(jié)構(gòu)測定、候選材料鑒別,、配方定量和非環(huán)境穩(wěn)定性測試,。

D2PHASER所具備的數(shù)據(jù)質(zhì)量和數(shù)據(jù)采集速度遠超目前人們對臺式XRD系統(tǒng)的認(rèn)知,。緊湊輕便的外形和易于使用的設(shè)計，十分便于移動,，您無需準(zhǔn)備復(fù)雜的基礎(chǔ)框架,、大而笨重的工作臺，也無需供應(yīng)商前來安裝和調(diào)整,，只需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)的電源插座,，然后花費幾分鐘的時間，即可完成從拆包到獲得分析結(jié)果的過程,。D2PHASERXE-T版D2PHASER配備了獨特的LYNXEYEXE-T探測器,，已然成為同類更好的選擇！小于380eV的能量分辨率使其支持的數(shù)字單色器模式,，可有效去除——不必要的輻射,，如樣品熒光，Kβ輻射以及軔致輻射——背景散射,，而不會明顯降低檢測速度,。

X射線衍射（XRD）和反射率是對薄層結(jié)構(gòu)樣品進行無損表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE軟件將有助于您使用常見的XRD方法輕松進行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面靈敏識別及結(jié)構(gòu)性質(zhì)測定,，包括微晶尺寸和應(yīng)變,。X射線反射率測量（XRR）：用于提取從簡單的基底到高度復(fù)雜的超晶格結(jié)構(gòu)等多層樣品的厚度、材料密度和界面結(jié)構(gòu)信息,。高分辨率X射線衍射（HRXRD）：用于分析外延生長結(jié)構(gòu)：層厚度,、應(yīng)變、弛豫,、鑲嵌,、混合晶體的成分分析。應(yīng)力和織構(gòu)（擇優(yōu)取向）分析,。樣品臺的卡口座允許在測角儀上快速準(zhǔn)確地更換整個樣品臺,，較大限度地提高實驗靈活性。

對于需要探索材料極限的工業(yè)金屬樣品,，通常需要進行殘余應(yīng)力和織構(gòu)測量,。通過消除樣品表面的拉應(yīng)力或引起壓應(yīng)力,，可延長其功能壽命,。這可通過熱處理或噴丸處理等物理工藝來完成。構(gòu)成塊狀樣品的微晶的取向,，決定了裂紋的生長方式,。而通過在材料中形成特定的織構(gòu)，可顯著增強其特性,。這兩種技術(shù)在優(yōu)化制造法（例如增材制造）領(lǐng)域也占有一席之地,。由于具有出色的適應(yīng)能力，使用D8ADVANCE，您就可對所有類型的樣品進行測量：從液體到粉末,、從薄膜到固體塊狀物,。UMCy樣品臺在樣品重量和大小方面具有獨特的承載能力。上海取向檢測分析

可在數(shù)秒內(nèi),，輕松從先焦點切換到點焦點,，從而擴大應(yīng)用范圍，同事縮短重新匹配的時間,。深圳布魯克XRD衍射儀檢測

殘余應(yīng)力分析：：在DIFFRAC.LEPTOS中,，使用sin2psi法，用Cr輻射進行測量,，對鋼構(gòu)件的殘余應(yīng)力進行分析,。使用了2D檢測器的μXRD：使用DIFFRAC.EVA,測定小區(qū)域結(jié)構(gòu)特性。通過積分2D圖像,，進行1D掃描,，來進行定性相分析和微觀結(jié)構(gòu)分析。定性相分析：候選材料鑒別（PMI）為常見,，這是因為其對原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,，而這無法通過元素分析技術(shù)實現(xiàn)。高通量篩選（HTS）:在DIFFRAC.EVA中,，進行半定量分析,，以現(xiàn)實孔板上不同相的濃度。非環(huán)境XRD：在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,，然后可以在DIFFRAC.EVR中顯示結(jié)果,。小角X射線散射（SAXS）：在DIFFRAC.SAXS中，對EIGER2R500K通過2D模式手機的NISTSRM80119nm金納米顆粒進行粒度分析,。深圳布魯克XRD衍射儀檢測